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一种多通道空间分辨弯晶谱仪及其装调方法技术

技术编号:37705727 阅读:21 留言:0更新日期:2023-06-01 23:54
本发明专利技术涉及一种多通道空间分辨弯晶谱仪及其装调方法,其装调方法包括等离子体X射线辐射源的定位过程,具体包括以下步骤:S1:以可见激光照射的定位物点作为模拟等离子体X射线辐射源,调节多通道弯晶器件至可见激光反射光路上,调节分幅相机至多通道弯晶器件的像面位置;S2:通过多光路瞄准镜头确定定位物点关于多通道弯晶器件的相对位置,其中所述的多光路瞄准镜头相对于多通道弯晶器件固定设置;S3:根据多光路瞄准镜头所确定的定位物点位置,采用等离子体X射线辐射源替换定位物点,完成等离子体X射线辐射源的定位。与现有技术相比,本发明专利技术具备了时间分辨的X射线能谱测量功能同时实现了快速精准的离线装配和在线调试。实现了快速精准的离线装配和在线调试。实现了快速精准的离线装配和在线调试。

【技术实现步骤摘要】
一种多通道空间分辨弯晶谱仪及其装调方法


[0001]本专利技术属于激光等离子体诊断用X射线成像
,涉及一种多通道空间分辨弯晶谱仪及其装调方法。

技术介绍

[0002]高能量密度条件下等离子体演化过程是激光驱动和重离子驱动等可控聚变科学研究的重要内容。对等离子体在复杂环境下X射线辐射能谱的高分辨探测,借助相关的原子物理模型,是有效获取等离子体演化关键信息的重要诊断方法。具有空间分辨能力的弯晶谱仪在某些特殊需求的物理实验中具有重要的应用价值,已经被证明是开展高分辨X射线能谱测量的核心诊断设备,可以确定电子温度、电子密度、电荷态、电子能量分布和等离子体离化态等关键信息。特别是对于重离子驱动聚变实验研究,空间分辨的X射线能谱测量能提供沿离子束流停止路径方向上发生的电荷交换过程的基本信息,是研究离子

原子碰撞中的电荷交换过程的有力诊断手段。
[0003]目前常用的空间分辨弯晶谱仪(Focusing Spectrographs with Spatial Resolution,FSSR)在1977年由L.M.Belyaev等本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多通道空间分辨弯晶谱仪的装调方法,其特征在于,包括等离子体X射线辐射源的定位过程,该过程包括以下步骤:S1:以可见激光照射的定位物点(1

3)作为模拟等离子体X射线辐射源,调节多通道弯晶器件(5)至可见激光反射光路上,调节分幅相机(3)至多通道弯晶器件(5)的像面位置;S2:通过多光路瞄准镜头确定定位物点(1

3)关于多通道弯晶器件(5)的相对位置,其中所述的多光路瞄准镜头相对于多通道弯晶器件(5)固定设置;S3:根据多光路瞄准镜头所确定的定位物点(1

3)位置,采用等离子体X射线辐射源替换定位物点(1

3),完成等离子体X射线辐射源的定位。2.根据权利要求1所述的一种多通道空间分辨弯晶谱仪的装调方法,其特征在于,所述的多通道弯晶器件(5)包括多个并列设置的弯晶元件。3.根据权利要求2所述的一种多通道空间分辨弯晶谱仪的装调方法,其特征在于,步骤S1中,当弯晶元件的结构为聚焦形式时,在子午方向上,所述的定位物点(1

3)、多通道弯晶器件(5)、分幅相机(3)的相对位置关系符合聚焦公式1/a+1/b=2sinθ/R,其中a为定位物点(1

3)至弯晶元件中心的距离,b为弯晶元件中心至像面位置的距离,θ为弯晶元件中心位置的布拉格衍射角,R为弯晶元件的曲率半径。4.根据权利要求3所述的一种多通道空间分辨弯晶谱仪的装调方法,其特征在于,步骤S1中,所述的分幅相机(3)中的多个成像微带沿以定位物点(1

3)为圆心的圆弧排列,相邻成像微带中心间距记为L;在弧矢方向...

【专利技术属性】
技术研发人员:伊圣振王占山杜慧瑶
申请(专利权)人:同济大学
类型:发明
国别省市:

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