一种用于探针卡水平和压力校准机构制造技术

本申请涉及一种用于探针卡水平和压力校准机构，属于显示面板检测技术领域，包括：测试台，该测试台包括用于定位被测电子产品的吸附载台，所述被测电子产品连接有导通被测电子产品的探针卡；传感器，该传感器至少设有两个，两个所述传感器分别位于吸附载台的两侧，两个所述传感器用于分别检测探针卡两侧的压力。本申请当被测电子产品需要插接探针卡通电进行测试时，位于吸附载台两侧的传感器能够准确检测探针卡与被测电子产品之间的压接力。当两个传感器检测到探针卡两侧的压力一致且达到设定压力值时，则表明插探针卡与被测电子产品连接可靠，否者表明压接力过大或接触不良，提高了被测电子产品的检测可靠性。被测电子产品的检测可靠性。被测电子产品的检测可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种用于探针卡水平和压力校准机构


[0001]本申请涉及显示面板检测
，特别涉及一种用于探针卡水平和压力校准机构。

技术介绍

[0002]目前显示面板检测行业在对显示面板进行测试前，需要将显示面板上的连接器与测试设备进行导通，来使信号导通，以达到测试目的。当前的测试方式，主要是使用探针卡来与显示面板的连接器进行压接，压接的稳定性，是影响测试良率的一个很大因素。
[0003]相关技术中，探针卡与显示面板的连接器进行压接过程中，探针卡与显示面板的连接器的压接力检测是通过压接距离来进行估算，无法进行准确量化，如果发生探针卡倾斜也无法感知，压接力不够导致接触不良，压接力过大导致探针损坏。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供一种用于探针卡水平和压力校准机构，以解决相关技术中探针卡与显示面板的连接器的压接力难以量化的问题，导致压接力难以控制，影响显示面板的检测结果的问题。
[0005]本申请实施例提供了一种用于探针卡水平和压力校准机构，包括：
[0006]测试台，所述测试台包括用于定位被测电子产品的吸附载台，所述被测电子产品连接有导通被测电子产品的探针卡；
[0007]传感器，所述传感器至少设有两个，两个所述传感器分别位于吸附载台的两侧，两个所述传感器用于分别检测探针卡两侧的压力。
[0008]在一些实施例中：所述吸附载台的顶部设有定位所述被测电子产品的定位槽，定位槽位于两个所述传感器之间。
[0009]在一些实施例中：所述吸附载台上开设有若干个吸附所述被测电子产品的真空吸附孔，若干个真空吸附孔位于两个所述传感器之间。
[0010]在一些实施例中：所述吸附载台包括陶瓷板和铝支撑板，若干个所述真空吸附孔位于陶瓷板上，所述铝支撑板位于陶瓷板的底部，所述铝支撑板上开设有与若干真空吸附孔相通的吸附槽，所述吸附槽通过管路与真空发生器连接。
[0011]在一些实施例中：所述陶瓷板和铝支撑板的两侧分别开设有容纳传感器的安装孔，两个所述传感器的顶面高出陶瓷板的顶面，且两个所述传感器的顶面相互齐平。
[0012]在一些实施例中：所述测试台还包括底座，所述底座上设有支撑所述吸附载台的绝热垫板，所述绝热垫板内设有冷却被测电子产品的致冷器件。
[0013]在一些实施例中：所述绝热垫板上开设有容纳致冷器件的定位孔，所述致冷器件位于绝热垫板的定位孔内，所述致冷器件为帕尔贴热电半导体致冷器件，所述致冷器件的冷端贴于吸附载台的底面，所述致冷器件的热端贴于底座的顶面。
[0014]在一些实施例中：所述底座为铝合金板材，所述底座的底部设有若干依次排列的
散热片。
[0015]在一些实施例中：所述底座的底部设有容纳若干所述散热片的凹槽，所述底座的底部设有将若干所述散热片封闭在凹槽内的底封板，所述底座上开设有向所述凹槽内通入压缩空气的进气孔和出气孔。
[0016]在一些实施例中：还包括显示各所述传感器压力数值的显示单元。
[0017]本申请提供的技术方案带来的有益效果包括：
[0018]本申请实施例提供了一种用于探针卡水平和压力校准机构，由于本申请的用于探针卡水平和压力校准机构设置了测试台，该测试台包括用于定位被测电子产品的吸附载台，被测电子产品连接有导通被测电子产品的探针卡；传感器，该传感器至少设有两个，两个传感器分别位于吸附载台的两侧，两个传感器用于分别检测探针卡两侧的压力。
[0019]因此，本申请的用于探针卡水平和压力校准机构的测试台上设置了吸附被测电子产品的吸附载台，该吸附载台能够定位被测电子产品。当被测电子产品需要插接探针卡通电进行测试时，位于吸附载台两侧的传感器能够准确检测探针卡与被测电子产品之间的压接力。当两个传感器检测到探针卡两侧的压力一致且达到设定压力值时，则表明插探针卡与被测电子产品连接可靠，否者表明压接力过大或接触不良，提高了被测电子产品的检测可靠性。
[0020]本申请的用于探针卡水平和压力校准机构在吸附载台的顶部设有定位被测电子产品的定位槽，定位槽位于两个传感器之间。在吸附载台上开设有若干个吸附被测电子产品的真空吸附孔，若干个真空吸附孔位于两个传感器之间。吸附载台顶部的定位槽能够快速定位被测电子产品，以使被测电子产品在吸附载台上快速定位。吸附载台顶部的若干个真空吸附孔能够吸附被测电子产品，防止在测试过程中被测电子产品在吸附载台上移动，提高被测电子产品的检测可靠性。
[0021]本申请的用于探针卡水平和压力校准机构的吸附载台包括陶瓷板和铝支撑板，若干个真空吸附孔位于陶瓷板上，铝支撑板位于陶瓷板的底部，铝支撑板上开设有与若干真空吸附孔相通的吸附槽，吸附槽通过管路与真空发生器连接。若干个真空吸附孔位于陶瓷板上，即保证了陶瓷板与被测产品接触的光滑性，又可以避免在陶瓷板上深度钻孔，降低加工难度。铝支撑板上开设有与若干真空吸附孔相通的吸附槽，便于加工制作，降低生产成本。
[0022]本申请的用于探针卡水平和压力校准机构在陶瓷板和铝支撑板的两侧分别开设有容纳传感器的安装孔，两个传感器的顶面高出陶瓷板的顶面，且两个传感器的顶面相互齐平。陶瓷板和铝支撑板的两侧分别开设有容纳传感器的安装孔，便于安装和布置传感器，并且两个传感器的顶面均高出陶瓷板的顶面，防止探针卡的针脚与陶瓷板的顶面接触。两个传感器的顶面相互齐平保证了两个传感器均能与探针卡的针脚同时接触，提高检测精度。
[0023]本申请的用于探针卡水平和压力校准机构的测试台还包括底座，底座上设有支撑吸附载台的绝热垫板，绝热垫板内设有冷却被测电子产品的致冷器件。绝热垫板上开设有容纳致冷器件的定位孔，致冷器件位于绝热垫板的定位孔内，致冷器件为帕尔贴热电半导体致冷器件，致冷器件的冷端贴于吸附载台的底面，致冷器件的热端贴于底座的顶面。致冷器件能够冷却处于测试过程中的被测电子产品，使被测电子产品在设定的温度范围内测
试。
附图说明
[0024]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0025]图1为本申请实施例的结构立体图；
[0026]图2为本申请实施例的结构俯视图；
[0027]图3为本申请实施例的测试台与传感器的结构立体图；
[0028]图4为本申请实施例的测试台与传感器的结构俯视图；
[0029]图5为图4中沿A
‑
A方向的剖视图；
[0030]图6为本申请实施例的陶瓷板的结构立体图；
[0031]图7为本申请实施例的铝支撑板的结构立体图；
[0032]图8为本申请实施例的底座第一视角的结构立体图；
[0033]图9为本申请实施例的底座第二视角的结构立体图。
[0034]附图标记：
[0035]1、测试台；2、探针卡；3、传本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于探针卡水平和压力校准机构，其特征在于，包括：测试台(1)，所述测试台(1)包括用于定位被测电子产品的吸附载台(11)，所述被测电子产品连接有导通被测电子产品的探针卡(2)；传感器(3)，所述传感器(3)至少设有两个，两个所述传感器(3)分别位于吸附载台(11)的两侧，两个所述传感器(3)用于分别检测探针卡(2)两侧的压力。2.如权利要求1所述的一种用于探针卡水平和压力校准机构，其特征在于：所述吸附载台(11)的顶部设有定位所述被测电子产品的定位槽(121)，定位槽(121)位于两个所述传感器(3)之间。3.如权利要求1所述的一种用于探针卡水平和压力校准机构，其特征在于：所述吸附载台(11)上开设有若干个吸附所述被测电子产品的真空吸附孔(123)，若干个真空吸附孔(123)位于两个所述传感器(3)之间。4.如权利要求3所述的一种用于探针卡水平和压力校准机构，其特征在于：所述吸附载台(11)包括陶瓷板(12)和铝支撑板(13)，若干个所述真空吸附孔(123)位于陶瓷板(12)上，所述铝支撑板(13)位于陶瓷板(12)的底部；所述铝支撑板(13)上开设有与若干真空吸附孔(123)相通的吸附槽(131)，所述吸附槽(131)通过管路与真空发生器连接。5.如权利要求4所述的一种用于探针卡水平和压力校准机构，其特征在于：所述陶瓷板(12)和铝支撑板(13)的两侧分别开设有容纳传感器(3)的安装孔(122)，两个所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：翟超，
申请(专利权)人：苏州精濑光电有限公司武汉精测电子集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：