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本实用新型涉及一种芯片测试系统。系统包括：工控机、扫描测试设备，工控机和扫描测试设备连接，扫描测试设备包括：微控制单元、存储模块、可编程逻辑芯片；其中，工控机与微控制单元连接，用于发送测试向量至微控制单元，以及接收微控制单元发送的测试结果；...
该专利属于上海琻捷电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海琻捷电子科技有限公司授权不得商用。

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