一种HAST环境光伏组件PID测试方法技术

本发明专利技术涉及光伏组件测试领域，具体公开了一种HAST环境光伏组件PID测试方法，包括步骤：S1样品制作、S2PID试验前样品测试、S3HAST环境下试验、S4PID试验后样品测试、S5结果处理；其中，S2PID试验前样品测试包括：对样品进行试验前测试，并记录测试结果，记为结果一；S3HAST环境下试验包括设定测试设备的温湿度，并保持6h稳定期，稳定期后将PID测试电压设定为

【技术实现步骤摘要】
一种HAST环境光伏组件PID测试方法


[0001]本专利技术属于光伏组件测试领域，更具体的说是涉及一种HAST环境光伏组件PID测试方法。

技术介绍

[0002]光伏组件一般指太阳电池组件，光伏组件是由高效晶体硅太阳能电池片、超白布纹钢化玻璃、EVA、透明TPT背板以及铝合金边框组成。
[0003]PID意为电势诱导衰减，即在组件电路和接地部分存在电势或电位差时组件性能降低的现象，简称PID。光伏发电系统的系统电压存在对晶体硅电池组件有持续的“电势诱导衰减”效用，晶体硅电池通过封装材料(通常是EVA和玻璃的上表面)对组件边框形成的回路所导致的漏电流，进而导致电池发电性能的下降现象。
[0004]目前采用的PID测试方法是用成品组件在85℃、85RH％环境下进行96h测试，这种方式不仅需要制作成品组件测试周期一般都在7天以上。这种方法对电池及组件的研发产生了极大的延时，阻碍了工艺改进及产品更新，尤其对降低了解决PID问题解决的效率。
[0005]本专利技术拟提供一种HAST环境光伏组件PID测试方法，能够缩短PID测试时间降低测试成本，并提高了工艺改进的速度。

技术实现思路

[0006]有鉴于此，为了解决前述技术问题，实现上述技术效果，本专利技术提供了一种HAST环境光伏组件PID测试方法，包括如下步骤：
[0007]S1样品制作、S2 PID试验前样品测试、S3 HAST环境下试验、S4 PID试验后样品测试、S5结果处理；其中：
[0008]S2 PID试验前样品测试包括：对样品进行试验前测试，并记录测试结果，记为结果一；
[0009]S3 HAST环境下试验包括：
[0010]S31：设定测试设备的温度为105
‑
132℃、湿度为85
‑
99％RH，开启设备，当测试设备的温度和湿度达到设定值后，开始6h环境稳定期；
[0011]S32：在环境稳定期后将PID测试电压设定为
‑
1500V，保持24
‑
48h，后期温度逐步下降至环境温度，温度下降期间施加的组件额定系统电压和极性保持不变；
[0012]S4 PID试验后样品测试包括：对经过步骤S3后的样品进行试验后测试并记录测试结果，记为结果二；
[0013]S5结果处理包括：通过结果二和结果一的对比，计算测试样品的功率衰减，以及试验前后测试样品的变化。
[0014]进一步的，所述步骤S2中试验前测试和步骤S4中试验后测试的项目均包括：外观检测、功率测试、EL测试。
[0015]进一步的，所述步骤S1中样品包括前封装玻璃和后封装层，所述前封装玻璃为钢
化或半钢化玻璃，所述后封装层为单边尺寸略小于所述前封装玻璃的背板或钢化玻璃或半钢化玻璃。
[0016]进一步的，所述前封装玻璃的尺寸为60*65cm，所述后封装层的尺寸为60*60cm。
[0017]进一步的，所述前封装玻璃与后封装层三个边对齐，第四边引出有汇流带，所述汇流带连接接线盒。
[0018]进一步的，所述步骤S4 PID试验后样品测试是在样品被取出后2小时～6小时之间进行。
[0019]进一步的，所述结果二相对于结果一的比对应满足外观无明显可视变化，EL测试图像无明显可视变化。
[0020]进一步的，所述结果二相对于结果一的比对应满足功率衰减不大于5％；
[0021]进一步的，所述功率衰减的计算公式为功率衰减＝(试验后测试功率
‑
试验前测试功率)/试验前测试功率。
[0022]相较于现有技术，本专利技术的HAST环境光伏组件PID测试方法，有益效果如下：本专利技术的测试方法提出了一种制作简单，性能可靠的PID测试样品，用铝箔胶带代替铝型材，接线盒固定在前玻璃上增加了接线盒牢固度和安全性能；同时，本专利技术的测试方法用HAST环境来实现高温、高湿、高压的测试环境，可以有效缩短测试周期。
附图说明
[0023]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0024]图1为本专利技术实施例的测试过程图；
[0025]图2为本专利技术实施例的样品的结构图。
具体实施方式
[0026]为了更好地了解本专利技术的目的、结构及功能，下面结合附图，对本专利技术的一种HAST环境光伏组件PID测试方法做进一步详细的描述。
[0027]本实施例提供一种HAST环境光伏组件PID测试方法，包括如下步骤：
[0028]S1：样品制作；
[0029]S2：PID试验前样品测试；
[0030]S3：HAST环境下PID试验；
[0031]S4：PID试验后样品测试；
[0032]S5：结果处理。
[0033]其中：
[0034]S1样品制作包括：
[0035]S11：准备生产用电池片、焊带、汇流带、接线盒、EVA、硅胶、定位胶带、前封装玻璃、后封装层以及宽度为3cm的铝箔胶带，前封装玻璃为60*65cm的钢化或半钢化玻璃，后封装层为60*60cm的背板或钢化玻璃或半钢化玻璃；如图2所示，1为前封装玻璃，2为后封装层，3
为铝箔胶带，4为汇流带，5为焊带，6为电池片，7为分体接线盒，7
‑
1为正极接线盒，7
‑
2为负极接线盒；
[0036]S12：根据组件生产工艺，用焊带和汇流带将电池片连接成串，与前封装玻璃、后封装层组合成层压件，组合时，前封装玻璃与后封装层保持三个边对齐，汇流带从后封装层的第四边引出并与接线盒连接，用硅胶将接线盒固定在层压件表面，用铝箔胶带将层压件四周密封。
[0037]S2 PID试验前样品测试包括：
[0038]S21：对样品进行外观检测、功率测试、EL测试，并记录结果为外观1、功率1、EL测试1；
[0039]S22：将样品固定安装在测试支架上，样品的正负极短接后连接电源一极，样品边框(或铝箔)连接电源另外一极，拧紧安装螺丝保证接线端子与边框良好接触，并保证样品与测试设备的箱体绝缘。
[0040]S3 HAST环境下PID试验包括：
[0041]S31：设定测试设备(即HAST环境箱)的温度为105
‑
132℃、湿度为85
‑
99％RH，开启设备，当测试设备的温度和湿度达到设定值后，开始6h环境稳定期；
[0042]S32：在稳定期后将PID测试电压设定为
‑
1500V或负的系统最高电压值，保持24
‑
48h，在此期间温度保持一段时间，后期开始进行降温，使温度逐步下降至环境温度，温度下降期间施加的组件额定系统电压和极性保持不变。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种HAST环境光伏组件PID测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S1样品制作、S2 PID试验前样品测试、S3 HAST环境下试验、S4 PID试验后样品测试、S5结果处理；其中：S2 PID试验前样品测试包括：对样品进行试验前测试，并记录测试结果，记为结果一；S3 HAST环境下试验包括：S31：设定测试设备的温度为105
‑
132℃、湿度为85
‑
99％RH，开启设备，当测试设备的温度和湿度达到设定值后，开始6h环境稳定期；S32：在环境稳定期后将PID测试电压设定为
‑
1500V，保持24
‑
48h，后期温度逐步下降至环境温度，温度下降期间施加的组件额定系统电压和极性保持不变；S4 PID试验后样品测试包括：对经过步骤S3后的样品进行试验后测试并记录测试结果，记为结果二；S5结果处理包括：通过结果二和结果一的对比，计算测试样品的功率衰减，以及试验前后测试样品的变化。2.根据权利要求1所述的HAST环境光伏组件PID测试方法，其特征在于，所述步骤S2中试验前测试和步骤S4中试验后测试的项目均包括：外观检测、功率测试、EL测试。3.根据权利要求1所述的HAST环境光伏组件...

【专利技术属性】
技术研发人员：王永泽，王志功，张颖，韩华华，蒋京娜，郑炯，李学健，李英叶，冯天顺，田思，
申请(专利权)人：英利能源中国有限公司，
类型：发明
国别省市：