【技术实现步骤摘要】
一种LED驱动芯片测试系统
[0001]本专利技术涉及LED驱动芯片测试相关制品领域,具体为一种LED驱动芯片测试系统。
技术介绍
[0002]目前,半导体照明用LED芯片封装生产工序主要有固晶、焊线、点胶、烘烤、外观检测、编带和包装。在各生产工序的生产过程中,由于异物污染或生产故障,容易导致LED芯片引入不同种类的缺陷,造成LED芯片的功能故障以及产品质量的下降。因此为保证产品质量,就需要通过外观检测将有缺陷的LED芯片及时发现并从生产线上挑选出来,以提高产品质量。传统的LED外观检测工艺以人工检测方法为主,自动化程度较差,检测效率低,并且容易造成误检和漏检,也无法及时将检测数据送入生产数据库进行质量管理。
技术实现思路
[0003]本专利技术的目的在于提供一种LED驱动芯片测试系统,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0004]为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:一种LED驱动芯片测试系统,包括中央处理器、图像采集系统、图像处理系统与图像输出系统,其特征在于:所述图像采集系统与图像处理系统 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种LED驱动芯片测试系统,包括中央处理器、图像采集系统、图像处理系统与图像输出系统,其特征在于:所述图像采集系统与图像处理系统的输入端连接,所述图像处理系统的输出端与中央处理器的输入端连接,所述中央处理器的输出端与图像输出系统的输入端连接。2.根据权利要求1所述的一种LED驱动芯片测试系统,其特征在于:所述图像采集系统包括CMOS相机与图像采集模块,所述CMOS相机对待测试芯片进行摄录,所述图像采集模块对摄录图像进行采集。3.根据权利要求1所述的一种LED驱动芯片测试系统...
【专利技术属性】
技术研发人员:李熙穆,李红梅,张乐,张黎英,
申请(专利权)人:广东省俪斯洛智能家居科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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