监测事件的性能成本制造技术

公开了用于监测包括事件的成本的处理器性能的实施例。在实施例中，一种处理器包括第一计数器、第二计数器、处理程序电路和使能电路。第一计数器用于对处理器中的事件的发生进行计数，并在发生的计数达到指定值时溢出。第二计数器用于测量事件的性能成本。处理程序电路用于生成事件采样记录。记录包括反映性能成本的至少一个值。使能电路用于使处理程序电路生成记录。生成记录。生成记录。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】监测事件的性能成本


[0001]本文描述的实施例总体涉及监测计算机处理器的性能。具体地，所描述的实施例总体涉及监测事件的性能成本。

技术介绍

[0002]处理器的性能监测(例如，使用诸如英特尔公司的基于精确事件的采样(Precise Event Based Sampling，PEBS)之类的技术)可用于表征、调试和调整软件和程序代码。然而，解析数据量可能很大。高性能处理器尽全力保持其执行管道繁忙，应用诸如大窗口乱序执行、预测推测和硬件预取等之类的技术。这些技术使软件调试任务复杂化，并导致通常监测的事件的成本发生变化。
附图说明
[0003]通过阅读以下说明书和所附权利要求并参考附图，本文公开的实施例的各种优点对于本领域技术人员将变得明显，在附图中：
[0004]图1是示出根据一个实施例的处理器的框图；
[0005]图2示出了生成PEBS记录并将其存储在存储缓冲器中、以及将存储缓冲器存储到PEBS跟踪文件的方法的实施例；
[0006]图3示出了对PEBS处理程序电路进行编程以监测处理器性能并且生成PEBS记本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种装置，包括：第一计数器，用于对所述装置中的事件的发生进行计数，并在所述发生的计数达到指定值时溢出；第二计数器，用于测量所述事件的性能成本；事件采样处理程序电路，用于生成事件采样记录，该记录包括反映所述性能成本的至少一个值；以及事件采样使能电路，耦合到所述第一计数器、所述第二计数器以及所述事件采样处理程序电路，其中，所述事件采样使能电路用于使所述事件采样处理程序电路生成所述事件采样记录。2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述事件采样记录还包括所述装置的架构元数据和所述装置的寄存器状态。3.根据权利要求2所述的装置，还包括：事件选择寄存器，被编程有与所述事件相对应的事件标识符；以及可编程配置寄存器，用于指定所述事件采样记录的内容。4.根据权利要求1所述的装置，其中，所述第二计数器用于对指令的引退之间的时间进行计数。5.根据权利要求1所述的装置，其中，所述性能成本以时间进行测量。6.根据权利要求1所述的装置，其中，所述性能成本以所经历的引退周期的数量进行测量。7.根据权利要求1所述的装置，其中，所述性能成本以事件级粒度进行测量。8.根据权利要求1所述的装置，其中，所述性能成本以指令级粒度进行测量。9.根据权利要求1所述的装置，其中，所述性能成本以所述事件引起的引退推出时间进行测量。10.根据权利要求9所述的装置，其中，所述事件引起的引退推出时间在指令的引退之间。11.根据权利要求9所述的装置，其中，所述事件为指令，并且所述事件引起的引退推出时间在所述指令的执行和所述指令的引退之间。12.根据权利要求1所述的装置，其中，所述事件采样记录是基于精确事件的采样记录。13.一种方法，包括：使事件处理程序采样电路能够生成事件采样记录，该事件采样记录包括反映事件的性能成本的至少一个值；对所述事件的发生进行计数；提供关于对所述事件的发生的计数已达到指定值的指示；以及测量所述事件的性能成本。14.根据权利要求13所述的方法，其中，测量所述事件的性能成本是由计数器对指令的引退之间的时钟周期进行计数。15.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：艾哈迈德，
申请(专利权)人：英特尔公司，
类型：发明
国别省市：