【技术实现步骤摘要】
显示装置
[0001]本公开的示例实施例一般地涉及一种显示装置。更具体地，本公开的示例实施例涉及一种能够测量显示面板的温度的显示装置。
技术介绍
[0002]一般而言，当在显示装置执行显示操作时电流流过包括在显示面板中的像素时，每个像素的温度可能升高。这种温度升高可能改变每个像素的特性，这最终导致显示面板上的余像。为了防止由于像素中温度升高而导致的余像，显示装置可以通过根据每个像素的温度(或每个像素块的平均温度)对将要应用于像素(或像素块)的图像数据进行补偿来执行一种温度余像补偿的技术。然而，为了执行温度余像补偿，显示装置必须准确地识别每个像素的温度(或每个像素块的平均温度)。
[0003]为了实现这一点，传统的显示装置可以包括安装在显示面板的后表面上的温度传感器，以测量所有像素的温度(或所有像素块的平均温度)或测量一些像素的温度(或一些像素块的平均温度)，并且通过插值法预测其余像素的温度(或其余像素块的平均温度)。然而，由于该显示装置在显示面板的后表面上包括温度传感器，因此显示装置的制造成本可能增加，并且对于显示装置可以制造的小型化的程度可能存在限制。
[0004]另一种传统的显示装置可以采用一种技术，该技术在显示操作被执行时累积应用于每个像素(或每个像素块)的图像数据，并且基于累积的图像数据预测每个像素的温度(或每个像素块的平均温度)。然而，由于该技术不反映显示面板(例如，相同的产品)之间的特性偏差、显示面板内的像素之间的特性偏差以及显示面板操作所处的外部环境温度，因此可能无法准确识别每个像素的温
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种显示装置，其中，所述显示装置包括：显示面板，包括多个像素；显示面板驱动器，配置为驱动所述显示面板；存储器装置，配置为存储为所述显示面板设置的基准电流
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温度模型、在所述显示面板的制造阶段基于所述基准电流
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温度模型计算的所述显示面板的全局偏移以及在所述制造阶段基于所述多个像素之间的特性差异计算的所述显示面板的局部偏移；以及面板温度确定器，配置为测量当温度感测电压被施加到所述多个像素时流过所述多个像素的感测电流，通过将所述全局偏移和所述局部偏移应用于所述感测电流来计算校正感测电流，并且通过将所述校正感测电流代入所述基准电流
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温度模型来确定所述多个像素的温度。2.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述显示装置还包括：温度余像补偿器，配置为基于所述多个像素的所述温度对将要应用于所述多个像素的图像数据执行温度余像补偿。3.根据权利要求1所述的显示装置，其中，在所述制造阶段，所述显示面板的平均温度由温度感测装置来测量。4.根据权利要求3所述的显示装置，其中，在所述制造阶段，测量当所述温度感测电压被施加到所述多个像素时流过所述多个像素的多个初始感测电流，计算所述多个初始感测电流的平均值，并且将在所述基准电流
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温度模型中映射到所述平均温度的电流与所述多个初始感测电流的所述平均值之间的差确定为所述全局偏移。5.根据权利要求3所述的显示装置，其中，在所述制造阶段，测量当所述温度感测电压被施加到所述多个像素时流过所述多个像素的多个初始感测电流，计算所述多个初始感测电流的平均值，并且将所述多个初始感测电流中的每一者与所述多个初始感测电流的所述平均值之间的差确定为所述局部偏移。6.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述显示面板操作的帧包括有效时段和垂直消隐时段，并且所述面板温度确定器在所述垂直消隐时段期间执行测量所述感测电流的感测电流测量操作。7.根据权利要求6所述的显示装置，其中，所述面板温度确定器在所述垂直消隐时段期间对一个像素行执行所述感测电流测量操作。8.根据权利要求6所述的显示装置，其中，所述面板温度确定器在预设低灰度级帧中在所述垂直消隐时段期间不执行所述感测电流测量操作。9.根据权利要求8所述的显示装置，其中，所述面板温度确定器在所述帧的图像数据的最大灰度级小于基准灰度级时将所述帧确定为所述预设低灰度级帧，在所述帧的所述图像数据的最小灰度级小于所述基准灰度级时将所述帧确定为所述预设低灰度级帧，或者在所述帧的所述图像数据的平均灰度级小于所述基准灰度级时将所述帧确定为所述预设低灰度级帧。10.根据权利要求6所述的显示装置，其中，所述面板温度确定器在对所有所述多个像素的所述感测电流测量操作完成之后执行确定所述多个像素的所述温度的面板温度确定操作。11.一种显示装置，其中，所述显示装置包括：
显示面板，包括多个像素，所述多个像素被分组为多个像素块...
【专利技术属性】
技术研发人员：方成熏，潘硕奎，殷铜基，朴胜虎，李旭，
申请(专利权)人：三星显示有限公司，
类型：发明
国别省市：
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