【技术实现步骤摘要】
一种光程差分布测试装置与方法
[0001]本专利技术属于光学测量
，涉及一种光程差分布测试装置与方法。
技术介绍
[0002]双折射现象在光学材料中普遍存在，当光束通过双折射测量后，在两个主偏振方向上的分量将存在光程差，基于此原理可用于制作具有一定相位延迟的波片，比如，广泛应用的石英波片。铌酸锂、KDP、KTP、RTP等电光晶体还具有电光效应，施加电压后可以改变双折射大小，使晶体在不同相位延迟的波片状态之间转换，被广泛应用于制作电光调Q器件。
[0003]在波片制作和RTP、KTP晶体调Q开关的制备过程中需要精确测定其光程差，目前的测试方法主要有1/4波片法等，但是这些测试方法得到的光程差通常为一定区域的平均光程差，无法反映整个通光区域的细致分布情况。
[0004]整个通光区域的光程差分布信息对于波片和调Q开关的制备非常重要，这可以反映波片的光程差均匀性，以及确保RTP、KTP晶体开关在整个通光区域的精确配对。此外，对于铌酸锂、KDP晶体，以及玻璃等材料，在特定通光方向或各个方向为各向同性测量，但是由于...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光程差分布测试装置，其特征在于，沿光束传播方向依次包括：激光器(1)、起偏镜(2)、扩束镜(3)、样品台(4)、1/4波片(7)、偏振相机(8)；所述激光器(1)用于产生单波长激光光束，所述起偏镜(2)用于将光束转换为线偏振光，所述扩束镜(3)将用于光束直径扩大，扩大其检测区域，所述样品台(4)用于放置样品(5)，样品(5)的主轴方向与起偏方向呈45
°
角，所述1/4波片(7)的波长与激光波长相适应，主轴方向与起偏方向平行或垂直，所述偏振相机(8)的探测波长与激光器(1)的波长相适应，可获取每个像素点偏振方向信息。2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，当样品(5)的横截面尺寸大于相机感光面尺寸一定程度时，在样品台(4)与1/4波片(7)之间还设置缩束镜(6)，用于将光束直径变小。3.如权利要求2所述的装置，其特征在于，所述起偏器(2)的偏振方向设置为水平、竖直或者45
°
方向。4.如权利要求3所述的装置，其特征在于，所述1/4波片(7)的主轴方向与起偏器(2)方向平行或垂直。5.一种基于如权利要求4所述装置实现的光程差分布测试方法。6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、搭建好测试装置，放...
【专利技术属性】
技术研发人员：梁松林，牛瑞华，张辉荣，杨永强，郭春艳，罗辉，
申请(专利权)人：西南技术物理研究所，
类型：发明
国别省市：
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