设备分析方法及装置、电子设备、存储介质制造方法及图纸

本申请实施例涉及数据分析技术领域，公开了设备分析方法及装置、电子设备、存储介质，该方法包括：获取目标电子设备对应的目标运行数据，目标运行数据包括目标电子设备的中央处理器对应的第一运行数据、内存对应第二运行数据以及I/O接口对应的第三运行数据中的一种或多种；以及，对目标运行数据进行分析，确定各个功能模块对应的运行分数，运行分数用于表示目标电子设备的性能情况，功能模块包括所述中央处理器、内存和I/O接口中的一种或多种组合。实施本申请实施例，能够提高对电子设备性能的分析效率，同时提高分析结果的准确率。同时提高分析结果的准确率。同时提高分析结果的准确率。

【技术实现步骤摘要】
设备分析方法及装置、电子设备、存储介质


[0001]本申请涉及数据分析
，具体涉及一种设备分析方法及装置、电子设备、存储介质。

技术介绍

[0002]各类电子设备(例如：手机、平板电脑等)在运行的过程中难免出现卡顿或者渲染出错的问题。对此需要开发人员对电子设备出现卡顿或者渲染出错的原因进行分析，进而确定出相应的修复措施。
[0003]在实践中发现，相关技术中通常需要开发人员手动对电子设备的运行数据进行收集并手动进行分析，而由于电子设备产生的运行数据的数据量通常较大，所以开发人员需要花费大量的时间进行分析，且容易出错。

技术实现思路

[0004]本申请实施例公开了一种设备分析方法及装置、电子设备、存储介质，能够提高对电子设备性能的分析效率，同时提高分析结果的准确率。
[0005]本申请实施例第一方面公开一种设备分析方法，包括：
[0006]获取目标电子设备对应的目标运行数据，所述目标运行数据包括所述目标电子设备的中央处理器对应的第一运行数据、内存对应第二运行数据以及I/O接口对应的第三运行数据中的一种或多种；
[0007]对所述目标运行数据进行分析，确定各个功能模块对应的运行分数，所述运行分数用于表示所述目标电子设备的性能情况，所述功能模块包括所述中央处理器、内存和I/O接口中的一种或多种组合。
[0008]作为一种可选的实施方式，在本申请实施例第一方面中，所述获取目标电子设备对应的目标运行数据，包括：
[0009]获取待分析的性能问题，并根据所述待分析的性能问题确定对应的运行数据的获取方式，所述获取方式包括需要抓取的目标运行数据的数据类型和抓取所述目标运行数据需要的时长；
[0010]根据所述获取方式在所述目标电子设备中获取所述目标运行数据。
[0011]作为一种可选的实施方式，在本申请实施例第一方面中，所述根据所述待分析的性能问题确定对应的运行数据的获取方式，包括：
[0012]若所述待分析的性能问题为应用程序运行卡顿，则对应的运行数据的获取方式为抓取所述目标电子设备的中央处理器对应的第一运行数据和/或，内存对应第二运行数据；
[0013]若所述待分析的性能问题为画面渲染错误，则对应的运行数据的获取方式为抓取所述目标电子设备的中央处理器对应的第一运行数据；
[0014]若所述待分析的性能问题为文件的读取与写入速度慢，则对应的运行数据的获取方式为抓取所述目标电子设备的I/O接口对应的第三运行数据。
[0015]作为一种可选的实施方式，在本申请实施例第一方面中，所述第一运行数据包括所述中央处理器的利用率、所述中央处理器管控各个线程的运行情况以及所述中央处理器在单位周期处理的指令数量中的一种或多种组合。
[0016]以及；若所述中央处理器的内核态的使用占比大于用户态的使用占比，则所述第一运行数据还包括所述中央处理器的调用频率和次数、所述中央处理器上下文切换的频率和次数以及所述中央处理器中断的频率和次数；
[0017]若所述中央处理器的用户态的使用占比大于内核态的使用占比，则所述第一运行数据还包括应用程序的调用栈信息。
[0018]作为一种可选的实施方式，在本申请实施例第一方面中，所述第二运行数据包括被关闭的进程信息、换页设备对应的运行数据、用于表示所述内存使用情况的第一数据以及用于表示缺页情况的第二数据中的一种或多种组合。
[0019]作为一种可选的实施方式，在本申请实施例第一方面中，所述第三运行数据包括所述目标电子设备的文件系统的使用率、用于表示文件的打开情况的第三数据，用于表示文件读取和写入情况的第四数据以及所述目标电子设备的磁盘的性能指标中的一种或多种组合。
[0020]作为一种可选的实施方式，在本申请实施例第一方面中，所述对所述目标运行数据进行分析，确定各个功能模块对应的运行分数，包括：
[0021]确定第一功能模块对应的各个运行数据的第一分数，所述第一功能模块为所述中央处理器、内存和I/O接口中的任意一个；
[0022]根据多个所述第一分数及各个所述第一分数预设的权重，确定所述第一功能模块对应的运行分数。
[0023]本申请实施例第二方面公开一种设备分析装置，包括：
[0024]获取单元，用于获取目标电子设备对应的目标运行数据，所述目标运行数据包括所述目标电子设备的中央处理器对应的第一运行数据、内存对应第二运行数据以及I/O接口对应的第三运行数据中的一种或多种；
[0025]确定单元，用于对所述目标运行数据进行分析，确定各个功能模块对应的运行分数，所述运行分数用于表示所述目标电子设备的性能情况，所述功能模块包括所述中央处理器、内存和I/O接口中的一种或多种组合。
[0026]本申请实施例第三方面公开一种电子设备，包括：
[0027]存储有可执行程序代码的存储器；
[0028]与所述存储器耦合的处理器；
[0029]所述处理器调用所述存储器中存储的所述可执行程序代码，执行本申请实施例第一方面公开的设备分析方法。
[0030]本申请实施例第四方面公开一种计算机可读存储介质，其存储计算机程序，其中，所述计算机程序使得计算机执行本申请实施例第一方面公开的设备分析方法。
[0031]本申请实施例第五方面公开一种计算机程序产品，当所述计算机程序产品在计算机上运行时，使得所述计算机执行本申请实施例第一方面的任意一种方法的部分或全部步骤。
[0032]本申请实施例第六方面公开一种应用发布平台，所述应用发布平台用于发布计算
机程序产品，其中，当所述计算机程序产品在计算机上运行时，使得所述计算机执行本申请实施例第一方面的任意一种方法的部分或全部步骤。
[0033]与相关技术相比，本申请实施例具有以下有益效果：
[0034]本申请实施例中，可以获取目标电子设备对应的目标运行数据，其中，目标运行数据可以包括目标电子设备的中央处理器对应的第一运行数据、内存对应第二运行数据以及I/O接口对应的第三运行数据中的一种或多种；进而可以对目标运行数据进行分析，以确定出各个功能模块的运行分数，从而用户可以根据运行分数直观出确定目标电子设备的性能情况。此外，相比较于手动分析，该方法的运行数据采集和分析都由电子设备自动执行，从而提高了对电子设备性能的分析效率，同时提高分析结果的准确率。
附图说明
[0035]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0036]图1是本申请实施例公开的一种设备分析方法的流程示意图；
[0037]图2是本申请实施例公开的另一种设备分析方法的流程示意图；
[0038]图3是本申请实施例公开的又一种设备分析方法的流程示意图；
[0039]图4是本申本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种设备分析方法，其特征在于，所述方法包括：获取目标电子设备对应的目标运行数据，所述目标运行数据包括所述目标电子设备的中央处理器对应的第一运行数据、内存对应第二运行数据以及I/O接口对应的第三运行数据中的一种或多种；对所述目标运行数据进行分析，确定各个功能模块对应的运行分数，所述运行分数用于表示所述目标电子设备的性能情况，所述功能模块包括所述中央处理器、内存和I/O接口中的一种或多种组合。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取目标电子设备对应的目标运行数据，包括：获取待分析的性能问题，并根据所述待分析的性能问题确定对应的运行数据的获取方式，所述获取方式包括需要抓取的目标运行数据的数据类型和抓取所述目标运行数据需要的时长；根据所述获取方式在所述目标电子设备中获取所述目标运行数据。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述待分析的性能问题确定对应的运行数据的获取方式，包括：若所述待分析的性能问题为应用程序运行卡顿，则对应的运行数据的获取方式为抓取所述目标电子设备的中央处理器对应的第一运行数据和/或，内存对应第二运行数据；若所述待分析的性能问题为画面渲染错误，则对应的运行数据的获取方式为抓取所述目标电子设备的中央处理器对应的第一运行数据；若所述待分析的性能问题为文件的读取与写入速度慢，则对应的运行数据的获取方式为抓取所述目标电子设备的I/O接口对应的第三运行数据。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一运行数据包括所述中央处理器的利用率、所述中央处理器管控各个线程的运行情况以及所述中央处理器在单位周期处理的指令数量中的一种或多种组合。以及；若所述中央处理器的内核态的使用占比大于用户态的使用占比，则所述第一运行数据还包括所述中央处理器的调用频率和次数、所述中央处理器上下文切换的频率和次数以及所述中央处理器中断的频率和次数中的一种或多种组合；若...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁胜利，
申请(专利权)人：西安闻泰电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：