产品测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种产品测试方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质，产品测试方法包括：配置待测试项，配置各待测试项的比较参数，以及配置各待测试项的测试顺序，其中，测试顺序与统计数据库中统计的各个待测试项的通过率的升序排列顺序一致；按照配置的各个待测试项的测试顺序，逐一测试当前产品的各个待测试项；若出现待测试项测试不通过，则结束当前产品的测试。本发明专利技术技术方案，提升了产品测试效率，进而提升了产品生产效率。进而提升了产品生产效率。进而提升了产品生产效率。

【技术实现步骤摘要】
产品测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质


[0001]本专利技术涉及产品测试领域，尤其涉及一种产品测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]在产品的生产制造过程中，产品测试是必不可少的一道重要工序。目前，产品的测试方案通常是，针对产品的每一项测试都配备相应的测试装置，将产品先送到第一项测试的测试装置处进行测试，在第一项测试通过后，再将产品送入第二项测试的测试设备处进行测试，在第二项测试通过后，再将产品送入第三项测试设备处进行测试，如此依次进行测试，直至所有测试项测试完成。这种产品测试方案存在以下不足：由于测试流程固定，当一个产品成功通过了前面多项测试，而在最后一项或靠后的测试项才测试出为不良品(即测试不通过)，这样就造成该产品前面进行的多项测试都为无用功，浪费了过多时间，测试效率低，进而导致产品生产效率较低。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供一种产品测试方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质，旨在提升产品测试效率，进而提升产品生产效率。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提供的产品测试方法，包括：
[0005]配置待测试项，配置各待测试项的比较参数，以及配置各待测试项的测试顺序，其中，所述测试顺序与统计数据库中统计的各个待测试项的通过率的升序排列顺序一致；
[0006]按照配置的各个待测试项的测试顺序，逐一测试当前产品的各个待测试项；
[0007]若出现待测试项测试不通过，则结束当前产品的测试。
[0008]在一些实施例中，所述按照配置的各个待测试项的测试顺序，逐一测试当前产品的各个待测试项，包括：
[0009]获取当前产品的各个待测试项的测试数据；
[0010]按照所述测试顺序，逐一将待测试项的测试数据与相应的比较参数对比核查。
[0011]在一些实施例中，所述配置各个待测试项的测试顺序包括：
[0012]调用所述统计数据库中统计的各个待测试项的通过率的升序排列顺序；
[0013]将所述通过率的升序排列顺序配置为各个待测试项的测试顺序。
[0014]在一些实施例中，所述若出现待测试项测试不通过，则结束当前产品的测试之后，还包括：
[0015]收集当前产品的各个待测试项的测试信息，并生成不合格文件上传至所述统计数据库，其中，所述测试信息至少包括测试数据、比较参数以及测试结果。
[0016]在一些实施例中，在所述收集当前产品的各个待测试项，并生成不合格文件上传至所述统计数据库之后，所述产品测试方法还包括：
[0017]在所述统计数据库中新增的不合格文件数量达到预设数量时，更新所述统计数据
库中统计的各个待测试项的通过率以及各个待测试项的通过率的升序排列顺序。
[0018]在一些实施例中，所述产品测试方法还包括：
[0019]定时更新所述统计数据库中统计的各个待测试项的通过率以及各个待测试项的通过率的升序排列顺序。
[0020]在一些实施例中，更新所述统计数据库中统计的各个待测试项的通过率以及各个待测试项的通过率的升序排列顺序，包括：
[0021]复核新增的不合格文件中的测试信息；
[0022]基于复核结果，更新各个待测试项的通过率以及各个待测试项的通过率的升序排列顺序。
[0023]在一些实施例中，所述配置待测试项，配置各待测试项的比较参数，包括：
[0024]在接收到配置待测试项的请求时，提供待测试项配置界面，供用户基于所述待测试项设置界面确定待测试项；
[0025]在接收到配置比较参数的请求时，提供比较参数配置界面，供用户基于所述比较参数配置界面设置各个待测试项的比较参数的数值。
[0026]在一些实施例中，在接收到配置比较参数的请求时，提供比较参数配置界面，包括：
[0027]在接收到配置比较参数的请求时，提供验证界面，供用户输入验证信息进行验证；
[0028]在验证通过时，提供比较参数配置界面；
[0029]在接收到配置待测试项的请求时，提供待测试项配置界面，包括：
[0030]在接收到配置比较参数的请求时，提供验证界面，供用户输入验证信息进行验证；
[0031]在验证通过时，提供待测试项配置界面。
[0032]本专利技术还提出一种产品测试装置，包括：
[0033]配置模块，用于配置待测试项，配置各待测试项的比较参数，以及配置各待测试项的测试顺序，其中，所述测试顺序与统计数据库中统计的各个待测试项的通过率的升序排列顺序一致；
[0034]测试模块，用于按照配置的各个待测试项的测试顺序，逐一测试当前产品的各个待测试项；
[0035]中止模块，用于在出现待测试项测试不通过时，结束当前产品的测试。
[0036]本专利技术还提出一种电子设备，包括处理器、存储器，以及存储在所述存储器中且可被所述处理器执行的产品测试程序，所述产品测试程序被所述处理器执行时能够实现上述的产品测试方法的步骤。
[0037]本专利技术还提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有产品测试程序，所述产品测试程序被处理器执行时能够实现上述的产品测试方法的步骤。
[0038]本专利技术技术方案，采用同一设备统一对产品进行各个待测试项的逐项测试，多项待测试项整合统一，省去了测试过程的多次移送操作，降低了作业人员的工作量，提升了测试效率；并且按照各个待测试项的通过率由低到高的顺序，逐一对产品的各个待测试项进行测试，将通过率低的待测试项靠前测试，使得绝大部分不合格产品在前面几个待测试项的测试中，就能够测试出来，更快的找出不合格的产品，进一步提升了测试效率，进而提升了产品的整体生产效率。
附图说明
[0039]图1为本专利技术产品测试方法第一实施例的流程示意图；
[0040]图2为本专利技术产品测试方法第二实施例的流程示意图；
[0041]图3为本专利技术产品测试方法第三实施例的流程示意图；
[0042]图4为本专利技术产品测试方法第四实施例的流程示意图；
[0043]图5为本专利技术产品测试方法第五实施例的流程示意图；
[0044]图6为本专利技术产品测试装置一实施例的模块结构示意图；
[0045]图7为本专利技术实施例方案涉及的硬件运行环境中电子设备的结构示意图。
[0046]本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0047]下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制，基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0048]本专利技术提出一种产品测试方法，可用于耳机、手机、电脑等电子产品的测试，也可本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种产品测试方法，其特征在于，包括：配置待测试项，配置各待测试项的比较参数，以及配置各待测试项的测试顺序，其中，所述测试顺序与统计数据库中统计的各个待测试项的通过率的升序排列顺序一致；按照配置的各个待测试项的测试顺序，逐一测试当前产品的各个待测试项；若出现待测试项测试不通过，则结束当前产品的测试。2.根据权利要求1所述的产品测试方法，其特征在于，所述按照配置的各个待测试项的测试顺序，逐一测试当前产品的各个待测试项，包括：获取当前产品的各个待测试项的测试数据；按照所述测试顺序，逐一将待测试项的测试数据与相应的比较参数对比核查。3.根据权利要求1所述的产品测试方法，其特征在于，所述配置各个待测试项的测试顺序包括：调用所述统计数据库中统计的各个待测试项的通过率的升序排列顺序；将所述通过率的升序排列顺序配置为各个待测试项的测试顺序。4.根据权利要求1所述的产品测试方法，其特征在于，所述若出现待测试项测试不通过，则结束当前产品的测试之后，还包括：收集当前产品的各个待测试项的测试信息，并生成不合格文件上传至所述统计数据库，其中，所述测试信息至少包括测试数据、比较参数以及测试结果。5.根据权利要求4所述的产品测试方法，其特征在于，在所述收集当前产品的各个待测试项，并生成不合格文件上传至所述统计数据库之后，所述产品测试方法还包括：在所述统计数据库中新增的不合格文件数量达到预设数量时，更新所述统计数据库中统计的各个待测试项的通过率以及各个待测试项的通过率的升序排列顺序。6.根据权利要求4所述的产品测试方法，其特征在于，所述产品测试方法还包括：定时更新所述统计数据库中统计的各个待测试项的通过率以及各个待测试项的通过率的升序排列顺序。7.根据权利要求5或6所述的产品测试方法，其特征在于，更新所述统计数据库中统计的各个待测试项的通过率以及各个待测试项的通过率的升...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘熙民，李子龙，
申请(专利权)人：江西瑞声电子有限公司，
类型：发明
国别省市：