一种多面集成式光源及检测设备制造技术

技术编号:37541808 阅读:10 留言:0更新日期:2023-05-12 16:10
本实用新型专利技术公开了一种多面集成式光源及检测设备,多面集成式光源包括检测工位、第一光源装置、第二光源装置及同轴光源装置,检测工位设置于第一光源装置与第二光源装置之间;目标工件设置于检测工位后,通过第一光源装置及第二光源装置的设置,令目标工件的上端面及下端面分别被照亮;其中,通过圆弧状的扩散板的设置,使得照射于目标工件的第一发光单元及第二发光单元的光线均匀扩散,从而消除浮雕和刻蚀槽的反光,实现照射面(上端面及下端面)光线均匀分布的效果;通过同轴光源装置的设置,令目标工件的侧壁面被照亮,满足检测需求;通过上述设置,使得本方案的检测设备结构紧凑,检测效率高,能满足检测需求。能满足检测需求。能满足检测需求。

【技术实现步骤摘要】
一种多面集成式光源及检测设备


[0001]本技术涉及光源结构
,尤其涉及一种多面集成式光源及检测设备。

技术介绍

[0002]光源是机器视觉技术所常用的一种发光器件,其能够将光线照射于目标工件上,使得目标工件上的表面特征被突显,便于摄像头能够准确地得到目标工件的表面信息,进而便于图像处理模块对目标工件的表面信息进行处理和判断。
[0003]一些复杂形状的工件比如纪念币等,其通常具备上端面、下端面和侧壁面,其中,上端面设置有浮雕面,下端面设置有刻蚀槽,侧壁面为光滑的圆弧面;对上述的复杂形状工件的检测时,比较常见的检测结构是,设置一流转机构,使得目标工件依次经过低角度光源、高角度光源及平行光源;其中,低角度光源配合相机能够获取目标工件的浮雕面图像,高角度光源配合相机能够获得目标工件的刻蚀槽图像,平行光源配合相机能够获得目标工件的侧壁面图像。可知,为了满足复杂形状的目标工件的检测需求,其至少需要设置三个以上的工位对目标工件进行打光,并且需要依次检测,占用空间较多且检测耗时较长。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种多面集成式光源及检测设备,以解决当前针对复杂形状的目标工件的检测结构占用空间较大且检测耗时较长的问题。
[0005]为达此目的,本技术采用以下技术方案:
[0006]一种多面集成式光源,包括检测工位、第一光源装置、第二光源装置及同轴光源装置,所述检测工位设置于所述第一光源装置与所述第二光源装置之间,所述第一光源装置对应所述检测工位的位置配置有第一观察口,所述第二光源装置对应所述检测工位的位置配置有第二观察口;
[0007]所述第一光源装置包括第一发光单元,所述第一发光单元朝向所述检测工位的一侧设置有第一扩散板,所述第一扩散板朝向所述检测工位的壁面呈圆弧状;
[0008]所述第二光源装置包括第二发光单元,所述第二发光单元朝向所述检测工位的一侧设置有第二扩散板,所述第二扩散板朝向所述检测工位的壁面呈圆弧状;
[0009]所述同轴光源装置发出的光线穿过所述第一光源装置与所述第二光源装置之间的间隙并抵达所述检测工位。
[0010]可选地,所述第一光源装置包括两个第一光源壳体,所述第一光源壳体上安装有所述第一发光单元与所述第一扩散板;所述第一观察口设置于两个所述第一光源壳体之间。
[0011]可选地,所述第二光源装置包括两个第二光源壳体,所述第二光源壳体上安装有所述第二发光单元与所述第二扩散板;所述第二观察口设置于两个所述第二光源壳体之间。
[0012]可选地,相邻的所述第一光源壳体与所述第二光源壳体之间设置有连接壳体,所
述连接壳体的一端与所述第一光源壳体连接,所述连接壳体的另一端与所述第二光源壳体连接;
[0013]所述同轴光源装置安装于所述连接壳体上。
[0014]可选地,所述检测工位处设置有进料通道,所述进料通道包括设置于两个所述第一光源壳体之间的第一间隙,和,设置于两个所述第二光源壳体之间的第二间隙;
[0015]所述第一间隙与所述第二间隙相连通。
[0016]可选地,所述第一发光单元、所述第一扩散板、所述第二发光单元及所述第二扩散板均呈半环状。
[0017]一种检测设备,包括第一相机、第二相机、同轴相机及如上所述的多面集成式光源;
[0018]所述第一相机朝向所述第一观察口设置,所述第二相机朝向所述第二观察口设置,所述同轴相机设置于所述同轴光源装置的透光孔处。
[0019]可选地,所述同轴相机的数量为一个,且所述检测设备还包括设置于检测工位处的接驳台,所述接驳台能相对于所述同轴光源装置转动。
[0020]可选地,所述同轴光源装置的数量为两个,且所述检测工位设置于两个所述同轴光源装置之间。
[0021]与现有技术相比,本技术具有以下有益效果:
[0022]本技术提供的多面集成式光源及检测设备,目标工件设置于检测工位后,通过第一光源装置及第二光源装置的设置,令目标工件的上端面及下端面分别被照亮;其中,通过圆弧状的扩散板的设置,使得第一发光单元及第二发光单元照射于目标工件的光线均匀扩散,从而消除浮雕和刻蚀槽的反光,实现照射面(上端面及下端面)光线均匀分布的效果,满足检测需要;通过同轴光源装置的设置,令目标工件的侧壁面被照亮,满足检测需求;通过上述设置,使得目标工件仅在检测工位上便可被第一光源装置、第二光源装置及同轴光源装置照亮,满足了检测需求的同时,结构更加紧凑,且检测耗时更短。
附图说明
[0023]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0024]本说明书附图所绘示的结构、比例、大小等,均仅用以配合说明书所揭示的内容,以供熟悉此技术的人士了解与阅读,并非用以限定本技术可实施的限定条件,故不具技术上的实质意义,任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整,在不影响本技术所能产生的功效及所能达成的目的下,均应仍落在本技术所揭示的
技术实现思路
得能涵盖的范围内。
[0025]图1为本技术实施例提供的多面集成式光源的整体结构示意图;
[0026]图2为本技术实施例提供的多面集成式光源的第一剖面壳体示意图;
[0027]图3为本技术实施例提供的多面集成式光源的第一剖面壳体示意图。
[0028]图示说明:10、第一光源装置;11、第一发光单元;12、第一扩散板;13、第一观察口;
14、第一光源壳体;
[0029]20、第二光源装置;21、第二发光单元;22、第二扩散板;23、第二观察口;24、第二光源壳体;
[0030]30、同轴光源装置;31、连接壳体;32、同轴发光单元;33、分光膜;34、透光孔;40、检测工位。
具体实施方式
[0031]为使得本技术的技术目的、特征、优点能够更加的明显和易懂,下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,下面所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而非全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本技术保护的范围。
[0032]在本技术的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。需要说明的是,当一个组件被认为是“连接”另一个组件,它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中设置的组件。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多面集成式光源,其特征在于,包括检测工位(40)、第一光源装置(10)、第二光源装置(20)及同轴光源装置(30),所述检测工位(40)设置于所述第一光源装置(10)与所述第二光源装置(20)之间,所述第一光源装置(10)对应所述检测工位(40)的位置配置有第一观察口(13),所述第二光源装置(20)对应所述检测工位(40)的位置配置有第二观察口(23);所述第一光源装置(10)包括第一发光单元(11),所述第一发光单元(11)朝向所述检测工位(40)的一侧设置有第一扩散板(12),所述第一扩散板(12)朝向所述检测工位(40)的壁面呈圆弧状;所述第二光源装置(20)包括第二发光单元(21),所述第二发光单元(21)朝向所述检测工位(40)的一侧设置有第二扩散板(22),所述第二扩散板(22)朝向所述检测工位(40)的壁面呈圆弧状;所述同轴光源装置(30)发出的光线穿过所述第一光源装置(10)与所述第二光源装置(20)之间的间隙并抵达所述检测工位(40)。2.根据权利要求1所述的一种多面集成式光源,其特征在于,所述第一光源装置(10)包括两个第一光源壳体(14),所述第一光源壳体(14)上安装有所述第一发光单元(11)与所述第一扩散板(12);所述第一观察口(13)设置于两个所述第一光源壳体(14)之间。3.根据权利要求2所述的一种多面集成式光源,其特征在于,所述第二光源装置(20)包括两个第二光源壳体(24),所述第二光源壳体(24)上安装有所述第二发光单元(21)与所述第二扩散板(22);所述第二观察口(23)设置于两个所述第二光源壳体...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈灵铭
申请(专利权)人:广东奥普特科技股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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