本发明专利技术提供了一种半导体集成电路、液晶驱动电路以及液晶显示装置，该半导体集成电路包括：第一Ｄ／Ａ转换器；第二Ｄ／Ａ转换器；放大器，用于放大第一Ｄ／Ａ转换器的输出；运算放大器，用于输入第二Ｄ／Ａ转换器的输出；以及选择器，用于实现在普通模式与测试模式之间的切换，普通模式为使所述运算放大器用作用于将所述第二Ｄ／Ａ转换器的输出放大的放大器的模式，而测试模式为使所述运算放大器用作用于将所述第二Ｄ／Ａ转换器的输出与所述第一Ｄ／Ａ转换器的输出进行比较的比较器的模式。根据本发明专利技术，能够减小在装置测试时安装至输出节点的探针数，同时限制每个装置的包装面积，从而增加了能够同时测试的装置的数目。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体集成电路、液晶驱动电路以及配备了数模(D/A)转换器和用于 放大D/A转换器的输出的放大器的液晶显示装置。
技术介绍
众所周知的一些半导体集成电路的每一个都设置了多个D/A转换器和多个用于 放大这些D/A转换器的输出的放大器。这种半导体集成电路的实例为输出用于驱动在液晶 面板上所排列的多个像素的驱动信号的液晶驱动电路。如图14所示，上述类型的半导体集成电路包括电阻梯形电路(resistance ladder circuit) 101，用于生成多个基准电压；多个D/A转换器102a 102η ；以及放大器 103a 103η，用于放大D/A转换器102a 102η的输出。D/A转换器102a 102η的每一个都由多个开关构成。给出外部输入数字信号(下 文中，称作输入数字信号)，每个D/A转换器均选择这些开关中的一个，从而输出相应于输 入数字信号的电压。放大器103a 103η的每一个都由具有电压跟随器功能的运算放大器构成。艮口， 运算放大器的反转输入节点被连接至其输出节点，使得被输入至运算放大器的非反转输入 节点的模拟信号为用于输出的电流放大。当按照说明书制造时，测试上述类型的半导体集成电路(下文中，也称作装置)。 测试包括为了确定是否从放大器103a 103η输出了预定的模拟电压，将预定的数字信号 输入至装置，从而激活其D/A转换器102a 102η。这种一致性测试需要将测试探针安装至所有输出节点104a 104η，来观察是否 正常输出了预定的模拟电压。这意味着，输出节点数目越大，所需的测试探针的数目也越 大。由于在利用半导体测试设备的测试过程中能够使用的测试探针最大数目是有限的，所 以输出节点数的增加转变为(导致了)在一个测试过程中可以测试的装置数目减少。结果 导致测试成本的无限制升高。如在图15中所示的日本专利公开第2006-279132号(专利文献1)的披露内容中， 上述问题的一个解决方法包括设立用于比较两个D/A转换器的输出的比较器105。通过来 自每个D/A转换器的输出电压的变化，检测比较器105所输出的电压，来观察是否每个D/A 转换器都具有正常的功能。
技术实现思路
上述例举的专利文献1所披露的技术的一个缺点就是需要单独的比较器105。这就导致了半导体集成电路的包装面积的增大以及其制造成本的升高。已经鉴于上述情况作出了本专利技术，并且本专利技术提供了一种半导体集成电路、液晶 驱动电路、以及设计用于降低测试成本同时限制(约束，curbing)装置包装面积的增大的 液晶显示装置。在执行本专利技术并根据其一个实施方式的情况下，提供了一种半导体集成电路，包 括第一 D/A转换器；第二 D/A转换器；放大器，被配置为放大第一 D/A转换器的输出；以及 运算放大器，被配置为输入第二 D/A转换器的输出。半导体集成电路还包括选择器，被配 置为实现在普通模式与测试模式之间的转换，普通模式为使运算放大器用作用于将第二 D/ A转换器的输出放大的放大器的模式，测试模式为使运算放大器用作用于将第二 D/A转换 器的输出与第一 D/A转换器的输出进行比较的比较器的模式。优选地，半导体集成电路还可以包括第二选择器，其被配置为当处于测试模式时， 实现在第一测试模式与第二测试模式之间的转换。第一测试模式为第一 D/A转换器的输出 被输入至运算放大器的非反转输入节点并且第二 D/A转换器的输出被输入至运算放大器 的反转输入节点的模式。第二测试模式为第二 D/A转换器的输出被输入至运算放大器的非 反转输入节点并且第一 D/A转换器的输出被输入至运算放大器的反转输入节点的模式。优选地，半导体集成电路还可以包括n个(η为2以上的整数)第一 D/A转换器； η个 第二 D/A转换器；η个放大器，被配置为放大各个第一 D/A转换器的输出；η个运算放大 器，被配置为输入各个第二 D/A转换器的输出；以及η个选择器。优选地，半导体集成电路还可以包括逻辑电路，其被配置为当η个运算放大器的 所有输出均为高或低时，输出表示正常检测的信号，并且当η个运算放大器中的至少一个 的输出为低或高时(其余的输出均为高或低)，输出表示故障检测的信号。根据本专利技术的另一个实施方式，提供了一种液晶驱动电路，包括η个(η为2以上 的整数)第一 D/A转换器；η个第二 D/A转换器；η个放大器，各自被配置为放大各个第一 D/A转换器的输出，从而将放大的输出提供至液晶面板；以及η个运算放大器，各自被配置 为输入各个第二 D/A转换器的输出。液晶驱动器还包括η个选择器，用于在普通模式与测 试模式之间的转换，普通模式为使运算放大器用作用于将第二 D/A转换器的输出放大的放 大器的模式，测试模式为使运算放大器用作用于将第二 D/A转换器的输出与第一 D/A转换 器的输出进行比较的比较器的模式。根据本专利技术的进一步的实施方式，提供了一种液晶显示装置，包括液晶面板；以 及液晶驱动电路，被配置为输出用于驱动在液晶面板上所提供的多个像素的驱动信号。液 晶驱动电路包括m个(η为2以上的整数)第一 D/A转换器；η个第二 D/A转换器；η个放 大器，各自被配置为放大各个第一 D/A转换器的输出，从而将放大的输出提供至液晶面板； 以及η个运算放大器，各自被配置为输入各个第二 D/A转换器的输出。液晶驱动电路还包括 η个选择器，被配置为实现在普通模式与测试模式之间的转换，普通模式为使运算放大器用 作用于将第二 D/A转换器的输出放大的放大器的模式，测试模式为使运算放大器用作用于 将第二 D/A转换器的输出与第一 D/A转换器的输出进行比较的比较器的模式。因此，根据本专利技术，能够减小在装置测试时安装至输出节点的探针数，同时限制每 个装置的包装面积，从而增加了能够同时测试的装置的数目。这有助于缩短用于测试每个 装置所需的时间，并节省测试成本。附图说明图1是示出了实现本专利技术的半导体集成电路的结构的示意图；图2A和图2B是说明了实现本专利技术的半导体集成电路如何操作的示意图；图3是示出了实现本专利技术的另一半导体集成电路的结构的示意图；图4是示出了配备了实现本专利技术的液晶驱动电路的液晶显示装置的结构的示意 图；图5是示出了图4中所示的液晶驱动电路的结构的示意图；图6是示出了图4中所示的液晶驱动电路的另一种结构的示意图； 图7是示出了图4中所示的液晶驱动电路的又一种结构的示意图；图8是说明了图4所示的液晶驱动电路的操作模式的示意图；图9A和图9B是说明了图4中所示的液晶驱动电路的其他操作模式的示意图；图10是说明了图4中所示的液晶驱动电路的操作模式的列表示图；图11是说明了图4中所示的液晶驱动电路的操作模式的另一个列表示图；图12是说明了另一个液晶驱动电路的操作模式的示意图；图13是说明了又一个液晶驱动电路的操作模式的示意图；图14是示出了配备了 D/A转换器和放大器的现有的半导体集成电路的结构的示 意图；以及图15是示出了配备了 D/A转换器和放大器的另一现有的半导体集成电路的结构 的示意图。具体实施例方式现在，将描述本专利技术的优选实施方式。将以下面的标题进行描述1.半导体集成电路的概述2.液晶驱动电路及配备其的液晶显示设备的结构和操作3.其他实施方式现在，将参照附图以专用术语来说明实现本专利技术本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种半导体集成电路，包括：第一数模转换器；第二数模转换器；放大器，被配置为放大所述第一数模转换器的输出；运算放大器，被配置为输入所述第二数模转换器的输出；以及选择器，被配置为实现在普通模式与测试模式之间的切换，所述普通模式为使所述运算放大器用作用于将所述第二数模转换器的输出放大的放大器的模式，所述测试模式为使所述运算放大器用作用于将所述第二数模转换器的输出与所述第一数模转换器的输出进行比较的比较器的模式。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：兵头健司，一里塚尚志，木本卓也，东乡实，
申请(专利权)人：索尼公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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