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本发明涉及一种光程差分布测试装置与方法，属于光学测量技术领域。本发明提供的光程差分布测试方法可获得材料整个通光区域的光程差分布信息，可应用于：波片相位延迟分布及其均匀性测量，RTP、KTP晶体光程差分布测量，用于指导晶体的精确配对，可适用于...
该专利属于西南技术物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过西南技术物理研究所授权不得商用。

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