本发明专利技术公开了一种光栅温升系数测试方法、装置、设备及存储介质，该方法应用于光栅测试设备，光栅测试设备包括测温装置、水冷系统、功率计、电学模块和光学模块，该方法包括：在通过测温装置测量待测光栅时，控制电学模块为光学模块供电，并通过光学模块的内部光路向待测光栅输出目标光；控制所述测温装置对通光的待测光栅进行测温，并获取测温装置的测试温度、目标光的输出功率和水冷系统的冷却液参数；根据测试温度、输出功率和冷却液参数确定待测光栅的温升系数。本发明专利技术在测量温升系数时，将冷却液参数考虑在内确定待测光栅的温升系数，提高了温升系数测试的准确度。了温升系数测试的准确度。了温升系数测试的准确度。
【技术实现步骤摘要】
光栅温升系数测试方法、装置、设备及存储介质
[0001]本专利技术涉及光纤激光器
，尤其涉及一种光栅温升系数测试方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
[0002]目前，对于光栅温升系数的测试，一般是对通光的光栅进行测温，根据测得的温度来确定光栅的温升系数，但是光栅测试设备一般都设置有冷却装置，而且不同冷却装置之间的冷却条件一般存在差别，不可能完全一样，受冷却参数的影响同一光栅在不同设备上的测试结果存在明显差异，导致不同设备测得的温升系数不能横向比较，不具备参考性。
[0003]上述内容仅用于辅助理解本专利技术的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。
技术实现思路
[0004]本专利技术的主要目的在于提供了一种光栅温升系数测试方法、装置、设备及存储介质，旨在解决现有技术中光栅温升系数的测试准确度低的技术问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供了一种光栅温升系数测试方法，所述光栅温升系数测试方法应用于光栅测试设备，所述光栅测试设备包括测温装置、水冷系统、功率计、电学模块和光学模块，所述方法包括以下步骤：
[0006]在通过所述测温装置测量待测光栅时，控制所述电学模块为所述光学模块供电，并通过所述光学模块的内部光路向待测光栅输出目标光；
[0007]控制所述测温装置对通光的待测光栅进行测温，并获取所述测温装置的测试温度、所述目标光的输出功率和所述水冷系统的冷却液参数；
[0008]根据所述测试温度、所述输出功率和所述冷却液参数确定所述待测光栅的温升系数。
[0009]可选地，所述光学模块包括若干泵浦源、第一光路和第二光路；
[0010]所述在通过所述测温装置测量待测光栅时，控制所述电学模块为所述光学模块供电，并通过所述光学模块的内部光路向待测光栅输出目标光，包括：
[0011]在所述测温装置通过温度校准时，确定目标测试模式；
[0012]在所述目标测试模式为激光测试模式时，控制所述电学模块为所述第一光路对应的泵浦源供电；
[0013]通过所述第一光路向待测光栅输出激光；以及
[0014]在所述目标测试模式为泵浦光测试模式时，控制所述电学模块为所述第二光路对应的泵浦源供电；
[0015]通过所述第二光路向待测光栅输出泵浦光。
[0016]可选地，所述测温装置包括测温角度可调节的红外相机；
[0017]所述在所述测温装置通过温度校准时，确定目标测试模式之前，还包括：
[0018]在所述红外相机的当前测温角度符合预设测温条件时，通过所述测温装置获取若干校准测试温度，并根据所述若干校准测试温度确定校准平均温度；
[0019]根据所述校准平均温度和参考平均温度判断所述测温装置是否异常；
[0020]若否，则判断所述测温装置是否满足重复再现性指标；
[0021]若是，则判定所述测温装置通过温度校准。
[0022]可选地，所述根据所述校准平均温度和参考平均温度判断所述测温装置是否异常，包括：
[0023]确定所述校准平均温度和参考平均温度之间的校准温度差；
[0024]根据所述校准温度差确定温度补偿系数，并根据所述温度补偿系数对所述校准平均温度进行调整；
[0025]根据调整后的校准平均温度和所述参考平均温度判断所述测温装置是否异常。
[0026]可选地，所述判断所述测温装置是否满足重复再现性指标，包括：
[0027]控制所述测温装置对若干不同参数的光栅进行重复测温，并获取各光栅的重复测试温度；
[0028]根据不同参数的光栅对应的重复测试温度判断所述测温装置是否满足重复再现性指标。
[0029]可选地，所述在所述红外相机的当前测温角度符合预设测温条件时，通过所述测温装置获取若干校准测试温度，并根据所述若干校准测试温度确定校准平均温度之前，还包括：
[0030]在所述红外相机完成光栅对焦时，通过所述红外相机获取目标光栅的光栅测试温度，并获取所述目标光栅的实际温度；
[0031]确定所述光栅测试温度与所述实际温度之间的温度差；
[0032]在所述温度差大于或等于温度阈值时，控制所述红外相机持续调整测温角度；
[0033]在控制所述红外相机调整测温角度的过程中，判断所述温度差是否小于所述温度阈值；
[0034]若是，则控制所述红外相机停止调整测温角度，并判定所述红外相机的当前测温角度符合预设测温条件。
[0035]可选地，所述光栅测试设备上设置有高度标准块，所述高度标准块与所述待测光栅等高，所述高度标准块的尺寸大于所述待测光栅的尺寸；
[0036]所述在所述红外相机完成光栅对焦时，通过所述红外相机获取目标光栅的光栅测试温度，并获取所述目标光栅的实际温度之前，还包括：
[0037]控制所述红外相机通过所述高度标准块进行对焦；
[0038]在所述红外相机对焦至所述高度标准块时，判定所述红外相机完成光栅对焦。
[0039]此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种光栅温升系数测试装置，所述光栅升温系数测试装置设置于光栅测试设备，所述光栅测试设备包括测温装置、水冷系统、功率计、电学模块和光学模块，所述光栅温升系数测试装置包括：
[0040]控制模块，用于在通过所述测温装置测量待测光栅时，控制所述电学模块为所述光学模块供电，并通过所述光学模块的内部光路向待测光栅输出目标光；
[0041]获取模块，用于控制所述测温装置对通光的待测光栅进行测温，并获取所述测温
装置的测试温度、所述目标光的输出功率和所述水冷系统的冷却液参数；
[0042]确定模块，用于根据所述测试温度、所述输出功率和所述冷却液参数确定所述待测光栅的温升系数。
[0043]此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种光栅温升系数测试设备，所述设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的光栅温升系数测试程序，所述光栅温升系数测试程序配置为实现如上文所述的光栅温升系数测试方法的步骤。
[0044]此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种存储介质，所述存储介质上存储有光栅温升系数测试程序，所述光栅温升系数测试程序被处理器执行时实现如上文所述的光栅温升系数测试方法的步骤。
[0045]本专利技术提出一种应用于光栅测试设备的光栅温升系数测试方法，所述光栅测试设备包括测温装置、水冷系统、功率计、电学模块和光学模块，所述方法包括：在通过所述测温装置测量待测光栅时，控制所述电学模块为所述光学模块供电，并通过所述光学模块的内部光路向待测光栅输出目标光；控制所述测温装置对通光的待测光栅进行测温，并获取所述测温装置的测试温度、所述目标光的输出功率和所述水冷系统的冷却液参数；根据所述测试温度、所述输出功率和所述冷却液参数确定所述待测光栅的温升系数。本专利技术在测量温升系数时，将冷却液参数考虑在内确定待测光栅的温升系数，提高了温升系数测试的准确度。
附图说明
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光栅温升系数测试方法，其特征在于，所述光栅温升系数测试方法应用于光栅测试设备，所述光栅测试设备包括测温装置、水冷系统、功率计、电学模块和光学模块，所述方法包括：在通过所述测温装置测量待测光栅时，控制所述电学模块为所述光学模块供电，并通过所述光学模块的内部光路向待测光栅输出目标光；控制所述测温装置对通光的待测光栅进行测温，并获取所述测温装置的测试温度、所述目标光的输出功率和所述水冷系统的冷却液参数；根据所述测试温度、所述输出功率和所述冷却液参数确定所述待测光栅的温升系数。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述光学模块包括若干泵浦源、第一光路和第二光路；所述在通过所述测温装置测量待测光栅时，控制所述电学模块为所述光学模块供电，并通过所述光学模块的内部光路向待测光栅输出目标光，包括：在所述测温装置通过温度校准时，确定目标测试模式；在所述目标测试模式为激光测试模式时，控制所述电学模块为所述第一光路对应的泵浦源供电；通过所述第一光路向待测光栅输出激光；以及在所述目标测试模式为泵浦光测试模式时，控制所述电学模块为所述第二光路对应的泵浦源供电；通过所述第二光路向待测光栅输出泵浦光。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测温装置包括测温角度可调节的红外相机；所述在所述测温装置通过温度校准时，确定目标测试模式之前，还包括：在所述红外相机的当前测温角度符合预设测温条件时，通过所述测温装置获取若干校准测试温度，并根据所述若干校准测试温度确定校准平均温度；根据所述校准平均温度和参考平均温度判断所述测温装置是否异常；若否，则判断所述测温装置是否满足重复再现性指标；若是，则判定所述测温装置通过温度校准。4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述校准平均温度和参考平均温度判断所述测温装置是否异常，包括：确定所述校准平均温度和参考平均温度之间的校准温度差；根据所述校准温度差确定温度补偿系数，并根据所述温度补偿系数对所述校准平均温度进行调整；根据调整后的校准平均温度和所述参考平均温度判断所述测温装置是否异常。5.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述判断所述测温装置是否满足重复再现性指标，包括：控制所述测温装置对若干不同参数的光栅进行重复测温，并获取各光栅的重复测试温度；根据不同参数的光栅对应的重复测试温度判断所述测温装...
【专利技术属性】
技术研发人员：熊文登，陈玉杰，柳书桥，杨康，曹其，肖光宗，
申请(专利权)人：武汉锐科光纤激光技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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