一种根据电阻温度变化率的温度补偿系统技术方案

本发明专利技术提供一种根据电阻温度变化率的温度补偿系统，涉及电阻补偿设备技术。包括热敏电阻，其特征在于：所述热敏电阻电性连接有抗阻分析仪模块，所述热敏电阻电性连接有电源模块，所述热敏电阻电性连接有补偿模块，所述补偿模块电性连接有计算机，所述加热装置模块包含有温度采样模块和恒温控制模，本发明专利技术温度采样单元采集完热敏电阻本体温度后，温度采样单元将获取的温度值传输给恒温控制单元，恒温控制单元根据获取的本体温度控制驱动单元驱动，进而控制加热件对热敏电阻进行加热，使热敏电阻提前达到通入采样电流后的本体温度值，从而使温漂对热敏电阻的影响减小，进而提高热敏电阻采集电流的准确性。阻采集电流的准确性。阻采集电流的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种根据电阻温度变化率的温度补偿系统


[0001]本专利技术涉及电阻补偿设备
，具体为一种根据电阻温度变化率的温度补偿系统。

技术介绍

[0002]在电压输出电路中，常使用温度补偿电阻，用以补偿周边温度值漂移大的敏感元件受温度而引起的误差，进而稳定电压输出端的电压，提高输出电压的精确度，在热电阻温度测量系统中，热电阻接入信号采集模块，由其模拟数字转换器把微小信号转换成数字信号，并计算为温度值，最后将此温度值传送到控制器，而目前市面上的信号采集模块对信号进行转换的过程中，信号采集模块(特别是前置运算放大器和模拟数字转换芯片)会受到环境温度影响，从而对采样精度产生较大影响，因此本专利技术提出一种根据电阻温度变化率的温度补偿系统，有效降低环境温度对采样精度的影响，从而大幅度的降低温度补偿检测的成本。

技术实现思路

[0003](一)解决的技术问题
[0004]针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种根据电阻温度变化率的温度补偿系统，温度采样单元采集完热敏电阻本体温度后，温度采样单元将获取的温度值传输给恒温控制单元，恒温控制单元根据获取的本体温度控制驱动单元驱动，进而控制加热件对热敏电阻进行加热，使热敏电阻提前达到通入采样电流后的本体温度值，从而使温漂对热敏电阻的影响减小，进而提高热敏电阻采集电流的准确性，同时由于加热件直接对热敏电阻本体进行加热，加热速率较快，能更好的使热敏电阻保持预设温度。
[0005](二)技术方案
[0006]1.为实现以上目的，本专利技术通过以下技术方案予以实现：一种根据电阻温度变化率的温度补偿系统，一种根据电阻温度变化率的温度补偿系统，包括热敏电阻，其特征在于：所述热敏电阻电性连接有抗阻分析仪模块，所述热敏电阻电性连接有电源模块，所述热敏电阻电性连接有补偿模块，所述补偿模块电性连接有计算机，所述加热装置模块包含有温度采样模块和恒温控制模；
[0007]所述电源模块用于对热敏电阻提供电压和电流，从而使得热敏电阻通过电流，方便测量热敏电阻的电流和温度；
[0008]所述加热装置模块用于对热敏电阻外部的温度环境进行控制和温度采样，从而通过温度的变量值方便测量出热敏电阻的电阻变化值；
[0009]所述抗阻分析仪模块用于对热敏电阻的电阻进行变化值进行测量和记录；
[0010]所述补偿模块基于对热敏电阻随温度变化而变化的电阻值进行电阻补偿，从而使得电源的输出电流值趋于稳定；
[0011]所述计算机模块对于热敏电阻的电阻随温度变化而变化的电阻数值进行记录和
分析，从而计算出一套完整的热敏电阻温度补偿值，并控制补偿模块进行调节补偿；
[0012]优选的，所述热敏电阻材料的电阻测量方式通常为惠斯登电桥型，其有恒流和恒压两种工作方式，假设半导体应变片电阻Rt的温度系数为α，灵敏度K的温度系数为β，加在传感器上的电压为Vi n，则电阻值、灵敏度随温度改变的表达式分别为
[0013]RT＝R0(1+αT)；
[0014]KT＝K0(1+βT)；
[0015]则传感器输出为：Vout＝(
△
R/R0)Vi n＝K0(1+βT)Vi n；
[0016]其中，R0—基准温度时传感器的电阻值(初始值)；
△
R—压力引起的电阻变化；K0—基准温度时灵敏度，由此式知压力随温度的改变量和β的随温度的变化相同，具有较大负温度系数；
[0017]优选的，所述温度采样单元用于采集热敏电阻的温度，并且通过温度控制模块对热敏电阻的温度进行监控和判断，当恒温控制模块检测到热敏电阻模块的温度高于预期温度，则恒温控制模块会停止对热敏电阻的加热，使得热敏电阻向外部沙释放热量从而降温，当恒温控制模块检测到热敏电阻模块的温度低于预期温度，则恒温控制模块会对热敏电阻进行加热，从而提高热敏电阻的温度，方便对电阻的测量进行修正；
[0018]优选的，所述抗阻分析仪用于检测和记录电源数据和不同温度下通过热敏电阻的电流，通过检测到的电流数据和电源数据，从而计算出不同温度下热敏电阻的抗阻；
[0019]优选的，所述抗阻分析仪和温度采样单元配合，通过恒温数值检测出热敏电阻的基准电阻和基于基准热电阻的温度补偿点；
[0020]优选的，所述计算机模块通过抗阻分析仪分析出的热敏电阻的基准电阻和温度补偿点，控制补偿模块对热敏电阻进行温度补偿，从而使得恒定电压的电源的输出电流在热敏电阻的电阻变化下区域平稳；
[0021]优选的，通过采用上述技术方案，温度采样单元对热敏电阻本体温度进行采样，并将采集的温度转换为模拟信号传输给恒温控制单元，恒温控制单元将获取的温度与预设温度进行对比，当获取的本体温度低于预设温度时，恒温控制单元控制驱动单元启动，驱动单元控制加热件对热敏电阻进行加热，使电阻电阻达到预设温度，从而使热敏电阻工作在稳定的温度环境中，进而使合热敏电阻采集的电流值更加精准。
[0022]工作原理：该补偿电阻温度变化率的温度补偿方法，设定一个恒定电压的电源输出装置，恒定电压的电源输出装置与热敏电阻电性连接，从而使得热敏电阻内流通有电流，而热敏电阻的外部设置有一个加热装置，加热装置可以对热敏电阻的温度进行控制和采样，而热敏电阻电性连接有一个抗阻分析仪，抗阻分析仪对热敏电阻在不同温度下的电阻进行记录和分析，计算机对热敏电阻的工作温度和不同温度下的电阻进行记录和分析，从而计算出一套完整的电阻温度补偿公式，并控制补偿模块控制调节热敏电阻的温度，从而达到对电阻的温度补偿。
[0023](三)有益效果
[0024]本专利技术提供了一种根据电阻温度变化率的温度补偿系统。具备以下有益效果：
[0025]1、本专利技术提供了一种根据电阻温度变化率的温度补偿系统，温度采样单元采集完热敏电阻本体温度后，温度采样单元将获取的温度值传输给恒温控制单元，恒温控制单元根据获取的本体温度控制驱动单元驱动，进而控制加热件对热敏电阻进行加热，使热敏电
阻提前达到通入采样电流后的本体温度值，从而使温漂对热敏电阻的影响减小，进而提高热敏电阻采集电流的准确性，同时由于加热件直接对热敏电阻本体进行加热，加热速率较快，能更好的使热敏电阻保持预设温度。
[0026]2、本专利技术提供了一种根据电阻温度变化率的温度补偿系统，通过抗阻分析仪和计算机的结合，从而对加热装置进行更好的控制，更精准的检测出热敏电阻的电阻变化率，实现单一变量的数据记录和分析，从而使得补偿模块可以更精准的对电阻变化进行补偿。
附图说明
[0027]图1为本专利技术的系统流程图；
[0028]图2为本专利技术的加热装置的模块的系统图；
[0029]图3为本专利技术的热敏电阻变化测量的工作流程图；
[0030]图4为本专利技术的温度采样单元的工作流程图。
具体实施方式
[0031]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种根据电阻温度变化率的温度补偿系统，包括热敏电阻，其特征在于：所述热敏电阻电性连接有抗阻分析仪模块，所述热敏电阻电性连接有电源模块，所述热敏电阻电性连接有补偿模块，所述补偿模块电性连接有计算机，所述加热装置模块包含有温度采样模块和恒温控制模；所述电源模块用于对热敏电阻提供电压和电流，从而使得热敏电阻通过电流，方便测量热敏电阻的电流和温度；所述加热装置模块用于对热敏电阻外部的温度环境进行控制和温度采样，从而通过温度的变量值方便测量出热敏电阻的电阻变化值；所述抗阻分析仪模块用于对热敏电阻的电阻进行变化值进行测量和记录；所述补偿模块基于对热敏电阻随温度变化而变化的电阻值进行电阻补偿，从而使得电源的输出电流值趋于稳定；所述计算机模块对于热敏电阻的电阻随温度变化而变化的电阻数值进行记录和分析，从而计算出一套完整的热敏电阻温度补偿值，并控制补偿模块进行调节补偿。2.根据权利要求1所述的一种根据电阻温度变化率的温度补偿系统，其特征在于：所述热敏电阻材料的电阻测量方式通常为惠斯登电桥型，其有恒流和恒压两种工作方式，假设半导体应变片电阻Rt的温度系数为α，灵敏度K的温度系数为β，加在传感器上的电压为Vin，则电阻值、灵敏度随温度改变的表达式分别为RT＝R0(1+αT)；KT＝K0(1+βT)；则传感器输出为：Vout＝(
△
R/R0)Vin＝K0(1+βT)Vin；其中，R0—基准温度时传感器的电阻值(初始值)；
△
R—压力引起的电阻变化；K0—基准温度时灵敏度，由此式知压力随温度的改变量和β的随温度的变化相同，具有较大负温度系数。3.根据权利要求1所述的一种根据电阻温度变化率的温度补偿系统...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭虎，王照新，李建伟，蔡彩银，
申请(专利权)人：北京炎黄国芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：