一种绝缘子检测方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种绝缘子检测方法、装置、电子设备及存储介质，其中，该方法包括：对待检测绝缘子对应的红外图像进行卷积处理，得到待处理差分图像，并提取待处理差分图像中的至少一个待处理特征点；确定与各待处理特征点相对应的像素点关联信息，并基于像素点关联信息确定相应待处理特征点所对应的待比对特征向量；根据各待处理特征点的待比对向量和相应的目标特征向量，确定相应的待处理特征点所对应的待确定误差；根据待确定误差小于预设误差的目标特征点，确定待检测绝缘子中的劣化绝缘区域。取到了在不受温度环境影响的前提下，基于包含绝缘子的红外图像准确的检测绝缘子中的劣化绝缘区域的效果，同时也提高了检测效率，降低了工作人员的工作量。降低了工作人员的工作量。降低了工作人员的工作量。

【技术实现步骤摘要】
一种绝缘子检测方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及电网检测
，尤其涉及一种绝缘子检测方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]室外绝缘子暴露在空气中，遭受雨、雪、霜、露等，长期承受工作电压和电线张力，可能会出现绝缘体零值，影响电网的正常运行。
[0003]目前，对绝缘子的检测通常是通过拍摄绝缘子图像，并基于人工检测的方式确定绝缘子是否存在劣化情况，或者是采集绝缘子的红外图像，并根据红外图像中的温度信息，判断绝缘子是否存在劣化情况。但是基于人工检测的检测结果不准确，或者基于红外图像检测时容易受到外界环境的影响。
[0004]为了解决上述问题，需要对绝缘子的检测方法进行改进。

技术实现思路

[0005]本专利技术提供了一种绝缘子检测方法、装置、电子设备及存储介质，以解决基于人工检测的方式对绝缘子检测时检测效率低和检测结果不准确，或者基于红外图像中的温度信息进行检测收到环境影响因素较大的问题。
[0006]第一方面，本专利技术实施例提供了一种绝缘子检测方法，包括：
[0007]对待检测绝缘子对应的红外图像进行卷积处理，得到待处理差分图像，并提取所述待处理差分图像中的至少一个待处理特征点；
[0008]确定与各待处理特征点相对应的像素点关联信息，并基于所述像素点关联信息确定相应待处理特征点所对应的待比对特征向量；其中，所述像素点关联信息中包括相应待处理特征点邻域内的至少一个关联像素点，以及各关联像素点相对于所述待处理特征点的待确定距离和待确定角度；
[0009]根据各所述待处理特征点的待比对向量和相应的目标特征向量，确定相应的待处理特征点所对应的待确定误差；其中，所述目标特征向量为预先确定的向量；
[0010]根据待确定误差小于预设误差的目标特征点，确定所述待检测绝缘子中的劣化绝缘区域；
[0011]其中，所述目标特征点为所述至少一个待处理特征点中的特征点。
[0012]第二方面，本专利技术实施例还提供了一种绝缘子检测装置，包括：
[0013]待处理特征点确定模块，用于对待检测绝缘子对应的红外图像进行卷积处理，得到待处理差分图像，并提取所述待处理差分图像中的至少一个待处理特征点；
[0014]特征向量确定模块，用于确定与各待处理特征点相对应的像素点关联信息，并基于所述像素点关联信息确定相应待处理特征点所对应的待比对特征向量；其中，所述像素点关联信息中包括相应待处理特征点邻域内的至少一个关联像素点，以及各关联像素点相对于所述待处理特征点的待确定距离和待确定角度；
[0015]待确定误差确定模块，用于根据各所述待处理特征点的待比对向量和相应的目标特征向量，确定相应的待处理特征点所对应的待确定误差；其中，所述目标特征向量为预先确定的向量；
[0016]劣化绝缘区域确定模块，用于根据待确定误差小于预设误差的目标特征点，确定所述待检测绝缘子中的劣化绝缘区域；
[0017]其中，所述目标特征点为所述至少一个待处理特征点中的特征点。
[0018]第三方面，本专利技术实施例还提供了一种电子设备，包括：
[0019]至少一个处理器；以及
[0020]与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
[0021]所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本专利技术任一实施例所述的绝缘子检测方法。
[0022]第四方面，本专利技术实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本专利技术任一实施例所述的绝缘子检测方法。
[0023]本专利技术实施例的技术方案，通过对待检测绝缘子对应的红外图像进行卷积处理，得到待处理差分图像，并提取待处理差分图像中的至少一个待处理特征点；确定与各待处理特征点相对应的像素点关联信息，并基于像素点关联信息确定相应待处理特征点所对应的待比对特征向量；根据各待处理特征点的待比对向量和相应的目标特征向量，确定相应的待处理特征点所对应的待确定误差；根据待确定误差小于预设误差的目标特征点，确定待检测绝缘子中的劣化绝缘区域。解决了基于人工检测的方式对绝缘子检测时检测效率低和检测结果不准确，或者基于红外图像中的温度信息进行检测收到环境影响因素较大的问题，取到了在不受温度环境影响的前提下，基于包含绝缘子的红外图像准确的检测绝缘子中的劣化绝缘区域的效果，同时也提高了检测效率，降低了工作人员的工作量。
[0024]应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
[0025]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0026]图1是根据本专利技术实施例一提供的一种绝缘子检测方法的流程图；
[0027]图2是根据本专利技术实施例一提供的一种红外成像检测的检测装置的结构示意图；
[0028]图3是根据本专利技术实施例二提供的一种绝缘子检测方法的流程图；
[0029]图4是根据本专利技术实施例二提供的一种确定待处理方向向量组的示意图；
[0030]图5是根据本专利技术实施例二提供的一种方向向量之间的待确定夹角示意图；
[0031]图6是根据本专利技术实施例三提供的一种绝缘子检测装置的结构示意图；
[0032]图7是实现本专利技术实施例的绝缘子检测方法的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0033]为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。
[0034]需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本专利技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。
[0035]在对本技术方案进行详细阐述之前，先对本技术方案的应用场景进行简单介绍，以便更加清楚地理解本技术方案。室外绝缘子暴露在空气中，遭受雨雪霜露等，长期承受工作电压和电线张力，可能导致绝缘失效。严重时可能会造成绝缘体零值，导致单相接地、闪络、击穿或停电。这将严重影响电网的安全运行，并带来重大的经济损失。因此，为了保证电网的安全运行，需要及时对零值绝缘子进行检测，即，对绝缘子的劣化绝缘区域进行检测。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种绝缘子检测方法，其特征在于，包括：对待检测绝缘子对应的红外图像进行卷积处理，得到待处理差分图像，并提取所述待处理差分图像中的至少一个待处理特征点；确定与各待处理特征点相对应的像素点关联信息，并基于所述像素点关联信息确定相应待处理特征点所对应的待比对特征向量；其中，所述像素点关联信息中包括相应待处理特征点邻域内的至少一个关联像素点，以及各关联像素点相对于所述待处理特征点的待确定距离和待确定角度；根据各所述待处理特征点的待比对向量和相应的目标特征向量，确定相应的待处理特征点所对应的待确定误差；其中，所述目标特征向量为预先确定的向量；根据待确定误差小于预设误差的目标特征点，确定所述待检测绝缘子中的劣化绝缘区域；其中，所述目标特征点为所述至少一个待处理特征点中的特征点。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对待检测绝缘子对应的红外图像进行卷积处理，得到待处理差分图像，并提取所述待处理差分图像中的至少一个待处理特征点，包括：基于红外成像设备对所述待检测绝缘子进行拍摄，得到包含所述待检测绝缘子的红外图像；基于预先构建的高斯核函数对所述红外图像进行卷积处理，得到待处理差分图像；基于特征点检测算法，提取所述待处理差分图像中的至少一个待处理特征点。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定与各待处理特征点相对应的像素点关联信息，并基于所述像素点关联信息确定相应待处理特征点所对应的待比对特征向量，包括：针对各所述待处理特征点，确定当前特征点邻域内的至少一个关联像素点，并基于距离函数确定各关联像素点与所述当前特征点之间的待确定距离；确定与所述当前特征点相对应的待处理区域，并对所述待处理区域内的各待处理像素点的方向参数进行加权处理，得到与所述当前特征点相对应的待处理方向向量组；其中，所述待处理方向向量组中包括一个主方向向量和至少一个辅方向向量，所述至少一个辅方向向量中以最短的方向向量为所述当前特征点的基准方向向量；根据所述待处理方向向量组中的各方向向量，确定所述当前特征点的待确定角度；基于所述当前特征点对应的待确定距离和待确定角度，确定与所述当前特征点相对应的待比对向量。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述确定与所述当前特征点相对应的待处理区域，并对所述待处理区域内的各待处理像素点的方向参数进行加权处理，得到与所述当前特征点相对应的待处理方向向量组，包括：根据高斯核函数中的尺度变换因子确定待使用半径，并根据所述待使用半径构建所述当前特征点的待处理区域；其中，所述待处理区域的中心点为所述当前特征点；基于高斯加权算法，对所述待处理区域内的至少一个待处理像素点进行加权处理，得到所述当前特征点的待使用方向向量组。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述待处理方向向量组中的各方
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【专利技术属性】
技术研发人员：李靖，魏东亮，刘从聪，周佳，
申请(专利权)人：广东电网有限责任公司东莞供电局，
类型：发明
国别省市：