一种光学器件测试治具制造技术

本发明专利技术旨在提供一种结构简单，便于取放产品，不会对产品造成损伤的光学器件测试治具。本发明专利技术包括盒体、针块模组以及定位模组，所述针块模组和所述定位模组均设置在所述盒体上，所述定位模组包括定位块和压块，所述压块转动配合在所述定位块上，待测试产品放置在所述定位块上，所述压块压制在待测试产品上，所述针块模组和所述定位块可拆卸连接后所述针块模组的作用端与待测试产品的信号端相接触。本发明专利技术应用于电子产品测试技术领域。明应用于电子产品测试技术领域。明应用于电子产品测试技术领域。

【技术实现步骤摘要】
一种光学器件测试治具


[0001]本专利技术应用于电子产品测试
，特别涉及一种光学器件测试治具。

技术介绍

[0002]在光学元器件测试中，需要对产品进行定位、供电及信号引出，而光学元器件产品具有尺寸小、结构特殊、外观要求较高、对测试位置变化敏感等特点。因此，要求产品载具定位精度高、取放方便，不易损伤产品。但是，现有测试载具大多采用产品仿形槽定位和固定产品，此方案定位精度过度依赖仿形槽零件加工精度，零件加工难度高，仿形槽尺寸接近产品尺寸，使产品取放不方便，并且在取放产品的过程中容易擦伤产品，光学产品对外观要求较高，受到擦伤将对测试结果产生较大的影响。
[0003]现有一公开号为CN209821238U的专利文献提出了一种PCBA软硬结合板测试治具，其包括针板组件和连接在针板组件下方的载板组件，针板组件设有用于限制探针的探针约束块，探针穿过探针约束块与待测产品的检测点电连接；载板组件包括通用固定板和可拆卸安装在通用固定板上的产品放置板，产品放置板上设置有与待测试产品形状相适应的工装仿形槽。由此可见，该测试治具采用了工装仿形槽对产品进本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学器件测试治具，它包括盒体、针块模组（1）以及定位模组（2），所述针块模组（1）和所述定位模组（2）均设置在所述盒体上，其特征在于：所述定位模组（2）包括定位块（3）和压块（4），所述压块（4）转动配合在所述定位块（3）上，待测试产品（5）放置在所述定位块（3）上，所述压块（4）压制在待测试产品（5）上，所述针块模组（1）和所述定位块（3）可拆卸连接后所述针块模组（1）的作用端与待测试产品（5）的信号端相接触。2.根据权利要求1所述的一种光学器件测试治具，其特征在于：所述定位块（3）上设置有定位槽（6）和第一磁铁（7），待测试产品（5）的头部适配在所述定位槽（6）中，待测试产品（5）的尾部磁吸在所述第一磁铁（7）上。3.根据权利要求1所述的一种光学器件测试治具，其特征在于：所述定位块（3）上还设置有若干块第二磁铁（8），所述压块（4）磁吸在所述第二磁铁（8）上。4.根据权利要求1所述的一种光学器件测试治具，其特征在于：所述针块模组（1）包括载具主体（9）、安装块（10）以及针块组件（11），所述安装块（10）设置在所述载具主体（9）上，所述针块组件（11）设置在所述安装块（10）上，所述针块组件（11）的作用端与待测试产品（5）的信号端相接触。5.根据权利要求4所述的一种光学器件测试治具，其特征在于：所述针块组件（11）包括第一针块（12）、第二针块（13）、PCB软板（14）以及若干根探针（15），所述载具主体（9）上设置有若干根转接铜柱（16），所述第一针块（12）设置在所述安装块（10）上，所述第二针块（13）设置在所述第一针块（12）上，所述探针（15）依次穿过所述第二针块（13）和所述第一针块（12）后与所述PCB软板（14）上的一端相连接，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨烈然，梁祖荣，梁可，吴常林，
申请(专利权)人：珠海市运泰利自动化设备有限公司，
类型：发明
国别省市：