一种基于紫外光电子能谱检测粉末样品的方法技术

本发明专利技术公开了一种基于紫外光电子能谱检测粉末样品的方法，涉及粉末样品检测领域，解决了现有的紫外光电子能谱技术不能有效地对粉末材料进行表面分析的问题，现提出如下方案，其包括S1：将粉末样品溶解于适当的溶解剂中，使用超声波振荡5～30min；S2：将溶解后的溶液滴定到硅片上；S3：将硅片放置于旋转涂膜机上，制备成膜；S4：通过紫外光电子能谱检测硅片上的膜，即可实现对粉末样品的紫外光电子能谱检测。本方法具有可以有效地对各种可溶性粉末样品进行紫外光电子能谱检测，且检测操作便利的特点。的特点。的特点。

【技术实现步骤摘要】
一种基于紫外光电子能谱检测粉末样品的方法


[0001]本专利技术涉及粉末样品检测领域，尤其涉及一种基于紫外光电子能谱检测粉末样品的方法。

技术介绍

[0002]紫外光电子能谱(Ultraviolet Photo
‑
electron Spectroscopy，UPS)是以紫外光为激发光源的光电子能谱。UPS激发源的光子能量较低，一般常用的低能光子源为氦Ⅰ和氦Ⅱ。
[0003]UPS是一种十分重要的表面分析技术，常用于分析样品外壳层轨道结构、能带结构、空态分布和表面态情况的光电子谱。激发源能量范围较低，UPS仅能检测样品表面2nm左右的信号，因此材料表面的导电性、污染程度和粗糙度等因素会对UPS测量结果产生较大影响。目前UPS对导电性好且块状的固体样品有较好的检测效果，但是现有的紫外光电子能谱技术不能对粉末材料进行直接的应用分析，这导致UPS技术不能直接适用于粉末材料的表面分析。因此提出一种基于紫外光电子能谱检测粉末样品的方法。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种基于紫外光电子能谱检测粉末样品的方法，解决了现有的紫外光电子能谱技术不能有效地对粉末材料进行表面分析的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种基于紫外光电子能谱检测粉末样品的方法，其特征在于，包括以下步骤：
[0006]S1：将粉末样品溶解于适当的溶解剂中，使用超声波振荡5～30min；
[0007]S2：将溶解后的溶液滴定到硅片上；
[0008]S3：将硅片放置于旋转涂膜机上，制备成膜；
[0009]S4：通过紫外光电子能谱检测硅片上的膜，即可实现对粉末样品的紫外光电子能谱检测。
[0010]优选的，所述S1中的溶解剂包括有机溶剂、无机溶剂。
[0011]优选的，所述S1中的硅片大小范围为5
×
5mm至10
×
10mm。
[0012]与相关技术相比较，本专利技术提供的一种基于紫外光电子能谱检测粉末样品的方法具有如下有益效果：
[0013]本专利技术提供一种基于紫外光电子能谱检测粉末样品的方法，通过将粉末样品溶解于适当的溶解剂中，然后将溶液滴定到硅片上，再使用旋转涂膜机制备成膜，最后通过对硅片上的膜进行紫外光电子能谱检测，从而实现对粉末样品的检测。
[0014]使得本方法具有可以有效地对各种可溶性粉末样品进行紫外光电子能谱检测，且检测操作便利的特点。
附图说明
[0015]图1为本专利技术的一种基于紫外光电子能谱检测粉末样品的方法的滴定操作示意图。
[0016]图2为本专利技术的一种基于紫外光电子能谱检测粉末样品的方法的旋转涂膜操作示意图。
具体实施方式
[0017]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例；基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0018]实施例一：
[0019]请参阅图1
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2，本专利技术提供一种技术方案：一种基于紫外光电子能谱检测粉末样品的方法，包括以下步骤：
[0020]S1：将粉末样品溶解于适当的溶解剂中，使用超声波振荡5～30min；
[0021]S2：将溶解后的溶液滴定到硅片上；
[0022]S3：将硅片放置于旋转涂膜机上，制备成膜；
[0023]S4：通过紫外光电子能谱检测硅片上的膜，即可实现对粉末样品的紫外光电子能谱检测。
[0024]S1中的溶解剂包括有机溶剂、无机溶剂。
[0025]S1中的硅片大小范围为5
×
5mm至10
×
10mm。
[0026]本实施方式中，使用超声波振荡5～30min使得粉末样品可以充分的溶解在溶解剂，而溶解剂可以对有机溶剂、无机溶剂等，这样在针对不同的粉末材料时，可以通过选择对应且对该粉末材料溶解性高的溶剂作为溶解剂。
[0027]而将溶解后的溶液滴定在硅片上，然后将硅片通过旋转涂膜机进行旋转涂抹，而使得硅片上的溶解剂可以部分蒸发，进而其其内溶解的粉末材料进行析出，这样硅片上即可得到结晶的粉末材料，然后在进行紫外光电子能谱检测即可。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于紫外光电子能谱检测粉末样品的方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：将粉末样品溶解于适当的溶解剂中，使用超声波振荡5～30min；S2：将溶解后的溶液滴定到硅片上；S3：将硅片放置于旋转涂膜机上，制备成膜；S4：通过紫外光电子能谱检测硅片上的膜，即可实现对粉末样品的紫外光电子能谱检测。2.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨文超，潘燕芳，唐梦奇，覃伟鸥，黎良伟，湛永钟，何欢，
申请(专利权)人：清华大学深圳国际研究生院南宁海关技术中心，
类型：发明
国别省市：