一种取向硅钢绝缘涂层涂覆量及致密度的测试方法技术

本发明专利技术公开了一种取向硅钢绝缘涂层涂覆量及致密度的测试方法。本发明专利技术所述测试方法是通过将取向硅钢裁剪，清洗之后得到初始质量，然后利用碱性的助溶剂对清洗后的硅钢样片进行溶解，对溶解后的取向硅钢粗品进行洗涤等处理后，测定其质量，利用公式计算取向硅钢单位基底面积上绝缘涂层涂覆量，同时通过测定待测硅钢样品的绝缘层厚度，计算得到绝缘涂层的致密度。本发明专利技术所制备的助溶剂可以很好的溶解绝缘层的同时保护基底和硅酸镁底层；所述测试方法操作简单、高效，测试结果能真实反映成品取向硅钢绝缘涂层的涂层状态。向硅钢绝缘涂层的涂层状态。向硅钢绝缘涂层的涂层状态。

【技术实现步骤摘要】
一种取向硅钢绝缘涂层涂覆量及致密度的测试方法


[0001]本专利技术涉及取向硅钢检测
，尤其涉及一种取向硅钢绝缘涂层涂覆量及致密度的测试方法。

技术介绍

[0002]取向硅钢绝缘涂层涂覆量和致密度与取向硅钢绝缘性、耐腐蚀性、附着性及铁心损耗等性能密切相关。目前，工业生产中用每吨取向硅钢所用绝缘涂液的消耗量来表征绝缘涂液涂覆量。但是采用这种表征方法测量误差较大，检测结果为绝缘涂液消耗量，虽然可以通过取向硅钢密度、厚度来计算出绝缘涂液的涂覆量，却无法表征成品取向硅钢绝缘涂层的涂覆量。尚未有准确、高效的分析方法来检测取向硅钢绝缘涂层的涂覆量，限制了绝缘涂层涂覆量与涂层性能的研究。

技术实现思路

[0003]本申请针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种取向硅钢绝缘涂层涂覆量及致密度的测试方法。本专利技术所述方法通过构建溶剂体系定向溶解绝缘涂层，根据硅钢样片面积计算涂层涂覆量；根据绝缘涂层质量结合硅钢样片面积及涂层厚度计算涂层致密度。本专利技术所述操作简单、高效，测试结果能真实反映成品取向硅钢绝缘涂层的涂层状态。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种取向硅钢绝缘涂层涂覆量及致密度的测试方法，其特征在于，所述测试方法如下：S1：裁剪取向硅钢，得到待测样片；S2：将待测样片清洗、干燥，称重，质量记为m0；S3：将干燥的待测样片浸渍于助溶剂中，加热至40～60℃后，超声处理，使绝缘涂层溶解，得到无绝缘涂层的取向硅钢片粗品；S4：将步骤S3得到无绝缘涂层的取向硅钢片粗品取出洗涤、干燥，得到无绝缘涂层的取向硅钢片成品，称重，质量记为m，通过下式计算取向硅钢单位基底面积上绝缘涂层涂覆量；式中：m0为绝缘涂层溶解前的重量，单位g；m为绝缘涂层溶解后，无绝缘涂层的取向硅钢片成品的质量，单位g；S为待测样片的面积，单位cm2；S5：测定待测样片的绝缘涂层厚度；S6：根据下式计算绝缘涂层的致密度：式中：ρ为致密度，单位Kg/m3；m0为绝缘涂层溶解前硅钢片质量，单位g；m为绝缘涂层溶解后硅钢片质量，单位g；S为待测样片的面积，cm2，d为绝缘涂层厚度，单位μm。2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，步骤S1中，所述裁剪是以氮气为辅助气体，使用激光切割得到。3.根据权利要求1所述的测试方法，...

【专利技术属性】
技术研发人员：王强明，孙高鹏，王琦，叶芹，王佳伟，董香芸，
申请(专利权)人：安庆新普电气设备有限公司，
类型：发明
国别省市：