芯片测试系统技术方案

本实用新型专利技术涉及一种芯片测试系统。系统包括：工控机、扫描测试设备，工控机和扫描测试设备连接，扫描测试设备包括：微控制单元、存储模块、可编程逻辑芯片；其中，工控机与微控制单元连接，用于发送测试向量至微控制单元，以及接收微控制单元发送的测试结果；微控制单元与存储模块连接，用于将处理后的测试向量写入存储模块中，以及读取存储模块中存储的测试结果；可编程逻辑芯片分别与存储模块和待测芯片连接；可编程逻辑芯片用于读取存储模块中处理后的测试向量，以及将待测芯片的测试结果写入存储模块。本实用新型专利技术能够提高测试效率，减少可编程逻辑芯片的处理负担，可以使用价格更低的小型可编程逻辑芯片，减少成本。减少成本。减少成本。

【技术实现步骤摘要】
芯片测试系统


[0001]本技术涉及芯片测试
，特别是涉及一种芯片测试系统。

技术介绍

[0002]随着集成电路产业的发展，集成芯片的测试成本所占的比例不断增加。芯片设计公司在芯片设计完成并生产后需要通过专业的测试机器进行测试。Scan Chain(扫描链测试)作为数字集成电路测试的重要方法之一，可以有效的筛选出坏片，提高产品质量。
[0003]目前市面上SCAN测试设备价格高达万元以上，成本高昂,体积庞大不利于安装调试。同时市面上专业进行扫描链测试的机构不多，造成量产后的芯片不能快速投入市场。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对SCAN测试设备成本高、体积庞大等问题，提供一种芯片测试系统。
[0005]一种芯片测试系统，所述系统包括：
[0006]工控机、扫描测试设备，所述工控机和所述扫描测试设备连接，所述扫描测试设备包括：微控制单元、存储模块、可编程逻辑芯片；
[0007]其中，所述工控机与所述微控制单元连接，用于发送测试向量至所述微控制单元，以及接收所述微控制单元发送的测试结果；
[0008]所述微控制单元与所述存储模块连接，用于将处理后的所述测试向量写入所述存储模块中，以及读取所述存储模块中存储的测试结果；
[0009]所述可编程逻辑芯片分别与所述存储模块和待测芯片连接；所述可编程逻辑芯片用于读取所述存储模块中处理后的所述测试向量，以及将所述待测芯片的测试结果写入所述存储模块。
[0010]在其中一个实施例中，所述存储模块包括：第一存储模块、第二存储模块；
[0011]所述第一存储模块分别与所述微控制单元、可编程逻辑芯片连接，用于存储处理后的所述测试向量；
[0012]所述第二存储模块分别与所述可编程逻辑芯片、所述微控制单元连接；所述第二存储模块，用于存储所述待测芯片的测试结果。
[0013]在其中一个实施例中，所述第二存储模块的第一指示引脚与所述可编程逻辑芯片连接，第二存储模块的第二指示引脚与所述微控制单元连接。
[0014]在其中一个实施例中，所述第二存储模块的数据输入引脚与所述可编程逻辑芯片的数据引脚连接；所述第二存储模块的数据输出引脚与所述微控制单元的数据输入引脚连接。
[0015]在其中一个实施例中，所述可编程逻辑芯片与至少一个待测芯片进行连接，所述可编程逻辑芯片将第一电平信号写入所述待测芯片；以及，接收所述待测芯片发送的第二电平信号。
[0016]在其中一个实施例中，所述可编程逻辑芯片的扫描数据引脚与所述待测芯片的扫描输入引脚连接，用于将第一电平信号写入所述待测芯片；
[0017]所述可编程逻辑芯片扫描输出引脚与所述待测芯片的输出引脚连接，用于接收所述待测芯片发送的第二电平信号。
[0018]在其中一个实施例中，所述工控机的输出端与所述微控制单元输入端连接，用于发送控制信号和所述测试向量至所述微控制单元；所述工控机的输入端与所述微控制单元输出端连接，用于接收所述微控制单元读取的所述测试结果。
[0019]在其中一个实施例中，所述可编程逻辑芯片与所述微控制单元连接，用于接收所述控制信号。
[0020]在其中一个实施例中，所述第一存储模块为随机存取存储器；所述第二存储模块为先进先出存储器。
[0021]在其中一个实施例中，所述第一指示引脚为full引脚，所述第二指示引脚为empty引脚。
[0022]上述各实施例中，通过设置存储模块能够将测试结果和对应的处理后的测试向量进行存储，因为可编程逻辑芯片处理速度很快，所以要想要不损失速度，达到高性能，就需要通过存储模块存储这些信息。把想要读取的数据存储到存储模块中。而当可编程逻辑芯片测试完一个待测芯片后，可以将测试结果存储至存储模块中，微控制单元可以慢慢取出结果信息。可编程逻辑芯片无需等待，可以一直进行测试待测芯片，能够提高测试效率。而进行控制的地方使用微控制单元，能够减少可编程逻辑芯片的处理负担，可以使用价格更低的小型可编程逻辑芯片，减少成本。
附图说明
[0023]为了更清楚地说明本技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0024]图1为本技术中芯片测试系统的结构示意图；
[0025]图2为本技术中第一存储模块和第二存储模块连接的结构示意图；
[0026]图3为本技术中芯片测试系统具体的连接结构示意图。
[0027]附图中各部件标记如下，100、工控机；200、扫描测试设备；220、微控制单元、230、存储模块；231、第一存储模块；232、第二存储模块；240、可编程逻辑芯片。
具体实施方式
[0028]为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术。但是本技术能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本技术内涵的情况下做类似改进，因此本技术不受下面公开的具体实施例的限制。
[0029]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽
度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0030]此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
[0031]在本技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0032]在本技术中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试系统，其特征在于，所述系统包括：工控机、扫描测试设备，所述工控机和所述扫描测试设备连接，所述扫描测试设备包括：微控制单元、存储模块、可编程逻辑芯片；其中，所述工控机与所述微控制单元连接，用于发送测试向量至所述微控制单元，以及接收所述微控制单元发送的测试结果；所述微控制单元与所述存储模块连接，用于将处理后的所述测试向量写入所述存储模块中，以及读取所述存储模块中存储的测试结果；所述可编程逻辑芯片分别与所述存储模块和待测芯片连接；所述可编程逻辑芯片用于读取所述存储模块中处理后的所述测试向量，以及将所述待测芯片的测试结果写入所述存储模块。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述存储模块包括：第一存储模块、第二存储模块；所述第一存储模块分别与所述微控制单元、可编程逻辑芯片连接，用于存储处理后的所述测试向量；所述第二存储模块分别与所述可编程逻辑芯片、所述微控制单元连接；所述第二存储模块，用于存储所述待测芯片的测试结果。3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述第二存储模块的第一指示引脚与所述可编程逻辑芯片连接，第二存储模块的第二指示引脚与所述微控制单元连接。4.根据权利要求2或3所述的系统，其特征在于，所述第二存储模块的数据输入引脚与所述可编程逻辑...

【专利技术属性】
技术研发人员：严伟，刘楷，徐红如，
申请(专利权)人：上海琻捷电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：