烧录功率调整方法技术

一种烧录功率调整方法，首先设定需改变烧录速度地址及区段暂停点地址，在内圈测试区以最低倍速测试烧录功率，推估各高倍速烧录功率，依序烧录正常烧录数据，监控烧录，烧录完成则结束烧录，未烧录完成则再监控改变烧录速度，如否则继续烧录，如是则暂停烧录以改变烧录速度，依推估烧录功率继续烧录正常烧录数据及进行区段烧录功率测试，以获得区段最佳烧录功率，最后调整至该最佳烧录功率，继续烧录剩余正常烧录数据，以提升烧录品质。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种，特别是涉及当光驱在切换烧录倍速 时，经由测试烧录功率，确保烧录品质的。
技术介绍
可烧录型的光盘一般是藉由读取头发出的激光束，照射在光盘上形成凹洞或相变形等记号，造成有记号及无记号间反射光量的差异，形成G与1的 数字信号，达到记录数据的目的。因此，光盘上记号的清析度，端视激光束 所用的功率及照射时间而定。虽然光盘固定线性转动速度及转动速度越慢，激光束照射时间越长，所 形成的记号具有较佳的清析度且一致性。但慢速转动，会增长烧录的时间， 降低光驱烧录的效能。为了缩短烧录时间，如图1所示，目前现有光盘的烧 录过程，是由主轴马达1转动光盘2，利用一读取头3沿着光盘2径向来回 移动，并发射一激光束投射至光盘2上。根据转动的特性，将光盘2由内圈 向外圈划分几个不同的烧录倍速区域，由低倍速阶段性变化至高倍，例如 2X， 4X， 6X及8X等，使外圈的烧录速度提高，以缩短整体烧录的时间。然因制造光盘2的厂商繁多，各家光盘2的材料、成份及工艺上略有差 异，造成不同厂牌的光盘2对激光束的反应不同。因而现有光盘2在内圈数 据区的开头，规划一激光束功率测试区4，在低倍速2X的状态下，藉由不同 的烧录功率及不同长度的记号的预定测试数据与模式，进行测试烧录，接着 读出烧录记号。为了评估所读出各种烧录记号的清析度，根据各记号所产生 的反射光量、解码正确性、信号强度……等计算出一试烧品质参数(即Beta 参数)，作为烧录品质好坏的比较参考。由试烧品质参数选择适用于该光盘的 最佳烧录功率，即所谓最佳功率控制(Optimum Power Control,简称0PC), 并由2X倍速推估各高倍速的烧录功率，然后进行正常lt据的烧录。然而，高倍速的烧录功率是由低倍速所测试的烧录功率直接推估，非经 实际烧录获得，导致光盘高倍速烧录的品质不易控制。如要在每一高倍速区进行最佳功率控制的测试，不仅需要在每一高倍速区空出测试区，而减少光 盘的存储容量，且需准备及传输各高倍速的测试数据与模式，中断正常数据 烧录，切换烧录区域，数据存取间容易造成烧录数据移失，同时增长烧录时 间，影响烧录的效率。因此，现有光盘的烧录方法，在烧录功率的调整上， 仍有问题亟待解决。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种，藉由在各烧录倍速中， 直接进行烧录功率测试，调整最佳的烧录功率，以确保烧录品质。本专利技术另一目的在于提供一种，以正常烧录的数据， 测试各烧录倍速的烧录功率，确保正常烧录数据不移失及维持光盘的存储容量。本专利技术再一目的在于提供一种，利用小区段的烧录功 率调整测试，可实时准确地控制及获得较佳的烧录功率，以避免增加烧录时 间。为了达到前述专利技术的目的，本专利技术的，首先设定需改 变烧录倍速地址及区段暂停点地址，在内圈测试区以最低倍速测试烧录功率， 及推估各高倍速烧录功率，依序烧录正常烧录数据，监控烧录完成正常烧录 数据，烧录完成则结束烧录，未烧录完成，则再监控需要改变烧录倍速的地 址，如否则继续烧录，如是则暂停烧录以改变烧录速度，依推估烧录功率继— 续烧录正常烧录数据及进行区段烧录功率测试，以获得区段最佳烧录功率， 最后调整至该最佳烧录功率，继续烧录剩余正常烧录数据。本专利技术的，在进行区段烧录功率测试时，先设定区段 包含多个小区段及暂停点，区段的第一小区段烧录功率测试，是依推估烧录 功率继续烧录正常烧录数据，烧录至小区段的暂停点地址暂停烧录，回头读 取区段烧录的品质，再根据读取的烧录品质，以预定变量调整烧录功率，作 为下一小区段的烧录功率，进行烧录功率测试，以逼近取得较佳的烧录功率。附图说明图1为现有光盘烧录过程的示意图。图2为本专利技术第一实施例光盘烧录过程的示意图。5图3为本专利技术第一实施例光盘烧录过程的流程图。图4为本专利技术第二实施例光盘烧录过程的示意图。 图5为本专利技术第二实施例光盘烧录过程的流程图。 附图符号说明1主轴马达2光盘3读耳又头4测试区Pl开始烧录步骤P2内圈低倍速烧录功率测试步骤P3推估各高倍速烧录功率步骤P4进行烧录步骤P5监控烧录完成步骤P6结束烧录步骤P7需改变烧录倍速步骤P8暂停烧录步骤P9改变烧录速度步骤P10依推估值调整烧录功率步骤Pll区段烧录功率测试步骤P12调整至最佳烧录功率步骤Sl暂停烧录步骤S2改变烧录速度步骤S3依推估值调整烧录功率步骤S4小区段烧录功率测试步骤S5监控至暂停点步骤S6读取烧录品质步骤S7依烧录品质调整烧录功率步骤S8侦测区段测试完成步骤S9进行烧录步骤。具体实施方式所采用的技术手段及其功效，兹举较佳实 施例，并配合附图加以说明如下。请参考图2,为本专利技术第一实施例烧录功率的调整过程。本专利技术烧录的 光盘，由内圈至外圈预先设定规划为多个不同的固定烧录倍速区，由低倍速 阶段性变化至高倍，例如2X， 4X, 6X及8X等，该倍速区的相邻改变地址， 可由例如光盘在等角转速(Constant Angular Velocity)时，轨迹在不同半径 位置，所生摆动信号(Wobbed Signal)的快慢，加以设定画分。在光盘内圈数 据区的开头的激光束功率测试区T。，本专利技术沿用先前技术最佳功率控制的方 法，在低倍速2X转动下，利用预设的测试数据与模式测试烧录功率，以实际 测得低倍速2X最佳功率。再利用2X倍速实际测得的最佳功率，推估各高倍 速的烧录功率。由于此推估的方式，是根据以往光盘的使用经验作为基础， 所推估出的烧录功率，虽大致落在可接受的范围，但无法确保一定可获得较 好的烧录品质。由于该烧录功率推估值，已缩小最佳烧录功率的所在范围，仅需小范围 几次上下调整推估值，即可获得较佳的烧录功率。并不需大费周章如同内圈 测试区，以较大的测试区，将预设的测试数据与模式整个烧录，进行比对测 试，以求出最佳烧录功率。因此，本专利技术在切换烧录倍速时，可利用该烧录 功率推估值为基础，在各烧录倍速区开头预设一小范围的区段，如T至L, 以预设的变量上下几次调整推估值，依序直接继续烧录正常烧录数据，作为 烧录功率测试。不需过久中断正常烧录，以烧录繁多的测试数据，浪费光盘 的存储容量及等待时间。本专利技术监控烧录至区段预设的暂停地址时，再中断 烧录，读取前述区段内各记号的烧录品质，并根据烧录品质，比较出最佳的 烧录功率，作为该烧录倍速的烧录功率，进行调整烧录功率，然后继续烧录 剩余的烧录数据，确保后续烧录的数据可获得较佳的烧录品质。如图3所示，为本专利技术第一实施例的流程图，其根据 推估值在各烧录倍速中，实际进行烧录功率测试，调整至最佳的烧录功率， 以提升烧录品质的详细步骤说明如下当本专利技术，当步骤P1开始进行光盘烧录时，首先设定 光盘由内圈至外圈多个不同的固定烧录倍速区，由低倍速阶段性变化至高倍 速的分界地址所在，以及由倍速分界地址开始的小范围测试区段的暂停点地 址所在。接着进入步骤P2，在光盘内圈数据区的开头，利用预设的测试数据与模式，以最低倍速实际测试烧录功率，以获得最低倍速的最佳烧录功率。 在步骤P3根据最低倍速实际测得最佳烧录功率，推估出各高倍速区烧录功率。再进入步骤P4，由最内圈的最低倍速区，将所需烧录的正常数据，依序烧录至光盘上。烧录中持续进行烧录监控，在步骤P5监控正常数据是否烧录完成？假如 烧录完成，则至步骤P6结束烧录的动作，否本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种烧录功率调整方法，其步骤包含：　（１）设定需改变烧录速度地址及区段暂停点地址；　（２）在内圈测试区以最低倍速测试烧录功率，及推估各高倍速烧录功率；　（３）依序烧录正常烧录数据；　（４）监控正常烧录数据是否烧录完成？假如烧录完成，则结束烧录，假如未完烧录完成，则进入下一步骤；　（５）监控是否已到达需要改变烧录倍速的地址？如否则回至步骤（３）继续烧录，如是则进入下一步骤；　（６）暂停烧录以改变烧录速度；　（７）依推估烧录功率继续烧录正常烧录数据及进行区段烧录功率测试，以获得区段最佳烧录功率；以及　（８）调整至该最佳烧录功率，回至步骤（３）继续烧录剩余正常烧录数据。

【技术特征摘要】
1. 一种烧录功率调整方法，其步骤包含(1)设定需改变烧录速度地址及区段暂停点地址；(2)在内圈测试区以最低倍速测试烧录功率，及推估各高倍速烧录功率；(3)依序烧录正常烧录数据；(4)监控正常烧录数据是否烧录完成？假如烧录完成，则结束烧录，假如未完烧录完成，则进入下一步骤；(5)监控是否已到达需要改变烧录倍速的地址？如否则回至步骤(3)继续烧录，如是则进入下一步骤；(6)暂停烧录以改变烧录速度；(7)依推估烧录功率继续烧录正常烧录数据及进行区段烧录功率测试，以获得区段最佳烧录功率；以及(8)调整至该最佳烧录功率，回至步骤(3)继续烧录剩余正常烧录数据。2. 依据权利要求1所述的烧录功率调整方法，其中，该步骤(2)是利用预 设的测试数据与模式，在内圈测试区以最低倍速测试烧录功率。3. 依据权利要求1所述的烧录功率调整方法，其中，该步骤(3)是由最内 圈的最低倍速区至最外圈的高倍速区，依序烧录正常烧录数据。'4. 依据权利要求1所述的烧录功率调整方法，其中，该步骤(5)需要改变 烧录倍速的地址为各倍速的分界地址。5. 依据权利要求1所述的烧录功...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈世国，许锦发，陈明弘，朱修明，
申请(专利权)人：广明光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]