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互补式金属耦合线制造技术

技术编号:3758935 阅读:205 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种互补式金属耦合线,包含:一基板;m层网目金属层,此m层网目金属层之间分别与m-1层第一介电层交错叠接,由此形成一堆叠结构于此基板之上,其中此m-1层第一介电层还具有多个金属连接孔以连接交错叠接的此m层网目金属层,其中m≥2且m为自然数;一第二介电层,位于此堆叠结构之上;以及n条金属线,为相互边缘耦合且位于此第二介电层之上,其中n≥2且n为自然数。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及耦合传输线,特别是有关于互补式金属耦合线
技术介绍
薄膜微带(thin-film microstrip;以下简称TFMS)为目前最广泛被应用于实现单晶微波集成电路(monolithic microwave integrated circuit;以下简称MMIC)的传输线(transmission line;TL)的技术之一。然而,当TFMS在MMIC内被设计成反向波耦合器(backward-wave coupler)时,由于所耦合的TFMS在偶模与奇模(even-and odd-mode)相位的传输速度并不相同,因此亦将使得所设计的反向波耦合器在其指向性(directivity)的表现上较差。 并且,由于目前互补式金氧半导体(complementary metal oxidesemiconductor;CMOS)的制程技术限制了边缘耦合TFMS(edge-coupledTFMS)间的线距距离(spacing),因此,亦会使得边缘耦合TFMS的耦合量(tight coupling)在1/4传导波长(λg)时无法达到3.0dB。而另外一种现有的上下耦合(broad本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种互补式金属耦合线,其特征在于,包含:一基板;m层网目金属层,该m层网目金属层之间分别与m-1层第一介电层交错叠接,由此形成一堆叠结构于该基板之上,其中该m-1层第一介电层还具有多个金属连接孔以连接交错叠接的该m层网目金属层,其中m≥2且m为自然数;一第二介电层,位于该堆叠结构之上;以及n条金属线,为相互边缘耦合且位于该第二介电层之上,其中n≥2且n为自然数。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:庄晴光蒋孟儒吴宪顺
申请(专利权)人:庄晴光
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]

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