光驱烧录方法技术

一种光驱烧录方法，首先预烧测试及推估烧录倍速的烧录功率，在光盘片的导出区搜寻空白部位，验证预烧及推估结果，读取验证烧录讯号，剔除烧录质量不佳的烧录倍速，保留烧录质量佳的作为可烧录倍速，确认烧录数据地址所需烧录倍速，由所需烧录倍速依序向下搜寻可烧录倍速，以搜寻到的可烧录倍速替代所需烧录倍速，调整至该可烧录倍速及其推估的功率，进行烧录数据，以确保烧录质量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光驱，尤其是涉及光驱烧录光盘片时，验证烧录功率测 试结果，筛选烧录倍速烧录光盘片的方法。
技术介绍
光驱通过读取头发出的激光束，投射在可烧录的光盘片上，形成凹洞或相变化等记号，造成有记号及无记号间反射光量的差异，构成0与1的数字讯号，达到记录数据的目的。因此光盘片上记号的清析度，要视激光束功率 强度及照射时间而定，照射时间又随着光盘片转速增加而减少。虽然光盘片转动速度越慢，激光束照射时间越长，形成的记号清析度较 佳，但慢速转动光盘片，将增长烧录的时间，降低光驱烧录的效能。因应光 盘片储存容量越来越大，为了缩短烧录时间，如图l所示，已知光驱的烧录过程，由主轴马达l转动光盘片2,利用一读取头3沿着光盘片2径向来回 移动，并发射一激光束投射至光盘片2上。配合光盘片2外圈移动速度较快 的特性，将光盘片2由内圈向外圈划分成几个不同的烧录倍速区，在各预设 的倍速变换地址，由低烧录倍速阶段性变化至高烧录倍速，例如2X， 4X， 6X 及8X等，使外圈的烧录速度提高，以缩短整体烧录的时间。然因制造光盘片2的厂商繁多，各家光盘片2的材料、成份及工艺上略 有差异，造成不同厂牌的光盘片2对激光束的反应不同。因而已知光盘片2 在可烧录区域的最内圈或最外圈，规划激光束功率的内圈测试区4及外圈测 试区5，提供烧录时，测试出最适合该光盘片烧录的激光束功率。已知的光 驱设定在低倍速2X的状态下，通过烧录预设的测试数据模式在内圏测试区4 或外圏测试区5,进行预烧测试，再读出预烧测试记号的讯号。评估预烧记 号的清析度，根据各记号所产生的反射光量、译码正确性、讯号强度……等 计算出一试烧质量参数(即Beta参数)，作为烧录质量好坏的参考。由试烧 质量参数选择出最佳烧录功率，即所谓最佳功率控制(Optimum Power Control,简称0PC)。为了缩短预烧测试时间，其余各高烧录倍速，再由2X烧录倍速预烧测试结果，比率推估各高倍速的烧录功率，然后进行烧录数据。 然而，已知高烧录倍速的烧录功率由低烧录倍速烧录功率的测试结果直 接推估，非经实际测试获得，导致光盘片高烧录倍速的烧录质量不易控制， 甚至烧录后可读性不佳，无法读取而浪费光盘片。如要对每一高烧录倍速进 行最佳功率控制的预烧测试，不仅需要更多的测试区，而减少光盘片有效的 储存容量，且需准备、传输及烧录各高烧录倍速的测试数据模式，增长预烧 测试时间，影响整体烧录的效率。此外，光驱无法支持所有厂牌的光盘片， 对未支持的光盘片，有限的测试数据模式，所比对出最低烧录倍速的最佳烧 录功率，也可能无法烧录出可读的质量，更何况推估出的高烧录倍速烧录功 率。因此，已知光盘片预烧测试的方法，在预烧测试结果的检查上，仍有问 题亟待解决。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种，通过验证低烧录倍速测试所 推估的结果，排除不适用的烧录倍速，以确保烧录质量。本专利技术的另一目的在于提供一种，对被排除的烧录倍速， 利用较低的烧录倍速替代，提高烧录的可读性，以减少浪费光盘片。本专利技术再一目的在于提供一种，利用直接烧录预烧测试及 推估结果，验证各烧录倍速烧录功率的适用性，避免一一测试烧录倍速，以 减少测试数据的烧录数量及所占空间。本专利技术又一目的在于提供一种，在光盘片导出区验证预烧 结果，以免影响光驱正常烧录空间及作业。为了达到前述专利技术的目的，本专利技术的，首先预烧测试及推 估烧录倍速的烧录功率，在光盘片的导出区搜寻空白部位，验证预烧及推估 结果，读取验证烧录讯号，剔除烧录质量不佳的烧录倍速，保留烧录质量佳 的作为可烧录倍速，确认烧录数据地址所需烧录倍速，由所需烧录倍速依序 向下搜寻可烧录倍速，以搜寻到的可烧录倍速替代所需烧录倍速，调整至该 可烧录倍速及其推估的功率，进行烧录数据。附图说明图1为已知光驱烧录过程的示意图。图2为光盘片数据结构的示意图。图3为本专利技术第一实施例的流程图。 图4为本专利技术第二实施例的流程图。附图符号说明Rl 开始烧录步骤R2低倍速烧录功率测试步骤R3推估各高倍速烧录功率步骤R4搜寻保留空白部位步骤R5 验证各倍速烧录功率步骤R6读取烧录质量步骤R7检查可烧录倍速步骤R8 烧录失败步骤R9 剔除验证质量不佳倍速步骤R10确认所需烧录倍速步骤Rll向下搜寻相对可烧录倍速步骤R12调整至可烧录倍速步骤R13烧录数据步骤R14结束烧录步骤Sl 开始烧录步骤S2验证保留可烧录倍速步骤S3确认烧录数据地址步骤S4搜寻相对可烧录倍速步骤S5搜寻次一可烧录倍速步骤56 烧录失败步骤57 结束烧录步骤S8调整至该倍速及推估烧录功率步骤 S9烧录数据步骤 S10监控烧录完成步骤 Sll需改变烧录倍速步骤 S12暂停烧录步骤具体实施例方式有关本专利技术为达到上述目的，所采用的技术手^a及其功效，现举较佳实施例，并结合附图加以说明如下。请参考图2,其为光盘片的数据结构的示意图。 一般圆形的光盘片，具 有螺旋形的数据轨，数据轨由光盘片中央孔附近， 一圏接一圈绕至光盘片外缘附近，由内向外依序分为内圏区10、导入区11、数据区12、导出区13 及外圈区14等区段。内圈区10、与外圈区14同用以预烧测试光盘片的最 佳烧录功率。导入区11则用以记载光盘片的数据目录及特性信息，其中包 含一些保留的空白部位，数据区12为光驱实际记录数据的位置，数据区12 之后为导出区13,作为数据记录结束的标示緩冲区，其中包含一些保留的空 白部位。本专利技术，为了实际验证外圈区14或内圈区IO预烧测试 出的最佳烧录功率及其推估高烧录倍速的烧录功率，因验证数据数量有限， 所需烧录空间不大，首先在导出区13搜寻出可烧录的保留空白部位，作为 验证区，以避免在外圈区14执行验证烧录时，影响光驱正常的烧录作业及 空间。接着依照外圈区14或内圈区IO所测试出的最佳烧录功率及其推估 各高烧录倍速的烧录功率， 一一烧录在搜寻到保留空白部位的导出区13，然 后读出各烧录讯号，检查各烧录倍速的烧录质量参数是否在预设的范围内？ 假如烧录质量参数在范围内，则表示该烧录倍速的烧录质量正常，烧录后具 有可读性，可使用该烧录倍速进行烧录。假如烧录质量参数超出范围，则表 示该烧录倍速的烧录质量不佳，无法达到可读性，应剔除该烧录倍速，烧录 时不予采用。因此，本专利技术的，进行烧录光盘片时， 一进入数据烧录位 置，由其所在的地址，确认所属预先划分的烧录倍速区，即搜寻验证认可相 对的烧录倍速，进行烧录数据。假如该相对烧录倍速的烧录质量参数，为验 证时超出范围且已被剔除的烧录倍速，依序向下搜寻较低的可烧录倍速及其 烧录功率作为替代，进行烧录数据。虽然以较慢烧录倍速烧录数据，牺牲一 点烧录时间，但可维持光盘片烧录后的可读性，以免烧录出无法读取的光盘 片，增加时间与光盘片的浪费。假如依序向下搜寻，又找不到较低的可烧录 倍速及其烧录功率可作为替代，则回报主机烧录失败，结束烧录，以免利用不适用的烧录倍速及其烧录功率烧录数据，避免浪费时间与光盘片。如图3所示，其为本专利技术第一实施例的流程图。本专利技术利 用验证低烧录倍速测试出的最佳烧录功率及其推估各高烧录倍速的烧录功率，筛选不适用的烧录倍速，执行光驱烧录的详细步骤如下首先在步骤R1 启动光驱开始进行烧录光盘片，进入步骤R2利用光驱已预设的最低烧本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光驱烧录方法，其步骤包含：　（１）预烧测试及推估烧录倍速的烧录功率；　（２）验证预烧及推估结果，保留可烧录倍速；　（３）确认烧录数据地址所需烧录倍速；　（４）由所需烧录倍速依序向下搜寻可烧录倍速；　（５）以搜寻到的可烧录倍速替代所需烧录倍速，调整至该可烧录倍速及其推估的功率；以及　（６）进行烧录数据。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈世国，许锦发，朱修明，
申请(专利权)人：广明光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]