一种精确寻靶系统技术方案

技术编号:37670439 阅读:15 留言:0更新日期:2023-05-26 04:31
本发明专利技术公开了一种精确寻靶系统,包括以下步骤:步骤S1:将靶标模具放置在对应的指定安装区域,其中靶标模具上设有至少四个定位靶标;步骤S2:根据3D模具图形中定位靶标的定位信息,得到靶标模具中定位靶标的模糊坐标,激光发射装置发射激光信号向定位靶标的模糊坐标附近扫描定位靶标,确认标靶的清晰坐标;步骤S3:获取各标靶的清晰坐标后,校准3D模具图形中定位靶标的定位信息,得到精确定位的靶标模具。本发明专利技术提供的一种精确寻靶系统,本申请先将靶标模具放置在指定安装区域,通过激光发射装置发送激光信号扫描定位靶标,通过定位靶标结接收激光信号并发出定位信号至控制主机,可以确认定位靶标的清晰坐标。可以确认定位靶标的清晰坐标。可以确认定位靶标的清晰坐标。

【技术实现步骤摘要】
一种精确寻靶系统


[0001]本专利技术涉及属于寻靶系统领域,具体涉及一种精确寻靶系统。

技术介绍

[0002]在生产过程中,很多不规则的3D零件在加工过程中,在不同工序需要对铺设位置给出标记引导,便于工人精准铺放,可以利用若干振镜将激光器投射的轮廓线反射到工件上,完成3D零件生成过程中辅助工作。但是在生产过程中,零件(三维型腔)时刻因为震动、热变形和合模等加工过程中反复翻转等原因发生位姿变化与微小形变,因此,需要准确地定位3D零件的位置,而准确地定位3D零件的位置则需要精确地定位3D零件上的定位靶标。因此,精确寻靶是极为重要的。
[0003]但是目前现有技术中定位靶标多为反光镜,其寻靶过程是通过激光发射器扫描,通过镜子发射并被激光接收器接收,从而确认定位靶标的位置,通过多个定位靶标的确认可以确认3D零件的精确定位。但是,通过反光镜的反射容易受到安装角度的影响,使得反射角度的误差导致激光接收出现偏差,从而导致寻靶的精确度不足。

技术实现思路

[0004]为解决现有技术存在的不足,本专利技术提供了一种精确寻靶系统。
[0005]为实现上述目的,本专利技术提供了以下技术方案:
[0006]一种精确寻靶系统,包括以下步骤:
[0007]步骤S1:将靶标模具放置在对应的指定安装区域,其中靶标模具上设有至少四个定位靶标,并将靶标模具对应的3D模具图形导入到控制主机中,其中3D模具图形中设有与定位靶标一一对应的定位信息;
[0008]步骤S2:根据3D模具图形中定位靶标的定位信息,得到靶标模具中定位靶标的模糊坐标,激光发射装置发射激光信号向定位靶标的模糊坐标附近扫描定位靶标,定位靶标接收到激光信号后反馈定位信号至控制主机,确认标靶的清晰坐标;
[0009]步骤S3:获取各标靶的清晰坐标后,将靶标模具中标靶的清晰坐标与3D模具图形中定位靶标的定位信息一一对比,校准3D模具图形中定位靶标的定位信息,得到精确定位的靶标模具。
[0010]进一步地,所述激光信号向靶标模具中定位靶标的模糊坐标附近进行第一次扫描,待定位靶标接收到激光信号并反馈初步定位信号至控制主机,停止第一次扫描,得到初步清晰坐标;
[0011]所述激光发射装置发射校准信号向得到的初步清晰坐标处进行第二次扫描,若定位靶标接收到校准信号并反馈定位信号至控制主机,则可以得到并确认标靶的清晰坐标;若控制主机不能接收定位靶标反射的的校准信号,则重新进行第一次扫描,重新校正并确认初步清晰坐标。
[0012]进一步地,所述激光信号通过螺旋扫描的方式向靶标模具中定位靶标的模糊坐标
附近进行第一次扫描,其中螺旋扫描以靶标模具中定位靶标的模糊坐标为中心开始扫描,且螺旋扫描的螺旋螺距逐渐变大,直至定位靶标接收到激光信号并反馈初步定位信号至控制主机停止第一次扫描。
[0013]进一步地,所述校准信号通过直线扫描的方式向靶标模具中定位靶标的初步清晰坐标进行第二次扫描,当定位靶标接收到校准信号并反馈定位信号至控制主机,则可以得到并确认标靶的清晰坐标。
[0014]进一步地,所述精确寻靶系统还包括网关,网关通过串口、以太网或WiFi中的一种方式与控制主机双向通讯连接,定位靶标为基于LORAWAN协议的激光识别装置,定位靶标通过LORA的方式与网关双向通讯连接。
[0015]本专利技术公开的一种精确寻靶系统,与现有技术相比,其有益效果在于,本申请先将靶标模具放置在指定安装区域,由于安装的差异性容易导致激光发射装置与靶标模具的相对位置关系与设定的有所差异,通过激光发射装置发送激光信号扫描定位靶标,通过定位靶标结接收激光信号并发出定位信号至控制主机,可以确认定位靶标的清晰坐标,即可得到并修正激光发射装置与靶标模具的相对位置关系,从而进行下一步地加工。
附图说明
[0016]图1是本专利技术提供的精确寻靶系统的流程框图。
具体实施方式
[0017]本专利技术公开了一种精确寻靶系统,下面结合优选实施例,对本专利技术的具体实施方式作进一步描述。
[0018]参见附图的图1,图1是本专利技术提供的精确寻靶系统的流程框图。
[0019]优选实施例。
[0020]本实施例提供了一种精确寻靶系统,包括以下步骤:
[0021]步骤S1:将靶标模具放置在对应的指定安装区域,其中靶标模具上设有至少四个定位靶标,并将靶标模具对应的3D模具图形导入到控制主机中,其中3D模具图形中设有与定位靶标一一对应的定位信息;
[0022]步骤S2:根据3D模具图形中定位靶标的定位信息,得到靶标模具中定位靶标的模糊坐标,激光发射装置发射激光信号向定位靶标的模糊坐标附近扫描定位靶标,定位靶标接收到激光信号后反馈定位信号至控制主机,确认标靶的清晰坐标;
[0023]步骤S3:获取各标靶的清晰坐标后,将靶标模具中标靶的清晰坐标与3D模具图形中定位靶标的定位信息一一对比,校准3D模具图形中定位靶标的定位信息,得到精确定位的靶标模具。
[0024]进一步地,所述激光信号向靶标模具中定位靶标的模糊坐标附近进行第一次扫描,待定位靶标接收到激光信号并反馈初步定位信号至控制主机,停止第一次扫描,得到初步清晰坐标;
[0025]所述激光发射装置发射校准信号向得到的初步清晰坐标处进行第二次扫描,若定位靶标接收到校准信号并反馈定位信号至控制主机,则可以得到并确认标靶的清晰坐标;若控制主机不能接收定位靶标反射的的校准信号,则重新进行第一次扫描,重新校正并确
认初步清晰坐标。
[0026]激光发射装置先向定位靶标的模糊坐标的附近发射激光信号进行第一次扫描,当扫描到定位靶标后,初步确认定位靶标的位置,定位靶标接收到激光信号并反馈初步定位信号至控制主机,并得到定位靶标的初步清晰坐标;激光发射装置再向定位靶标的初步清晰坐标发射校准信号再进行第二扫描,当扫描到定位靶标时,则可以直接确认定位靶标的位置,定位靶标接收到激光信号并反馈定位信号至控制主机,并得到定位靶标的清晰坐标,即控制主机得到靶标的准确位置信息。
[0027]进一步地,所述激光信号通过螺旋扫描的方式向靶标模具中定位靶标的模糊坐标附近进行第一次扫描,其中螺旋扫描以靶标模具中定位靶标的模糊坐标为中心开始扫描,且螺旋扫描的螺旋螺距逐渐变大,直至定位靶标接收到激光信号并反馈初步定位信号至控制主机停止第一次扫描。
[0028]激光发射装置发射激光信号向靶标模具中定位靶标的模糊坐标附近进行第一次扫描,激光信号通过螺旋扫描的方式逐步地扩大扫描区域,能够准确地寻找到定位靶标,并确认定位靶标的初步清晰坐标。
[0029]进一步地,所述校准信号通过直线扫描的方式向靶标模具中定位靶标的初步清晰坐标进行第二次扫描,当定位靶标接收到校准信号并反馈定位信号至控制主机,则可以得到并确认标靶的清晰坐标。
[0030]激光发射装置发射校准信号向得到的初步清晰坐标进行第二次扫描,当定位靶标可以接收到校准信号,并反馈定位信号至控制主机,则初步清晰坐标即可以确本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种精确寻靶系统,用于精确定位不规则的靶标模具,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1:将靶标模具放置在对应的指定安装区域,其中靶标模具上设有至少四个定位靶标,并将靶标模具对应的3D模具图形导入到控制主机中,其中3D模具图形中设有与定位靶标一一对应的定位信息;步骤S2:根据3D模具图形中定位靶标的定位信息,得到靶标模具中定位靶标的模糊坐标,激光发射装置发射激光信号向定位靶标的模糊坐标附近扫描定位靶标,定位靶标接收到激光信号后反馈定位信号至控制主机,确认标靶的清晰坐标;步骤S3:获取各标靶的清晰坐标后,将靶标模具中标靶的清晰坐标与3D模具图形中定位靶标的定位信息一一对比,校准3D模具图形中定位靶标的定位信息,得到精确定位的靶标模具。2.根据权利要求1所述的精确寻靶系统,其特征在于,所述激光信号向靶标模具中定位靶标的模糊坐标附近进行第一次扫描,待定位靶标接收到激光信号并反馈初步定位信号至控制主机,停止第一次扫描,得到初步清晰坐标;所述激光发射装置发射校准信号向得到的初步清晰坐标处进行第二次扫描,若定位靶标接...

【专利技术属性】
技术研发人员:谢贤军王勇
申请(专利权)人:辛帕智能科技平湖有限公司
类型:发明
国别省市:

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