一种测试二极管结电容的集成板卡制造技术

一种测试二极管结电容的集成板卡，包括设置在板卡上的单片机，以及与单片机相连的正弦信号发生器，单片机控制正弦信号发生器产生正弦信号Ui(t)，待测试二极管的结电容Cx一端连接正弦信号Ui(t)，另一端连接运算放大器的负极输入引脚，运算放大器的负极输入引脚与输出引脚之间并联反馈电阻Rf、反馈电容Cf，运算放大器的正极极输入引脚接地；待测试二极管的结电容Cx的两端还分别连接一个滤波电容Ca1、Ca2，滤波电容Ca1、Ca2接地，由运算放大器的输出引脚得到正比于被测电容值的输出电压Uo(t)。本实用新型专利技术结构简单，体积小，便于操作，测试结果精确且效率高，能够扩大偏置电压的范围。围。围。

【技术实现步骤摘要】
一种测试二极管结电容的集成板卡


[0001]本技术涉及二极管测试领域，具体涉及一种测试二极管结电容的集成板卡。

技术介绍

[0002]结电容是二极管的一个寄生参数，可以看作是在二极管上并联的电容。在高频的应用电路中极大的影响着高频特性和开关的频率，这时就需要考虑结电容的大小，进而有利于在二极管不同的工作状态下，清楚了解结电容产生的不同效果和影响。
[0003]目前对二极管结电容的测试，主要依靠LCR测试仪来完成，然而LCR测试仪体积大，在一些空间狭小的操作台上不便使用。另外对于只需要测量二极管结电容这一项的客户来说，使用LCR测试仪成本也比较高，大多数产品所需要的直流偏置电压不同，而LCR测试仪的直流偏置电压范围小，可选择的测试产品被限制。同时，LCR测试结电容通讯命令的发出到结果的展示，对于一站的时间大约需要30ms，由于当大量批次的测试产品需要检测时，时间的缩短可以大大提高测试产品的产出，继而提高了工作效率，增加了经济价值，因此，通过LCR测试仪完成二极管结电容测试的成本相对太高。

技术实现思路

[0004]本技术的目的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试二极管结电容的集成板卡，其特征在于，包括设置在板卡上的单片机，以及与单片机相连的正弦信号发生器，单片机控制正弦信号发生器产生正弦信号Ui(t)，待测试二极管的结电容Cx一端连接正弦信号Ui(t)，另一端连接运算放大器的负极输入引脚，运算放大器的负极输入引脚与输出引脚之间并联反馈电阻Rf、反馈电容Cf，运算放大器的正极极输入引脚接地；待测试二极管的结电容Cx的两端还分别连接一个滤波电容Ca1、Ca2，滤波电容Ca1、Ca2接地，由运算放大器的输出引脚得到正比于被测电容值的输出电压Uo(t)。2.根据权利要求1所述测试二极管结电容的集成板卡，其特征在于，所述反馈电容Cf包括4.7pf，10pf，20pf，51pf的四个电容，四个电容经过继电器连接选取挡位。3.根据权利要求2所述测试二极管结电容的集成板卡，其特征在于，考虑继电器在电路中的电容，一挡位选取4.7pf的反馈电容Cf，待测试二极管的结电容Cx范围为0～30pf；二档位选取10pf的反馈电容Cf，待测试二极管的结电容Cx范围为30pf～80pf；三档选取20pf的反馈电容Cf，待测试二极管的结电容Cx范围为80pf～170pf；四档选取51pf的反馈电容Cf，待测试二极管的结电容Cx范围为170pf～470pf。4.根据权利要求1所述测试二极管结电容的集成板卡，其特征在于，所述单片机通过SPI控制正弦信号发生器得到1M频率正弦信号，通过控制数模转换器来控制输入激励信号的峰值范围为50mv～500mv，当输入激励峰峰值为50mv～25...

【专利技术属性】
技术研发人员：高三，槐新红，王煜，
申请(专利权)人：赛英特半导体技术西安有限公司，
类型：新型
国别省市：