芯片测试系统技术方案

本实用新型专利技术涉及一种芯片测试系统。系统包括：工控机、扫描测试设备，工控机和扫描测试设备连接，扫描测试设备包括：微控制单元、存储模块、可编程逻辑芯片；其中，工控机与微控制单元连接，用于发送测试向量至微控制单元，以及接收微控制单元发送的测试结果；微控制单元与存储模块连接，用于将处理后的测试向量写入存储模块中，以及读取存储模块中存储的测试结果；可编程逻辑芯片分别与存储模块和待测芯片连接；可编程逻辑芯片用于读取存储模块中处理后的测试向量，以及将待测芯片的测试结果写入存储模块。本实用新型专利技术能够提高测试效率，减少可编程逻辑芯片的处理负担，可以使用价格更低的小型可编程逻辑芯片，减少成本。减少成本。减少成本。

【技术实现步骤摘要】
芯片测试系统


[0001]本技术涉及芯片测试
，特别是涉及一种芯片测试系统。

技术介绍

[0002]随着集成电路产业的发展，集成芯片的测试成本所占的比例不断增加。芯片设计公司在芯片设计完成并生产后需要通过专业的测试机器进行测试。Scan Chain(扫描链测试)作为数字集成电路测试的重要方法之一，可以有效的筛选出坏片，提高产品质量。
[0003]目前市面上SCAN测试设备价格高达万元以上，成本高昂,体积庞大不利于安装调试。同时市面上专业进行扫描链测试的机构不多，造成量产后的芯片不能快速投入市场。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对SCAN测试设备成本高、体积庞大等问题，提供一种芯片测试系统。
[0005]一种芯片测试系统，所述系统包括：
[0006]工控机、扫描测试设备，所述工控机和所述扫描测试设备连接，所述扫描测试设备包括：微控制单元、存储模块、可编程逻辑芯片；
[0007]其中，所述工控机与所述微控制单元连接，用于发送测试向量至所述微控制单元，以及接收所述微控制单元发送的测试结果；本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试系统，其特征在于，所述系统包括：工控机、扫描测试设备，所述工控机和所述扫描测试设备连接，所述扫描测试设备包括：微控制单元、存储模块、可编程逻辑芯片；其中，所述工控机与所述微控制单元连接，用于发送测试向量至所述微控制单元，以及接收所述微控制单元发送的测试结果；所述微控制单元与所述存储模块连接，用于将处理后的所述测试向量写入所述存储模块中，以及读取所述存储模块中存储的测试结果；所述可编程逻辑芯片分别与所述存储模块和待测芯片连接；所述可编程逻辑芯片用于读取所述存储模块中处理后的所述测试向量，以及将所述待测芯片的测试结果写入所述存储模块。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述存储模块包括：第一存储模块、第二存储模块；所述第一存储模块分别与所述微控制单元、可编程逻辑芯片连接，用于存储处理后的所述测试向量；所述第二存储模块分别与所述可编程逻辑芯片、所述微控制单元连接；所述第二存储模块，用于存储所述待测芯片的测试结果。3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述第二存储模块的第一指示引脚与所述可编程逻辑芯片连接，第二存储模块的第二指示引脚与所述微控制单元连接。4.根据权利要求2或3所述的系统，其特征在于，所述第二存储模块的数据输入引脚与所述可编程逻辑...

【专利技术属性】
技术研发人员：严伟，刘楷，徐红如，
申请(专利权)人：上海琻捷电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：