本申请属于电子检测领域，提供了一种电容凸底检测电路及电容检测装置，通过采样电路与待测电容器的两端连接，对待测电容器的电压进行采样以输出电压采样信号，然后由稳态电路对电压采样信号进行稳压处理以输出稳态电压信号，由信号比较电路将接入的稳态电压信号与预设阈值电压相比较，根据比较结果输出差动比较信号，最后通过显示电路根据差动比较信号指示电容凸底检测结果，从而实现对待测电容器的检测，本申请可以根据待测电容器的实际等效阻值调整采样电路，并设置对应的预设阈值电压，从而达到提高电容测量的精度的目的。而达到提高电容测量的精度的目的。而达到提高电容测量的精度的目的。
【技术实现步骤摘要】
一种电容凸底检测电路及电容检测装置
[0001]本申请属于电子检测领域，尤其涉及一种电容凸底检测电路及电容检测装置。
技术介绍
[0002]现有技术中多使用光电传感器检测电容凸底，其光电传感器主要通过感应自身投射的受光量，实现非接触式的检测物体的有无的一类传感器，光电传感器主要依靠发射光束和反馈光线，用以检测物品、设备存在与否以及表面状况凹凸变化，当发射的光受到物体遮挡或者反射时，接收器会测量光图案的变化，以此判断凸底状况。
[0003]当用于电容器底部状况检测时，若电容器底部存在凸出部分，光电传感器发射光速则会被遮挡；当电容器底部正常时，则会反射回来，测量精度低，电容底部凸出0.5mm才能检测。
技术实现思路
[0004]本申请实施例提供了一种电容凸底检测电路及电容检测装置，旨在解决电容凸底测量精度低的问题。
[0005]本申请实施例的第一方面提供了一种电容凸底检测电路，包括：
[0006]采样电路，与待测电容器的两端连接，用于对待测电容器的电压进行采样以输出电压采样信号；
[0007]稳态电路，与所述采样电路连接，用于对电压采样信号进行稳压和降压处理，以输出稳态电压信号；
[0008]信号比较电路，与所述稳态电路连接，用于将接入的稳态电压信号与预设阈值电压相比较，根据比较结果输出差动比较信号；
[0009]显示电路，与所述信号比较电路连接，用于接收所述差动比较信号，并根据所述差动比较信号指示电容凸底检测结果。
[0010]在一个实施例中，所述采样电路包括保险电阻和测试头；
[0011]所述测试头的第一引脚与所述待测电容器的第一端连接，所述测试头的第二引脚以及所述保险电阻的第一端共接所述待测电容器的第二端，所述保险电阻的第二端接供电端口。
[0012]在一个实施例中，所述稳态电路包括：
[0013]降压模块，与所述采样电路连接，用于对所述电压采样信号进行降压处理；
[0014]稳压模块，与所述降压模块和所述信号比较电路连接，用于对所述电压采样信号进行稳压处理，输出所述稳态电压信号。
[0015]在一个实施例中，所述稳压模块包括：稳压二极管；所述稳压二极管的阴极与所述降压模块连接，所述稳压二极管的阳极接地。
[0016]在一个实施例中，所述降压模块包括第一电阻；所述第一电阻的第一端与所述采样电路连接，所述第一电阻的第二端与所述稳压模块连接。
[0017]在一个实施例中，所述信号比较电路包括：差动放大器和外接电源；其中，
[0018]所述差动放大器的反向输入端与所述稳态电路连接；
[0019]所述差动放大器的正向输入端与所述外接电源连接；
[0020]所述差动放大器的输出端与所述显示电路连接。
[0021]在一个实施例中，所述显示电路包括：发光二极管；所述发光二极管的第一端与所述信号比较电路连接；所述发光二极管的第二端接地。
[0022]在一个实施例中，所述显示电路还包括第二电阻，所述第二电阻的第一端与所述发光二极管的第二端连接；所述第二电阻的第二端接地。
[0023]在一个实施例中，所述保险电阻为可变电阻。
[0024]本申请实施例的第二方面提供了一种电容检测装置，电容检测装置包括如上述任意一项的电容凸底检测电路。
[0025]本申请实施例与现有技术相比存在的有益效果是：
[0026]通过采样电路与待测电容器的两端连接，用于对待测电容器的电压进行采样以输出电压采样信号，然后稳态电路与采样电路连接，用于对电压采样信号进行稳压处理，以输出稳态电压信号，然后信号比较电路，与稳态电路连接，用于将接入的稳态电压信号与预设阈值电压相比较，根据比较结果输出差动比较信号；最后显示电路与信号比较电路连接，用于接收差动比较信号，并根据差动比较信号指示电容凸底检测结果；本申请可以根据待测电容器的实际等效阻值调整采样电路，并设置对应的预设阈值电压，从而达到提高电容测量的精度的目的，并降低电路内部损耗，且提升检测信号的稳定性。
附图说明
[0027]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0028]图1是本申请一实施例提供的一种电容凸底检测电路模块示意图；
[0029]图2是本申请一实施例提供的一种稳态电路内部模块示意图；
[0030]图3是本申请一实施例提供的另一种电容凸底检测电路结构原理示意图。
具体实施方式
[0031]为了使本申请所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
[0032]需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。
[0033]需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有
特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。
[0034]此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0035]现有技术中多使用光电传感器检测电容凸底，其光电传感器主要通过感应自身投射的受光量，实现非接触式的检测物体的有无的一类传感器，光电传感器主要依靠发射光束和反馈光线，用以检测物品、设备存在与否以及表面状况凹凸变化，当发射的光受到物体遮挡或者反射时，接收器会测量光图案的变化，以此判断凸底状况。
[0036]当用于电容器底部状况检测时，若电容器底部存在凸出部分，光电传感器发射光速则会被遮挡；当电容器底部正常时，则会反射回来，测量精度低，电容底部凸出0.5mm才能检测。
[0037]为了解决上述电容凸底测量精度低的问题，参阅图1所示，图1是本申请一实施例提供的一种电容凸底检测电路模块示意图；本申请实施例的第一方面提供了一种电容凸底检测电路，包括：采样电路11、稳态电路21、信号比较电路31以及显示电路41。
[0038]具体的，采样电路11用于与待测电容器51的两端连接，采样电路11用于对待测电容器51的电压进行采本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电容凸底检测电路，其特征在于，包括：采样电路，与待测电容器的两端连接，用于对待测电容器的电压进行采样以输出电压采样信号；稳态电路，与所述采样电路连接，用于对电压采样信号进行稳压和降压处理，以输出稳态电压信号；信号比较电路，与所述稳态电路连接，用于将接入的稳态电压信号与预设阈值电压相比较，根据比较结果输出差动比较信号；显示电路，与所述信号比较电路连接，用于接收所述差动比较信号，并根据所述差动比较信号指示电容凸底检测结果。2.如权利要求1所述的电容凸底检测电路，其特征在于，所述采样电路包括保险电阻和测试头；所述测试头的第一引脚与所述待测电容器的第一端连接，所述测试头的第二引脚以及所述保险电阻的第一端共接所述待测电容器的第二端，所述保险电阻的第二端接供电端口。3.如权利要求1所述的电容凸底检测电路，其特征在于，所述稳态电路包括：降压模块，与所述采样电路连接，用于对所述电压采样信号进行降压处理；稳压模块，与所述降压模块和所述信号比较电路连接，用于对所述电压采样信号进行稳压处理，输出所述稳态电压信号。4.如权利要求3所述的电容凸底检测电路，其特征在于，所述稳压模块包括：稳压...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨立新，
申请(专利权)人：中山市新益昌自动化设备有限公司，
类型：新型
国别省市：
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