一种监测点放样及测量方法技术

本发明专利技术公开了一种监测点放样及测量方法，包括以下步骤：S1、建立DEM，并在所述DEM上标定监测点位置；S2、测量沉降类监测点数据并标定在DEM上，作为沉降类监测点的监测布点图；S3、测量水平位移类监测点数据并标定在DEM上，作为水平位移类监测点的监测布点图；S4、采用监测点放样及测量辅助装置对沉降类监测点和水平位移类监测点进行放样；S5、按照沉降类监测点和水平位移类监测点的放样位置进行监测点布设，监测点布设完成后，进行监测点初始值采集；S6、使用监测点放样及测量辅助装置按照规定监测频率进行监测。本发明专利技术有效地降低监测难度、提高监测精度、显著地减少误差和简化计算过程。过程。过程。

【技术实现步骤摘要】
一种监测点放样及测量方法


[0001]本专利技术涉及城市轨道交通工程监测
，尤其涉及一种监测点放样及测量方法。

技术介绍

[0002]随着我国经济的快速发展，城市地下空间的开发与利用也呈现快速发展和技术升级加快的趋势。在城市轨道交通建设过程中，工程监测在保障基坑及隧道工程安全施工中发挥了至关重要的作用。
[0003]当前基坑及隧道工程监测点放样多采用载波相位差分技术(RTK)或全站仪进行放样。但RTK放样精度不够高，监测点放样误差偏大，不能满足日益严格的城市轨道交通对监测点放样的高精度要求；全站仪放样过程复杂，太过繁琐。监测点竖向位移测量多采用水准仪进行监测，水平位移监测多采用全站仪进行监测，面对基坑工程复杂的水平位移和竖向位移监测点位，仪器更换与监测过程较为繁琐。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种监测点放样及测量方法。
[0005]一种监测点放样及测量方法，包括以下步骤：
[0006]S1、建立DEM，并在所述DEM上标定监测点位置；
[0007]S2、测量沉降类监测点数据并标定在DEM上，作为沉降类监测点的监测布点图；
[0008]S3、测量水平位移类监测点数据并标定在DEM上，作为水平位移类监测点的监测布点图；
[0009]S4、采用监测点放样及测量辅助装置对沉降类监测点和水平位移类监测点进行放样；
[0010]S5、按照沉降类监测点和水平位移类监测点的放样位置进行监测点布设，监测点布设完成后，进行监测点初始值采集；
[0011]S6、使用监测点放样及测量辅助装置按照规定监测频率进行监测。
[0012]在其中一个实施例中，所述步骤S1包括：
[0013]S11、布设工作基点、基准点；
[0014]S12、定期将工作基点与基准点进行联测；
[0015]S13、构建航线，建立测区，测区内进行摄影测量用像控点布设；
[0016]S14、将所述基准点、工作基点和像控点进行联测；
[0017]S15、运用高精度无人机搭载激光雷达进行倾斜摄影测量，标定航线进行航测，拍摄摄影测量相片；
[0018]S16、采用图像处理软件处理测量相片，生成DEM；
[0019]S17、将隧道、基坑坐标，标定隧道、基坑的位置导入到DEM中；
[0020]S18、在DEM上标定监测点位置。
[0021]在其中一个实施例中，所述步骤S11包括：
[0022]S111、每个工点在监测点布设前，先进行基准点布设，基准点之间形成闭合环；
[0023]S112、均匀布设一定数量的工作基点，工作基点布设于基坑边缘与隧道两侧，并设置相应的标志。
[0024]在其中一个实施例中，所述基准点包括高程基准点和水平基准点，每个工点的所述高程基准点的数量不少于3个，水平基准点数量不少于4个。
[0025]在其中一个实施例中，所述步骤S2包括：测量得到沉降类监测点与临近一个基准点或工作基点的平距，沉降类监测点与地理正北方向的夹角；标定每个沉降监测点与临近基准点或工作基点的相对位置关系，将DEM作为沉降类监测点的监测布点图。
[0026]在其中一个实施例中，所述步骤S3包括：测量得到水平位移类监测点与临近一个基准点或工作基点的平距，水平位移类监测点与地理正北方向的夹角；标定每个水平位移监测点与临近基准点或工作基点的相对位置关系，将DEM作为水平位移类监测点的监测布点图。
[0027]在其中一个实施例中，所述步骤S4中的监测点放样及测量辅助装置包括：
[0028]磁偏角显示调节组件，包括磁偏角显示盘、磁偏角调节单元和磁偏角锁定单元，所述磁偏角显示盘能够读取监测地区的磁偏角角度，所述磁偏角调节单元能够对所述磁偏角显示盘进行磁偏角角度校正，所述磁偏角锁定单元能够锁定所述磁偏角显示盘的磁偏角；
[0029]放样及测量组件，包括偏移角度测量单元和距离测量单元，所述偏移角度测量单元用于对监测点的位置进行偏移角度测量，所述距离测量单元用于对监测点的位置进行距离测量；
[0030]其中，所述距离测量单元包括：
[0031]距离测量仪，所述距离测量仪设置在所述偏移指针的外伸端，所述距离测量仪上设有距离放样开关和距离测量开关，所述距离放样开关和距离测量开关能够分别切换放样模式和测距模式；
[0032]对中杆，与所述距离测量仪相配合，所述距离测量仪包括：
[0033]放样距离输入钮，用于输入放样标定距离；
[0034]测量仪显示屏，用于显示测量或放样距离；
[0035]激光测距探头，所述激光测距探头能够发出激光。
[0036]在其中一个实施例中，所述步骤S4包括：
[0037]S41、在基准点或工作基点架设三角架或支撑杆，
[0038]S42、在三角架或支撑杆上安装监测点放样及测量辅助装置，调节水平后，将装置调整至放样模式；
[0039]S43、输入于DEM上测量得到的沉降类监测点与临近一个基准点或工作基点的平距，沉降类监测点与地理正北方向的夹角，采用对中杆进行放样，实现沉降类监测点的精准放样；
[0040]S44、输入于DEM上测量得到的水平位移类监测点与临近一个基准点或工作基点的平距，水平位移类监测点与地理正北方向的夹角，采用对中杆进行放样，实现水平位移类监测点精准放样。
[0041]在其中一个实施例中，所述步骤S5包括：
[0042]S51、初始值采集阶段，于基准点或工作基点架设三角架或支撑杆，于三角架或支撑杆上安装监测点放样及测量辅助装置，调节水平后，将装置调整至测量模式；
[0043]S52、将对中杆放置于监测点并调整至水平，打开激光测距探头，测得装置与基准点或工作基点距离，或读取支撑杆高度；
[0044]S53、测量得到沉降类监测点与该基准点或工作基点的高差；水平位移类监测点与该基准点或工作基点的平距，与地理正北方向的夹角，将其记录作为该测点初始值。
[0045]在其中一个实施例中，所述步骤S6包括：测量得到沉降类监测点与该基准点或工作基点的高差，该测值与初始值差值即为测量得到变形结果；测量得到水平位移类监测点与该基准点或工作基点的平距，与地理正北方向的夹角，计算得到该测值与初始值差值，该差值沿垂直于基坑方向分量即为测量得到变形结果。
[0046]上述监测点放样及测量方法，集放样与测量为一体，有效地降低监测难度、提高监测精度、显著地减少误差和简化计算过程。
附图说明
[0047]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0048]图1是本专利技术的监测点放样及测量方法的示意图；
[0049]图2是本专利技术的监本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种监测点放样及测量方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、建立DEM，并在所述DEM上标定监测点位置；S2、测量沉降类监测点数据并标定在DEM上，作为沉降类监测点的监测布点图；S3、测量水平位移类监测点数据并标定在DEM上，作为水平位移类监测点的监测布点图；S4、采用监测点放样及测量辅助装置对沉降类监测点和水平位移类监测点进行放样；S5、按照沉降类监测点和水平位移类监测点的放样位置进行监测点布设，监测点布设完成后，进行监测点初始值采集；S6、使用监测点放样及测量辅助装置按照规定监测频率进行监测。2.如权利要求1所述的监测点放样及测量方法，其特征在于，步骤S1包括：S11、布设工作基点、基准点；S12、定期将工作基点与基准点进行联测；S13、构建航线，建立测区，测区内进行摄影测量用像控点布设；S14、将所述基准点、工作基点和像控点进行联测；S15、运用高精度无人机搭载激光雷达进行倾斜摄影测量，标定航线进行航测，拍摄摄影测量相片；S16、采用图像处理软件处理测量相片，生成DEM；S17、将隧道、基坑坐标，标定隧道、基坑的位置导入到DEM中；S18、在DEM上标定监测点位置。3.如权利要求2所述的监测点放样及测量方法，其特征在于，步骤S11包括：S111、每个工点在监测点布设前，先进行基准点布设，基准点之间形成闭合环；S112、均匀布设一定数量的工作基点，工作基点布设于基坑边缘与隧道两侧，并设置相应的标志。4.如权利要求3所述的监测点放样及测量方法，其特征在于，所述基准点包括高程基准点和水平基准点，每个工点的所述高程基准点的数量不少于3个，水平基准点数量不少于4个。5.如权利要求1所述的监测点放样及测量方法，其特征在于，步骤S2包括：测量得到沉降类监测点与临近一个基准点或工作基点的平距，沉降类监测点与地理正北方向的夹角；标定每个沉降监测点与临近基准点或工作基点的相对位置关系，将DEM作为沉降类监测点的监测布点图。6.如权利要求1所述的监测点放样及测量方法，其特征在于，步骤S3包括：测量得到水平位移类监测点与临近一个基准点或工作基点的平距，水平位移类监测点与地理正北方向的夹角；标定每个水平位移监测点与临近基准点或工作基点的相对位置关系，将DEM作为水平位移类监测点的监测布点图。7.如权利要求1所述的监测点放样及测量方法，其特征在于，步骤S4中的监测点放样及测量辅助装置包括：磁偏角显示调节组件(1)，包括磁偏角显示盘(11)、磁偏角调节单元和磁偏角锁定单元(113)，磁偏角显示盘(11)能够读取...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨东仁，苏秀婷，王学哲，赵婕，李耀，孙斌，姚瑶，郭钰婷，王凤娟，
申请(专利权)人：上海勘察设计研究院集团有限公司，
类型：发明
国别省市：