一种测量方法以及测量系统技术方案

本发明专利技术实施例公开了一种测量方法以及测量系统，用于提高区分结构光图案的准确性，以提高测量待测物体的三维信息的准确性。所述方法包括：测量装置获取测量图像，所述测量图像为对待测物体进行拍摄以形成，所述测量图像包括N个结构光图案以及M个标识光图案，所述M为大于或等于1的正整数，所述N为大于或等于2的正整数；所述测量装置在所述测量图像中识别出所述N个结构光图案以及所述M个标识光图案；所述测量装置根据所述M个标识光图案区分所述N个结构光图案中的每一个结构光图案；所述测量装置根据已区分的所述N个结构光图案获取所述待测物体的三维信息。待测物体的三维信息。待测物体的三维信息。

【技术实现步骤摘要】
一种测量方法以及测量系统


[0001]本申请涉及光学成像
，尤其涉及一种测量方法以及测量系统。

技术介绍

[0002]基于待测物体的三维信息，能够实现对待测物体的三维重建。为测量待测物体的三维信息，可将多线结构光照射在待测物体的表面上，相机对待测物体进行拍摄以测量装置获取测量图像。测量装置能够将测量图像所包括的多线结构光和测量装置已存储的模板里的多线结构光一一比对，通过比较测量图像里的多线结构光相对于模板里的多线结构光的改变，实现测量待测物体的三维信息的目的。
[0003]若在测量图像里的多线结构光的形状彼此一样，那么，测量装置无法对测量图像里的多线结构光精准的区分，也就无法与模板里的多线结构光进行比对。为此，测量装置需要对测量图像里的多线结构光依次编号，再将编号后的多线结构光与模板里的多线结构光一一比对。
[0004]但是，若线结构光因障碍物的遮挡导致线结构光出现丢失，或线结构光出现错位的情况，那么会导致测量图像里出现结构光的丢失或位置错位等情况，导致测量装置对多线结构光编号出现错误，使得进行比对时出现错误，从而降低了测量待测物体的三维信息的准确性。

技术实现思路

[0005]本专利技术实施例提供了一种测量方法以及测量系统，其用于提高区分结构光图案的准确性，以提高测量待测物体的三维信息的准确性。
[0006]本专利技术实施例第一方面提供了一种测量方法，所述方法包括：测量装置获取测量图像，所述测量图像为对待测物体进行拍摄以形成，所述测量图像包括N个结构光图案以及M个标识光图案，所述M为大于或等于1的正整数，所述N为大于或等于2的正整数；所述测量装置在所述测量图像中识别出所述N个结构光图案以及所述M个标识光图案；所述测量装置根据所述M个标识光图案区分所述N个结构光图案中的每一个结构光图案；所述测量装置根据已区分的所述N个结构光图案获取所述待测物体的三维信息。
[0007]可见，基于标识光图案，测量装置能够精确地确定各个结构光图案与模板光图案的对应关系，提高了测量待测物体的三维信息的准确性，而且提高了测量三维信息的效率。而且即便出现结构光图案丢失或错位的情况，测量装置也能够保证结构光图案准确地和对应的模板光图案比较变化以实现三维信息的测量，保证测量三维信息的鲁棒性。
[0008]基于第一方面，一种可选地实现方式中，所述测量装置获取测量图像之前，所述方法还包括：投影装置向所述待测物体发射结构光，以在所述待测物体的表面照射出所述N个结构光图案；所述投影装置向所述待测物体发射标识光，以在所述待测物体的表面照射出所述M个标识光图案；图像采集装置拍摄所述待测物体以获取所述测量图像；所述图像采集装置向所述测量装置发送所述测量图像。
[0009]可见，图像采集装置能够对待测物体进行拍摄，以获取包括N个结构光图案和M个标识光图案的测量图像，以保证测量装置基于来自图像采集装置的测量图像实现对待测物体的三维信息的测量。
[0010]基于第一方面，一种可选地实现方式中，所述投影装置向所述待测物体发射标识光包括：所述投影装置根据所述待测物体对应的状态，确定照射在所述待测物体表面上的所述M个标识光图案的光强度。
[0011]可见，投影装置能够根据待测物体所对应的状态，动态的调整照射在待测物体表面上的M个标识光图案的光强度，以保证测量图像所包括的标识光图案是成像清晰的，保证了基于标识光图案确定对应的标识光图案以及模板光图案的准确性，保证了测量三维信息的准确性。
[0012]基于第一方面，一种可选地实现方式中，所述M个标识光图案中的一个目标标识光图案和所述N个结构光图案中的一个目标结构光图案，满足如下所示的一个条件：所述目标标识光图案与所述目标结构光图案连接；所述目标标识光图案与所述目标结构光图案部分重合；或所述目标标识光图案与所述目标结构光图案之间的间距小于或等于预设值。
[0013]可见，基于目标结构光图案和目标标识光图案所满足的条件，能够保证测量装置精确地保证目标标识光图案能够在N个结构光图案中区分出目标结构光图案。
[0014]基于第一方面，一种可选地实现方式中，所述M个标识光图案与N个模板光图案对应，所述测量装置根据已区分的所述N个结构光图案获取所述待测物体的三维信息包括：所述测量装置根据所述M个标识光图案，获取所述N个结构光图案对应的所述N个模板光图案；所述测量装置根据所述N个结构光图案相对于所述N个模板光图案的变化，获取所述待测物体的三维信息。
[0015]可见，基于标识光图案，测量装置能够精确地确定各个结构光图案与模板光图案的对应关系，比较结构光图案和与该结构光图案对应的模板光图案的变化，以实现三维信息的测量，提高了测量待测物体的三维信息的准确性，而且提高了测量三维信息的效率。而且即便出现结构光图案丢失或错位的情况，测量装置也能够保证结构光图案准确地和对应的模板光图案比较变化以实现三维信息的测量，保证测量三维信息的鲁棒性。
[0016]基于第一方面，一种可选地实现方式中，所述测量装置根据所述M个标识光图案，获取所述N个结构光图案对应的所述N个模板光图案包括：所述测量装置获取标识列表，所述标识列表包括所述标识光图案和标识序号的对应关系，所述标识列表还包括所述标识序号与所述模板光图案的对应关系，且不同的所述标识序号与不同的所述模板光图案对应；所述测量装置根据所述标识列表，获取所述M个标识光图案对应的N个所述标识序号；所述测量装置根据所述标识列表，获取所述N个标识序号对应的N个模板光图案。
[0017]可见，测量装置能够确定与各个标识光图案对应的标识序号，再根据各个标识序号对应的模板光图案，能够准确地获取与各个结构光图案分别对应的模板光图案，提高了测量三维信息的准确性。
[0018]基于第一方面，一种可选地实现方式中，所述测量装置根据所述M个标识光图案，获取所述N个结构光图案对应的所述N个模板光图案包括：所述测量装置获取所述M个标识光图案对应的M个模板标识光图案，所述M个模板标识光图案用于区分所述N个模板光图案中的每个模板光图案，所述M个标识光图案中的每个所述标识光图案与对应的所述模板标
识光图案至少部分相同；所述测量装置获取所述M个模板标识光图案对应的N个模板光图案。
[0019]可见，测量装置能够确定与各个标识光图案对应的模板标识光图案，再根据各个模板标识光图案对应的模板光图案，能够准确地获取与各个结构光图案分别对应的模板光图案，提高了测量三维信息的准确性。
[0020]基于第一方面，一种可选地实现方式中，所述M等于所述N，所述M个标识光图案中的每个所述标识光图案对应一个标识信息，不同的所述标识光图案对应不同的所述标识信息，所述标识信息为标识序号或模板标识光图案。
[0021]可见，在M等于N的情况下，测量装置能够根据标识光图案和结构光图案一一对应的关系，准确地获取与各个结构光图案分别对应的模板光图案，提高了测量三维信息的准确性。
[0022]基于第一方面，一种可选地实现方式中，所述M大于所述N，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测量方法，其特征在于，所述方法包括：测量装置获取测量图像，所述测量图像为对待测物体进行拍摄以形成，所述测量图像包括N个结构光图案以及M个标识光图案，所述M为大于或等于1的正整数，所述N为大于或等于2的正整数；所述测量装置在所述测量图像中识别出所述N个结构光图案以及所述M个标识光图案；所述测量装置根据所述M个标识光图案区分所述N个结构光图案中的每一个结构光图案；所述测量装置根据已区分的所述N个结构光图案获取所述待测物体的三维信息。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测量装置获取测量图像之前，所述方法还包括：投影装置向所述待测物体发射结构光，以在所述待测物体的表面照射出所述N个结构光图案；所述投影装置向所述待测物体发射标识光，以在所述待测物体的表面照射出所述M个标识光图案；图像采集装置拍摄所述待测物体以获取所述测量图像；所述图像采集装置向所述测量装置发送所述测量图像。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述投影装置向所述待测物体发射标识光包括：所述投影装置根据所述待测物体对应的状态，确定照射在所述待测物体表面上的所述M个标识光图案的光强度。4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述M个标识光图案中的一个目标标识光图案和所述N个结构光图案中的一个目标结构光图案，满足如下所示的一个条件：所述目标标识光图案与所述目标结构光图案连接；所述目标标识光图案与所述目标结构光图案部分重合；或所述目标标识光图案与所述目标结构光图案之间的间距小于或等于预设值。5.根据权利要求1至4任一项所述的方法，其特征在于，所述M个标识光图案与N个模板光图案对应，所述测量装置根据已区分的所述N个结构光图案获取所述待测物体的三维信息包括：所述测量装置根据所述M个标识光图案，获取所述N个结构光图案对应的所述N个模板光图案；所述测量装置根据所述N个结构光图案相对于所述N个模板光图案的变化，获取所述待测物体的三维信息。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述测量装置根据所述M个标识光图案，获取所述N个结构光图案对应的所述N个模板光图案包括：所述测量装置获取标识列表，所述标识列表包括所述标识光图案和标识序号的对应关系，所述标识列表还包括所述标识序号与所述模板光图案的对应关系，且不同的所述标识序号与不同的所述模板光图案对应；所述测量装置根据所述标识列表，获取所述M个标识光图案对应的N个所述标识序号；所述测量装置根据所述标识列表，获取所述N个标识序号对应的N个模板光图案。
7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述测量装置根据所述M个标识光图案，获取所述N个结构光图案对应的所述N个模板光图案包括：所述测量装置获取所述M个标识光图案对应的M个模板标识光图案，所述M个模板标识光图案用于区分所述N个模板光图案中的每个模板光图案，所述M个标识光图案中的每个所述标识光图案与对应的所述模板标识光图案至少部分相同；所述测量装置获取所述M个模板标识光图案对应的N个模板光图案。8.根据权利要求6或7所述的方法，其特征在于，所述M等于所述N，所述M个标识光图案中的每个所述标识光图案对应一个标识信息，不同的所述标识光图案对应不同的所述标识信息，所述标识信息为标识序号或模板标识光图案。9.根据权利要求6或7所述的方法，其特征在于，所述M大于所述N，所述M个标识光图案中，至少两个所述标识光图案共同对应一个标识信息，所述标识信息为标识序号或模板标识光图案。10.根据权利要求6或7所述的方法，其特征在于，所述M小于所述N，所述M个标识光图案包括位置相邻的第一标识光图案和第二标识光图案；所述第一标识光图案对应第一标识信息；所述第二标识光图案对应第二标识信息；按序排列的N个标识信息中，所述第一标识信息和所述第二标识信息之间还包括第三标识信息，所述第一标识光图案和所述第二标识光图案共同对应所述第三标识信息，所述标识信息为标识序号或模板标识光图案。11.根据权利要求5至10任一项所述的方法，其特征在于，所述测量装置根据所述M个标识光图案，获取所述N个结构光图案对应的所述N个模板光图案包括：所述测量装置在所述测量图像中识别出所述M个标识光图案分别对应的样式，其中，不同的所述结构光图案对应的所述标识光图案的样式不同；所述测量装置根据所述M个标识光图案分别对应的样式，确定所述N个结构光图案对应的所述N个模板光图案。12.根据权利要求5至10任一项所述的方法，其特征在于，所述测量装置根据所述M个标识光图案，获取所述N个结构光图案对应的所述N个模板光图案包括：所述测量装置在所述测量图像中识别出所述M个标识光图案分别携带的编码信息，其中，不同的所述结构光图案对应的所述标识光图案所携带的编码信息不同；所述测量装置根据所述M个标识光图案分别携带的所述编码信息，确定所述N个结构光图案对应的所述N个模板光图案。13.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，所述编码信息包括多个编码值，所述标识光图案具有多个子图案，所述多个子图案各自的亮度或颜色中的至少一项对应...

【专利技术属性】
技术研发人员：张小龙，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：