用于多通道打标损毁仪的电路模块以及多通道打标损毁仪制造技术

本发明专利技术医疗设备领域，具体涉及一种用于多通道打标损毁仪的电路模块以及多通道打标损毁仪，电路模块包括电源电路、光电耦合电路、高阻运算电路、放大电路、输出电路、单片机模块电路和显示电路；电源电路的升压模块连接输出电路，电源电路的降压模块分别连接到MCU和光电耦合电路，MCU分别连接到光电耦合电路和显示电路，光电耦合电路连接高阻运算电路，高阻运算电路连接放大电路，放大电路连接输出电路；所述单片机模块电路通过不同的引脚分别与电源电路、光电耦合电路、输出电路和显示电路连接；输出电路分为双通道、16通道以及32通道。本发明专利技术可以对损毁打标的时长、损毁打标的次数、损毁打标的通道数等进行自定义选定，操作更加简单。简单。简单。

【技术实现步骤摘要】
用于多通道打标损毁仪的电路模块以及多通道打标损毁仪


[0001]本专利技术医疗设备领域，具体涉及一种用于多通道打标损毁仪的电路模块以及多通道打标损毁仪。

技术介绍

[0002]目前，为研究某个合团或脑区的具体功能或神经环路中的作用机理，需要将这个核团或脑区破坏，使之失去相应的功能。通过观察受体的行为或者受体其他生理方面相比较于破坏之前的状态做了哪些改变来判断此核团的功能。损毁的方式为给脑区单向通过量电流，予以灼伤，产生不可逆的损伤，从而破坏目标核团功能。此种损毁方式简洁有效，应用也及其广泛，但目前相关仪器只依赖进口，价格昂贵、发货周期长。不仅如此，在多通道电生理记录实验中，电极在采集完数据后，为确认电极的植入位点为实际的预定脑区，在电极取出之前，需要给电极的每个通道微量电流灼烧相应的脑区进行打标，后期经脑组织病理切片拍照确认。市面上的损毁仪只有2道，需要手动连接每个通道，操作麻烦，控制不够精准。现有的损毁仪需要外置90V电池盒和内置一个9V电池才可以工作。

技术实现思路

[0003]为解决以上问题，本专利技术提供一种用于多通道打标损毁仪的电路模块以及多通道打标损毁仪，可以对损毁打标的时长、损毁打标的次数、损毁打标的通道数等进行自定义选定，操作更加简单。
[0004]本专利技术是通过如下技术方案实现的：一种用于多通道打标损毁仪的电路模块，其包括电源电路、光电耦合电路、高阻运算电路、放大电路、输出电路、单片机模块电路和显示电路；电源电路的升压模块连接输出电路，电源电路的降压模块分别连接到MCU和光电耦合电路，MCU分别连接到光电耦合电路和显示电路，光电耦合电路连接高阻运算电路，高阻运算电路连接放大电路，放大电路连接输出电路；所述单片机模块电路通过不同的引脚分别与电源电路、光电耦合电路、输出电路和显示电路连接；输出电路分为双通道、16通道以及32通道。
[0005]进一步地，所述光电耦合电路中电阻R1的一端和光耦U1的3脚均连接单片机模块电路，电阻R1的另一端连接光耦U1的2脚，光耦U1的2脚和光耦U1的3脚分别连接在电容C1的两端，光耦U1的6脚与光耦U1的8脚均连接电源电路的降压模块，光耦U1的5脚分别与电阻R2的一端、电容C2的一端和高阻运算电路连接，电容C2的另一端接地，电阻R2的另一端接可调电阻R3，电阻R3的另一端接地，电阻R3滑动的一端接电阻R4，电阻R4的另一端接高阻运算电路；所述高阻运算电路中运算放大器U2的2脚分别与电阻R5的一端、电容C3的一端、电阻R6的一端连接，电阻R5的另一端和电容C3的另一端均连接运算放大器U2的6脚，运算放大器U2的6脚和电阻R6的另一端均与放大电路连接；运算放大器U2的3脚与光电耦合电路中的电阻R4连接，运算放大器U2的7脚与光电耦合电路中的光耦U1的5脚连接；
所述放大电路中晶体管T1的1脚与电阻R7的一端连接，电阻R7的另一端与高阻运算电路中运算放大器U2的6脚连接，电阻R8的一端、晶体管T2的3脚和开关S4的1脚均与高阻运算电路中电阻R6连接；电阻R8的另一端分别与晶体管T1的3脚和晶体管T2的1脚连接，晶体管T1的2脚和晶体管T2的2脚均连接输出电路，开关S4的2脚接电阻R9的一端，电阻R9的另一端接地，开关S4的3脚接电阻R10的一端，电阻R10的另一端接地，开关S4的4脚接电阻R11的一端，电阻R11的另一端接地。
[0006]进一步地，还包括双刀双掷开关S2，双刀双掷开关S2的2脚和双刀双掷开关S2的5脚均与电源电路的升压模块连接，双刀双掷开关S2的2脚和双刀双掷开关S2的5脚还与电阻R12的一端连接，电阻R12的另一端与开关S3的2脚连接，开关S3的1脚分别与晶体管T1的2脚和晶体管T2的2脚连接，双刀双掷开关S2的6脚和双刀双掷开关S2的1脚均与放大电路中晶体管T1的2脚和晶体管T2的2脚连接；所述输出电路的输出口为OUTPUT的1脚和2脚，OUTPUT的1脚和2脚之间接电容C4的两端，OUTPUT的1脚与双刀双掷开关S2的4脚连接，OUTPUT的2脚与双刀双掷开关S2的3脚连接；OUTPUT的1脚接继电器K4～K35的3脚，16线译码器U3的1～11、13～17脚与16线译码器U4的1～11、13～17脚分别接继电器K4～K35的8脚，各继电器的4脚接在两个16通道的接线端子上用以输出。
[0007]进一步地，所述电源电路的10V电源一端通过开关S1连接所述光电耦合电路中光耦U1的6脚和8脚，10V电源另一端接地，电源电路的100V电源一端通过开关S1、双刀双掷开关S2连接输出电路，100V电源另一端接地。
[0008]进一步地，所述单片机模块电路采用Arduino Mega2560作为主控板；Arduino Mega2560接口分别与单片机模块电路中H3、H4、H5接头相连接；单片机模块电路中H3的3～6脚与输出电路中16线译码器U3的23～20脚相连接，H3的7～10脚与输出电路中16线译码器U4的23～20脚相连接，H3的19、11、12脚分别与显示电路中U5的4、5、6脚相连接，H3的32脚与输出电路中16线译码器U4的19脚相连接，H3的27脚与输出电路中16线译码器U3的19脚相连接；单片机模块电路中H4的4、5脚分别连接光电耦合电路的输入端int1和输入端int2，光电耦合电路的输入端int1连接电阻R1，光电耦合电路的输入端int2连接光耦U1的3脚；单片机模块电路中H5的1脚连接电源电路的降压模块，H5的2、3脚接地线，H5的4脚分别连接输出电路中的U3的24脚、U4的24脚以及继电器K4～K35的1引脚。
[0009]本专利技术还提供了一种多通道打标损毁仪，包括外壳以及设在外壳上的电源开关、稳压/稳流开关、正/反开关、屏幕、电流调节开关、电流范围取值开关、外置输入口、外置触发/内部触发切换开关、DC电源输入口、多通道输出口和双通道输出口；所述电源开关为电路模块的开关S1，用于控制多通道打标损毁仪运行的通断；所述稳压/稳流开关为电路模块的开关S3，用于控制多通道打标损毁仪处于稳压状态或稳流状态；所述正/反开关为电路模块的双刀双掷开关S2，用于控制电流输出的正反相；所述屏幕为电路模块的U5，用于显示当前多通道打标损毁仪的工作状态以及显示科研人员设定的相关参数；所述电流调节开关为电路模块的电阻R4，用于调节输出电流的数值；所述电流范围取值开关为电路模块的开关S4，用于控制三挡电流的选择；
所述外置输入口接光电耦合电路的输入端int1和输入端int2，用于科研人员需要使用外置信号发生器控制电流的状态时提供的接口；所述外置触发/内部触发切换开关用于选择是否使用外置信号发生器控制电流的状态；所述DC电源输入口连接电源电路，是12V直流电源输入口；所述多通道输出口为电路模块的H1/H1和H2，用于输出16/32道单相输出；所述双通道输出口为电路模块的OUTPUT，用于输出两道单相电流。
[0010]进一步地，所述外置输入口采用的是BNC接头。
[0011]进一步地，所述电流范围取值开关实现电流0到10本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于多通道打标损毁仪的电路模块，其特征在于：其包括电源电路（1）、光电耦合电路（2）、高阻运算电路（3）、放大电路（4）、输出电路（5）、单片机模块电路（6）和显示电路（7）；电源电路（1）的升压模块连接输出电路（5），电源电路（1）的降压模块分别连接到MCU和光电耦合电路（2），MCU分别连接到光电耦合电路（2）和显示电路（7），光电耦合电路（2）连接高阻运算电路（3），高阻运算电路（3）连接放大电路（4），放大电路（4）连接输出电路（5）；所述单片机模块电路（6）通过不同的引脚分别与电源电路（1）、光电耦合电路（2）、输出电路（5）和显示电路（7）连接；输出电路（5）分为双通道、16通道以及32通道。2.根据权利要求1所述的一种用于多通道打标损毁仪的电路模块，其特征在于：所述光电耦合电路（2）中电阻R1的一端和光耦U1的3脚均连接单片机模块电路（6），电阻R1的另一端连接光耦U1的2脚，光耦U1的2脚和光耦U1的3脚分别连接在电容C1的两端，光耦U1的6脚与光耦U1的8脚均连接电源电路（1）的降压模块，光耦U1的5脚分别与电阻R2的一端、电容C2的一端和高阻运算电路（3）连接，电容C2的另一端接地，电阻R2的另一端接可调电阻R3，电阻R3的另一端接地，电阻R3滑动的一端接电阻R4，电阻R4的另一端接高阻运算电路（3）；所述高阻运算电路（3）中运算放大器U2的2脚分别与电阻R5的一端、电容C3的一端、电阻R6的一端连接，电阻R5的另一端和电容C3的另一端均连接运算放大器U2的6脚，运算放大器U2的6脚和电阻R6的另一端均与放大电路（4）连接；运算放大器U2的3脚与光电耦合电路（2）中的电阻R4连接，运算放大器U2的7脚与光电耦合电路（2）中的光耦U1的5脚连接；所述放大电路（4）中晶体管T1的1脚与电阻R7的一端连接，电阻R7的另一端与高阻运算电路（3）中运算放大器U2的6脚连接，电阻R8的一端、晶体管T2的3脚和开关S4的1脚均与高阻运算电路（3）中电阻R6连接；电阻R8的另一端分别与晶体管T1的3脚和晶体管T2的1脚连接，晶体管T1的2脚和晶体管T2的2脚均连接输出电路（5），开关S4的2脚接电阻R9的一端，电阻R9的另一端接地，开关S4的3脚接电阻R10的一端，电阻R10的另一端接地，开关S4的4脚接电阻R11的一端，电阻R11的另一端接地。3.根据权利要求2所述的一种用于多通道打标损毁仪的电路模块，其特征在于：还包括双刀双掷开关S2，双刀双掷开关S2的2脚和双刀双掷开关S2的5脚均与电源电路（1）的升压模块连接，双刀双掷开关S2的2脚和双刀双掷开关S2的5脚还与电阻R12的一端连接，电阻R12的另一端与开关S3的2脚连接，开关S3的1脚分别与晶体管T1的2脚和晶体管T2的2脚连接，双刀双掷开关S2的6脚和双刀双掷开关S2的1脚均与放大电路（4）中晶体管T1的2脚和晶体管T2的2脚连接；所述输出电路（5）的输出口为OUTPUT的1脚和2脚，OUTPUT的1脚和2脚之间接电容C4的两端，OUTPUT的1脚与双刀双掷开关S2的4脚连接，OUTPUT的2脚与双刀双掷开关S2的3脚连接；OUTPUT的1脚接继电器K4～K35的3脚，16线译码器U3的1～11、13～17脚与16线译码器U4的1～11、13～17脚分别接继电器K4～K35的8脚，各继电器的4脚接在两个16通道的接线端子...

【专利技术属性】
技术研发人员：单成全，杨全威，郭超，周国庆，李永昌，
申请(专利权)人：科斗苏州脑机科技有限公司，
类型：发明
国别省市：