一种多端口微带通用测试夹具制造技术

本实用新型专利技术涉及一种多端口微带通用测试夹具，包括底座，升降组件，调试台，若干测试头，移动块与立架，所述升降组件安装在底座上，升降组件的上端与调试台连接，带动调试台上下位移，所述立架垂直安装在底座上，若干移动块下端与立架活动连接，若干测试头安装在移动块上端，并围拢在所述调试台的四周。将待测器件放置在调试台上，利用升降组件调整调试台的高度，位移移动块使得测试头与待测器件有效接触，进而完成测试，避免使用多个夹具对不同器件进行一对一测试，测试更加方便快捷。测试更加方便快捷。测试更加方便快捷。

【技术实现步骤摘要】
一种多端口微带通用测试夹具


[0001]本技术涉及PCB板测试治具
，特别是涉及一种多端口微带通用测试夹具。

技术介绍

[0002]微带环形器等有三个微带端口的微波器件，这些器件外形尺寸不同，微带端口的位置也各有差异，往往在测试问题上难以很好的解决。目前是给每种器件都做一个专用的测试夹具。而如果使用专用夹具的话，也是需要根据这些器件的微带位置专门设计测试夹具，这些夹具和器件就只能是一对一的测试，在同时测试几种器件时，就需要更换夹具重新接线，非常的耗时，工作台面也会很混乱，整理收纳繁琐，因此需要改进。

技术实现思路

[0003]基于此，有必要针对上述问题，提供一种多端口微带通用测试夹具。
[0004]一种多端口微带通用测试夹具，包括底座，升降组件，调试台，若干测试头，移动块与立架，所述升降组件安装在底座上，升降组件的上端与调试台连接，带动调试台上下位移，所述立架垂直安装在底座上，若干移动块下端与立架活动连接，若干测试头安装在移动块上端，并围拢在所述调试台的四周。
[0005]优选的，还包括有微调螺杆，两个微调螺杆镜像安装立架的两侧，所述立架上间隔设置有两条水平向的横杆，三个所述移动块下端均与横杆活动连接，两个所述微调螺杆的输出端贯穿立架与两个移动块下端一一对应连接。
[0006]优选的，所述移动块上端设置有滑槽，所述测试头下端对应滑槽设置有卡接块。
[0007]优选的，所述升降组件包括压紧杆，压紧凸台，托台与连杆，所述压紧凸台安装在所述底座上，托台安装在压紧凸台上，连杆与托台下端连接，并贯穿压紧凸台，压紧杆后端与压紧凸台铰接，压紧杆中部与连杆活动连接，所述调试台安装在托台上。
[0008]优选的，所述所述压紧凸台两侧设置有防护板。
[0009]优选的，所述底座包括下座体，上座体与支柱，所述上座体通过四条支柱与下座体连接，所述上座体与下座体之间存在间隙。
[0010]优选的，所述上座体端面对应压紧杆设置有避让槽。
[0011]本技术的有益之处在于：将待测器件放置在调试台上，利用升降组件调整调试台的高度，位移移动块使得测试头与待测器件有效接触，进而完成测试，避免使用多个夹具对不同器件进行一对一测试，测试更加方便快捷。
附图说明
[0012]图1为其中一实施例一种多端口微带通用测试夹具立体示意图；
[0013]图2为一种多端口微带通用测试夹具爆炸示意图。
具体实施方式
[0014]为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术。但是本技术能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本技术内涵的情况下做类似改进，因此本技术不受下面公开的具体实施例的限制。
[0015]需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。
[0016]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本技术。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0017]如图1～2所示，一种多端口微带通用测试夹具，包括底座1，升降组件2，调试台3，若干测试头4，移动块5与立架6，所述升降组件2安装在底座1上，升降组件2的上端与调试台3连接，带动调试台3上下位移，所述立架6垂直安装在底座1上，若干移动块5下端与立架6活动连接，若干测试头4安装在移动块5上端，并围拢在所述调试台3的四周。具体的，在本实施例中，三个测试头4一一对应安装在三个移动块5上，在其他实施例中，还可设定其他数目的测试头4，在此不做具体限定。移动块5与立架6活动连接，便于横向位移测试头4，与放置在调试台3上的待测器件(图中未示出)有效接触，完成测试，并且一个底座1上设置多个测试头4，且测试头4与移动块5是可拆卸连接的，便于更换测试头4，以适配不同型号尺寸的待测器件。无需为每一个信号的待测器件预制一个工装夹具，避免工作台上放置较多工装夹具，难以收束整理。进一步的，为了调整待测器件的高度，在底座1上设置有升降组件2，升降组件2可以是丝杆组件，电动推杆或者其他机械构造，只要能带动调试台3在竖直方向上，来回位移即可，通过升降组件2来调整放置在调试台3上待测器件的高度，使其与测试头4端部的微带线束有效接触，测试操作简单方便，具有极强的实用性。
[0018]如图1～2所示，还包括有微调螺杆7，两个微调螺杆7镜像安装立架6的两侧，所述立架6上间隔设置有两条水平向的横杆61，三个所述移动块5下端均与横杆61活动连接，两个所述微调螺杆7的输出端贯穿立架6与两个移动块5下端一一对应连接。具体的，横杆61为圆杆，活动贯穿移动块5，并且两条横杆61同时贯穿移动块5，可防止移动块5围绕横杆61转动。在立架6两侧安装微调螺杆7，用户转动微调螺杆7，即可带动移动块5来回位移，靠近或者远离调试台3上的待测器件，使得测试头4与待测器件的微带线束有效接触。本实施例中，中间的移动块5上设置的测试头4是对待测器件后端进行测试，左右两侧的移动块5上的测试头4是对待测器件左右两端进行测试的，在其他实施例中，可根据需要自由调整测试头4的位置以及间距，在此不做具体限定。
[0019]如图1～2所示，所述移动块5上端设置有滑槽51，所述测试头4下端对应滑槽51设置有卡接块41，便于根据待测器件边部的微带线束位置，移动测试头4，使得测试头4与微带线束接触良好。
[0020]如图1～2所示，所述升降组件2包括压紧杆21，压紧凸台22，托台23与连杆24，所述压紧凸台22安装在所述底座1上，托台23安装在压紧凸台22上，连杆24与托台23下端连接，并贯穿压紧凸台22，压紧杆21后端与压紧凸台22铰接，压紧杆21中部与连杆24活动连接，所述调试台3安装在托台23上。具体的，调高调试台3高度时，用户直接下压压紧杆21，即可利用连杆24，将托台23从压紧凸台22上抬起，进而使得安装在托台23上的调试台3高度增高，使得放置在调试台3上的待测器件与周围的测试头4有效接触。测试完成后，用户解除施加在压紧杆21上的作用力，托台23在自身重力作用下，自动下滑，重新落在压紧凸台22上，待测器件即可与测试头4分离开来，使用极为方便。
[0021]如图1～2所示，所述所述压紧凸台22两侧设置有防护板221，配合连杆24，限制托台23竖直向位移，防止其跑偏。
[0022]如图1～2所示，所述底座1包括下座体11，上座体本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多端口微带通用测试夹具，其特征在于：包括底座，升降组件，调试台，若干测试头，移动块与立架，所述升降组件安装在底座上，升降组件的上端与调试台连接，带动调试台上下位移，所述立架垂直安装在底座上，若干移动块下端与立架活动连接，若干测试头安装在移动块上端，并围拢在所述调试台的四周。2.如权利要求1所述的一种多端口微带通用测试夹具，其特征在于：还包括有微调螺杆，两个微调螺杆镜像安装立架的两侧，所述立架上间隔设置有两条水平向的横杆，三个所述移动块下端均与横杆活动连接，两个所述微调螺杆的输出端贯穿立架与两个移动块下端一一对应连接。3.如权利要求2所述的一种多端口微带通用测试夹具，其特征在于：所述移动块上端设置有滑槽，所述测试头下端对应滑槽设置有卡接...

【专利技术属性】
技术研发人员：帅红春，刘兴平，万未航，
申请(专利权)人：成都宏科微波通信有限公司，
类型：新型
国别省市：