一种基于物联网的半导体数据测试异常预警系统及方法技术方案

本发明专利技术涉及半导体测试数据管理技术领域，具体为一种基于物联网的半导体数据测试异常预警系统及方法，包括分别对各历史测试记录进行特征信息提取；分别将规格型号相同的目标测试半导体所对应的历史测试记录进行汇集；分别在每一个历史测试记录集合中，对在半导体测试中存在的信息链接对进行挖掘；分别对每一个历史测试记录集合中存在的每一条信息链接对进行特征指数计算；筛选出在对应每一个历史测试记录集合的半导体测试要求标准下存在的特征信息链接对；并对各特征信息链接对进行补充参考数据的提取；整合在所有半导体测试要求标准下的特征信息链接对和对应的补充参考数据，构建半导体测试模型。建半导体测试模型。建半导体测试模型。

【技术实现步骤摘要】
一种基于物联网的半导体数据测试异常预警系统及方法


[0001]本专利技术涉及半导体测试数据管理
，具体为一种基于物联网的半导体数据测试异常预警系统及方法。

技术介绍

[0002]传统意义的半导体测试指基于ATE机台的产品测试，分为wafer level的CP测试(chip probing）或FE测试（FrontEnd test）和封装之后的FT测试（final test）或BE测试（backend test）；当然随着WLCSP (wafer level chip scale package)封装的推广，越来越多产品只需要CP测试后就可以切割分片供货了；根据半导体所应用领域的不同，通常对半导体进行功能测试的需求也是不同，同时测试时参考的数据标准也不同；随着半导体技术的日益完善，半导体性能越来越多元化，也就意味着对半导体测试所需要分析的数据越来越庞杂，对于测试工程师的经验要求也越来越高了。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种基于物联网的半导体数据测试异常预警系统及方法，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0004]为了解决上述技术问题，本专利技术提供如下技术方案：一种基于物联网的半导体数据测试异常预警方法，方法包括：步骤S100：对在半导体测试台中开展的所有历史测试记录进行数据传输存储；分别对各历史测试记录进行特征信息提取；步骤S200：分别将规格型号相同的目标测试半导体所对应的历史测试记录进行汇集，得到若干个历史测试记录集合；设一个历史测试记录集合对应为在一种半导体测试要求标准下得到的历史测试记录集合；步骤S300：分别在每一个历史测试记录集合中，基于所有历史测试记录之间的特征信息分布关系，对在半导体测试中存在的信息链接对进行挖掘；步骤S400：分别对每一个历史测试记录集合中存在的每一条信息链接对进行特征指数计算；基于特征指数计算结果，筛选出在对应每一个历史测试记录集合的半导体测试要求标准下存在的特征信息链接对；并对各特征信息链接对进行补充参考数据的提取；步骤S500：整合在所有半导体测试要求标准下的特征信息链接对和对应的补充参考数据，构建半导体测试模型；通过在半导体测试模型中输入待测试半导体的规格型号以及对应的测试要求，将满足测试输入条件的特征信息链接对以及补充参考数据反馈给测试工程师，辅助测试工程师进行相应测试流程的制定以及相应异常测试数据的分析。
[0005]进一步的，步骤S100包括：步骤S101：分别获取每一历史测试记录所对应的若干测试要求；其中，一个测试要求对应一种目标测试功能；将汇集若干测试要求得到的测试要求集合设为每一历史测试记
录的第一特征信息；步骤S102：分别在每一历史测试记录中，捕捉测试工程师基于每一历史测试记录所对应的测试要求信息，对目标测试半导体所制定的测试流程；捕捉在测试流程中每一测试工序下对应需执行的测试内容，基于测试内容对每一测试工序所目标测试的特性参数项进行锁定，汇集锁定的全部特性参数项，得到特性参数项集合，将特性参数项集合设为每一历史测试记录的第二特征信息；步骤S103：分别在每一历史测试记录中，捕捉测试工程师对在每一测试工序下得到的测试数据，判定是否异常时所遵循的判定条件，分别构建得到对应所述每一测试工序的信息对[x
i
,yx
i
]；其中，x
i
表示所述第i个测试工序所目标测试的特性参数项，yx
i
表示测试工程师将在x
i
下得到的测试数据判定是否异常时所遵循的判定条件；汇集所有信息对，得到信息对集合，将所述信息对集合设为所述每一历史测试记录的第三特征信息；在实际测试场景下，用户会基于半导体的目标应用领域对半导体提出一些功能测试要求，而这时，通常需要测试工程师根据丰富的测试工作经验，选择对一些能反应出所要求测试功能的特性参数项展开测试，制定测试流程；同时也通常需要测试工程师根据丰富的测试工作经验，基于半导体的规格参数对各特性参数项在测试过程中需要对应遵循的测试判定条件进行确认，最后在基于从测试流程中得到的测试数据对半导体上对应的功能进行故障分析；因此可知，每一条历史测试记录对应的测试环境是不同的，适用的测试标准也可能是不同的，且对于测试工程师的经验要求较高，从数据的角度，对各条历史测试提取特征信息的过程就是提取测试标准特征数据的过程，为后续步骤提供必要的技术铺垫。
[0006]进一步的，每一测试工序下，判定得到的测试数据是否异常时所遵循的判定条件包括：得到的测试数据与某个基准值之间需满足的数值比对关系，或者得到的测试数据与某个基准范围之间需满足的包含关系。
[0007]进一步的，步骤S300包括：步骤S301：在每一个历史测试记录集合中，对各条历史测试记录中第一特征信息所对应的测试要求集合、第二特征信息所对应的特性参数项集合进行提取；步骤S302：若某一条历史测试记录中的测试要求集合为A={a1,a2,...,a
n
}；其中，a1,a2,...,a
n
分别表示对应所述某一条历史测试记录的第1、2、...、n项测试要求；若某一条历史测试记录中的特性参数项集合为B={b1,b2,...,b
m
}；其中，b1,b2,...,b
m
分别表示在所述某一条历史测试记录中需测试的第1、2、...、m种特性参数项；步骤S303：依次将集合A内的各项测试要求与集合B内的各种特性参数项之间建立一对一的关联关系，得到若干信息链接对a
j
→
b
k
其中，b
k
∈{b1,b2,...,b
m
},将集合B内的所有特性参数项依次按不同的种类组合方式进行组合，得到若干个种类组合；种类组合方式包括两种特性参数项的组合、三种特性参数项的组合、...、m种特性参数项的组合；依次将集合A内的各项测试要求分别与集合B内的各种特性参数项之间建立一对多的关联关系，得到若干信息链接对a
j
→
{b
f
}；其中，a
j
∈{a1,a2,...,a
n
}；f≧2。
[0008]进一步的，步骤S400包括：步骤S401：分别在从每一个历史测试记录集合中得到的所有信息链接对中，将包含的测试要求项相同的信息链接对划分为一类，得到若干个与不同测试要求项相关的信息链接对集合；分别计算每一信息链接对的特征指数β=e/E；其中，e表示每一信息链接对在对
应的信息链接对集合内累计出现的次数；E表示在每一信息链接对所对应的信息链接对集合中包含的信息链接对总数；步骤S402：分别在每一个历史测试记录集合中，筛选出特征指数大于指数阈值的信息链接对，将链接对作为在每一个历史测试记录集合对应的半导体测试要求标准下的特征信息链接对；对每一个特征信息链接对中出现的各特性参数项，于对应的历史测试记录集合中包含的所有第三特征信息中，找寻包含各特性参数项的所有信息对，提取在所有信息对中出现的所有判定本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于物联网的半导体数据测试异常预警方法，其特征在于，所述方法包括：步骤S100：对在半导体测试台中开展的所有历史测试记录进行数据传输存储；分别对各历史测试记录进行特征信息提取；步骤S200：分别将规格型号相同的目标测试半导体所对应的历史测试记录进行汇集，得到若干个历史测试记录集合；设一个历史测试记录集合对应为在一种半导体测试要求标准下得到的历史测试记录集合；步骤S300：分别在每一个历史测试记录集合中，基于所有历史测试记录之间的特征信息分布关系，对在半导体测试中存在的信息链接对进行挖掘；步骤S400：分别对每一个历史测试记录集合中存在的每一条信息链接对进行特征指数计算；基于特征指数计算结果，筛选出在对应每一个历史测试记录集合的半导体测试要求标准下存在的特征信息链接对；并对各特征信息链接对进行补充参考数据的提取；步骤S500：整合在所有半导体测试要求标准下的特征信息链接对和对应的补充参考数据，构建半导体测试模型；通过在半导体测试模型中输入待测试半导体的规格型号以及对应的测试要求，将满足测试输入条件的特征信息链接对以及补充参考数据反馈给测试工程师，辅助测试工程师进行相应测试流程的制定以及相应异常测试数据的分析。2.根据权利要求1所述的一种基于物联网的半导体数据测试异常预警方法，其特征在于，所述步骤S100包括：步骤S101：分别获取每一历史测试记录所对应的若干测试要求；其中，一个测试要求对应一种目标测试功能；将汇集若干测试要求得到的测试要求集合设为所述每一历史测试记录的第一特征信息；步骤S102：分别在每一历史测试记录中，捕捉测试工程师基于所述每一历史测试记录所对应的测试要求信息，对目标测试半导体所制定的测试流程；捕捉在所述测试流程中每一测试工序下对应需执行的测试内容，基于所述测试内容对所述每一测试工序所目标测试的特性参数项进行锁定，汇集锁定的全部特性参数项，得到特性参数项集合，将所述特性参数项集合设为所述每一历史测试记录的第二特征信息；步骤S103：分别在每一历史测试记录中，捕捉测试工程师对在每一测试工序下得到的测试数据，判定是否异常时所遵循的判定条件，分别构建得到对应所述每一测试工序的信息对[x
i
,yx
i
]；其中，x
i
表示所述第i个测试工序所目标测试的特性参数项，yx
i
表示测试工程师将在x
i
下得到的测试数据判定是否异常时所遵循的判定条件；汇集所有信息对，得到信息对集合，将所述信息对集合设为所述每一历史测试记录的第三特征信息。3.根据权利要求2所述的一种基于物联网的半导体数据测试异常预警方法，其特征在于，每一测试工序下，判定得到的测试数据是否异常时所遵循的判定条件包括：所述得到的测试数据与某个基准值之间需满足的数值比对关系，或者所述得到的测试数据与某个基准范围之间需满足的包含关系。4.根据权利要求3所述的一种基于物联网的半导体数据测试异常预警方法，其特征在于，所述步骤S300包括：步骤S301：在每一个历史测试记录集合中，对各条历史测试记录中第一特征信息所对应的测试要求集合、第二特征信息所对应的特性参数项集合进行提取；步骤S302：若某一条历史测试记录中的测试要求集合为A={a1,a2,...,a
n
}；其中，a1,
a2,...,a
n
分别表示对应所述某一条历史测试记录的第1、2、...、n项测试要求；若某一条历史测试记录中的特性参数项集合为B={b1,b2,...,b
m
}；其中，b1,b2,...,b
m
分别表示在所述某一条历史测试记录中需测试的第1、2、...、m种特性参数项；步骤S303：依次将集合A内的各项测试要求与集合B内的各种特性参数项之间建立一对一的关联关系，得到若干信息链接对a
j
→
b
k
其中，b
k
∈{b1,b2,....

【专利技术属性】
技术研发人员：邹毅，罗松枝，
申请(专利权)人：常州满旺半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：