一种保护膜触控功能影响程度的测试方法技术

本申请涉及显示屏保护领域，特别是涉及一种保护膜触控功能影响程度的测试方法、电子设备及存储介质。所述测试方法，包括：获取显示触控屏模组的若干点位的电容值，并均值化处理得到无膜电容参考值；在所述显示触控屏模组上贴覆待测试保护膜；再次获取显示触控屏模组的所述若干点位的电容值，并均值化处理得到有膜电容参考值；基于所述无膜电容参考值和所述有膜电容参考值之间的差值，得到所述待测试保护膜对所述显示触控屏模组的触控功能影响值。本申请的测试方法，能够直观地评估保护膜对显示触控屏的触控功能的影响程度，进而为显示触控屏配置更合适地保护膜，以让显示触控屏触控效果更好。更好。更好。

【技术实现步骤摘要】
一种保护膜触控功能影响程度的测试方法


[0001]本申请涉及显示屏保护领域，特别是涉及一种保护膜触控功能影响程度的测试方法、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]随着科学技术的发展，显示触控屏的使用越来越广泛，已经成为人们日常生活中的必备之一，为了防止移动终端的屏幕刮花或者破损，往往会使用一些保护膜贴在显示触控屏上面。
[0003]然而，贴覆不同的保护膜在使用时会对显示触控屏的触控功能造成不同的影响，现有技术多通过使用显示触控屏时的感受去评估保护膜对显示触控屏的触控功能的影响程度，然而这种方式只是主观感受，并不能清楚具体的知道不同保护膜对显示触控屏的触控功能的影响程度到底是多少，评估效果差，不利于为显示触控屏适配合适的保护膜。

技术实现思路

[0004]为了解决现有技术存在的不足，本申请的目的在于提供一种保护膜触控功能影响程度的测试方法、电子设备及存储介质，以直观评估保护膜对显示触控屏的触控功能的影响程度。
[0005]为实现上述目的，本申请提供一种保护膜触控功能影响程度的测试方法，包括：
[0006]获取显示触控屏模组的若干点位的电容值，并均值化处理得到无膜电容参考值；
[0007]在所述显示触控屏模组上贴覆待测试保护膜；
[0008]再次获取显示触控屏模组的所述若干点位的电容值，并均值化处理得到有膜电容参考值；
[0009]基于所述无膜电容参考值和所述有膜电容参考值之间的差值，得到所述待测试保护膜对所述显示触控屏模组的触控功能影响值。
[0010]进一步地，所述测试方法还包括：
[0011]基于测试需求，确定需要获取电容值的显示触控屏模组的若干点位的点位数量和点位位置。
[0012]进一步地，所述点位数量包括9、13和25中的任意一种。
[0013]进一步地，所述点位位置包括均匀设置在所述显示触控屏模组常用区域的点位。
[0014]进一步地，所述测试方法还包括：
[0015]基于预设的触控功能影响度指标和所述待测试保护膜对所述显示触控屏模组的触控功能影响度值，对所述待测试保护膜进行评估。
[0016]进一步地，所述测试方法还包括：
[0017]基于所述待测试保护膜对所述显示触控屏模组的触控功能影响度值，对所述显示触控屏模组进行容值补偿。
[0018]进一步地，通过所述显示触控屏模组的测试工具获取电容值。
[0019]为实现上述目的，本申请提供一种保护膜触控功能影响程度的测试装置，包括：
[0020]电容值获取模块，用于获取显示触控屏模组无保护膜状态下若干点位的无膜电容参考值和有保护膜状态下所述若干点位的点位的有膜电容参考值；
[0021]数据处理模块，用于对所述无膜电容参考值和有膜电容参考值做处理分析，以得到保护膜的触控功能影响度值。
[0022]为实现上述目的，本申请提供的电子设备，包括：
[0023]处理器；
[0024]存储器，包括一个或多个计算机程序模块；
[0025]其中，所述一个或多个计算机程序模块被存储在所述存储器中并被配置为由所述处理器执行，所述一个或多个计算机程序模块用于被执行时实现如上所述的保护膜触控功能影响程度的测试方法。
[0026]为实现上述目的，本申请提供的计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，当计算机指令运行时执行如上所述的保护膜触控功能影响程度的测试方法的步骤。
[0027]本申请的一种保护膜触控功能影响程度的测试方法，能够直观地评估保护膜对显示触控屏的触控功能的影响程度，进而为显示触控屏配置更合适地保护膜，以让显示触控屏触控效果更好。
[0028]本申请的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本申请而了解。
附图说明
[0029]附图用来提供对本申请的进一步理解，并且构成说明书的一部分，并与本申请的实施例一起，用于解释本申请，并不构成对本申请的限制。在附图中：
[0030]图1为本申请的保护膜触控功能影响程度的测试方法的流程示意图；
[0031]图2为本申请的保护膜触控功能影响程度的测试装置的街狗示意图；
[0032]图3为本申请的一种电子设备的示意框图；
[0033]图4为本申请的一种存储介质的示意图。
具体实施方式
[0034]下面将参照附图更详细地描述本申请的实施例。虽然附图中显示了本申请的某些实施例，然而应当理解的是，本申请可以通过各种形式来实现，而且不应该被解释为限于这里阐述的实施例，相反提供这些实施例是为了更加透彻和完整地理解本申请。应当理解的是，本申请的附图及实施例仅用于示例性作用，并非用于限制本申请的保护范围。
[0035]应当理解，本申请的方法实施方式中记载的各个步骤可以按照不同的顺序执行，和/或并行执行。此外，方法实施方式可以包括附加的步骤和/或省略执行示出的步骤。本申请的范围在此方面不受限制。
[0036]本文使用的术语“包括”及其变形是开放性包括，即“包括但不限于”。术语“基于”是“至少部分地基于”。术语“一个实施例”表示“至少一个实施例”；术语“另一实施例”表示“至少一个另外的实施例”；术语“一些实施例”表示“至少一些实施例”。其他术语的相关定义将在下文描述中给出。
[0037]需要注意，本申请中提及的“一个”、“多个”的修饰是示意性而非限制性的，本领域技术人员应当理解，除非在上下文另有明确指出，否则应该理解为“一个或多个”。“多个”应理解为两个或以上。
[0038]下面，将参考附图详细地说明本申请的实施例。
[0039]实施例1
[0040]本申请的一个实施例，提供了一种保护膜触控功能影响程度的测试方法，以直观评估保护膜对显示触控屏的触控功能的影响程度。
[0041]图1为本申请的保护膜触控功能影响程度的测试方法的流程示意图，下面将参考图1对本申请的保护膜触控功能影响程度的测试方法进行详细描述：
[0042]一种保护膜触控功能影响程度的测试方法，包括：
[0043]S101：获取显示触控屏模组的若干点位的电容值，并均值化处理得到无膜电容参考值；
[0044]具体的，通过显示触控屏厂家提供的TP测试软件获取显示触控屏模组的若干点位的电容值，计算若干点位的电容值的平均值作为无膜电容参考值。
[0045]在本实施方式中，测试方法还包括：
[0046]基于测试需求，确定需要获取电容值的显示触控屏模组的若干点位的点位数量和点位位置。
[0047]具体的，根据测试需求可灵活设置需要获取电容值的点位，如要评估显示触控屏模组的某一区域的保护膜触控功能影响程度，则获取该区域内的一定数目的电容值，用作测试评估。
[0048]可以理解的是，获取电容值的点位越多，则精度越高。
[0049]在本实施方式中，获取显示触控屏模组的9个点位的电容值。
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种保护膜触控功能影响程度的测试方法，包括：获取显示触控屏模组的若干点位的电容值，并均值化处理得到无膜电容参考值；在所述显示触控屏模组上贴覆待测试保护膜；再次获取显示触控屏模组的所述若干点位的电容值，并均值化处理得到有膜电容参考值；基于所述无膜电容参考值和所述有膜电容参考值之间的差值，得到所述待测试保护膜对所述显示触控屏模组的触控功能影响值。2.根据权利要求1所述的保护膜触控功能影响程度的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：基于测试需求，确定需要获取电容值的显示触控屏模组的若干点位的点位数量和点位位置。3.根据权利要求2所述的保护膜触控功能影响程度的测试方法，其特征在于，所述点位数量包括9、13和25中的任意一种。4.根据权利要求2所述的保护膜触控功能影响程度的测试方法，其特征在于，所述点位位置包括均匀设置在所述显示触控屏模组常用区域的点位。5.根据权利要求1所述的保护膜触控功能影响程度的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：基于预设的触控功能影响度指标和所述待测试保护膜对所述显示触控屏模组的触控功能影响度值，对所述待测试保护膜进行评估。6.根据权利要求1所述的保护膜触控功能影响程度的测...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨磊，张志烁，裴云飞，
申请(专利权)人：信利光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：