用于毫米波天线阵列的空中测试的方法和系统技术方案

一种用于(例如，快速地且便宜地)测试装置(诸如具有被配置用于毫米波发送和/或接收的集成的天线的集成电路(IC))的系统和方法。所述方法可以首先对参考受测试装置(DUT)执行校准操作。校准操作可以确定参考DUT FF基本函数集合，并且还可以产生校准系数集合。在使用参考DUT的校准步骤之后，可以使用所得的参考DUT FF基本函数和校准系数(或重构矩阵)来基于其他的场测量(例如，在DUT的近场中进行的测量)确定DUT的远场图案。确定DUT的远场图案。确定DUT的远场图案。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于毫米波天线阵列的空中测试的方法和系统
[0001]优先权声明
[0002]本申请要求2020年9月4日提交的、标题为“Over
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Air Testing of Millimeter Wave Antenna Arrays”的美国临时专利申请No.62/074,908的优先权，该申请的专利技术人是Martin Laabs、Dirk Plettermeier、Thomas Deckert、Johannes Lange和Marc Vanden Bossche，该申请特此通过引用被整个地并入，就好像在本文中被充分地、完整地阐述一样。
[0003]通过引用并入
[0004]2018年10月23日提交的、标题为“Over
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Air Testing of Millimeter Wave Integraed Circuits with Integrated Antenns”的美国专利申请No.16/168,650特此通过引用被整个地并入，就好像在本文中被充分地、完整地阐述一样本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于确定受测试装置(DUT)产生的无线信号的远场(FF)图案的方法，其中所述DUT包括天线阵列，所述天线阵列包括多个DUT天线元件，所述方法包括：获得所述DUT产生的无线信号的多个基于探头的场测量；使用所述多个基于探头的场测量和校准系数集合来计算FF缩放因子集合，所述FF缩放因子集合的量等于参考DUT FF基本函数集合的量；基于所述FF缩放因子和所述参考DUT FF基本函数集合来确定无线信号的FF图案；其中所述DUT产生的无线信号的FF图案能够用于评价所述DUT在FF中的操作。2.根据权利要求1所述的方法，其中所述获得由探测天线系统(PAS)执行，所述PAS具有多个PAS天线元件，其中所述多个PAS元件等于或多于所述多个DUT天线元件。3.根据权利要求1所述的方法，其中获得所述DUT产生的无线信号的多个场测量包括：在用信号驱动波束成形器的同时，给所述DUT的多个天线元件配置一些波束成形器设置；以及在至少一个频率处测量所述DUT的所述多个天线元件产生的多个电磁场的振幅和相位。4.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：通过以下步骤来确定所述参考DUT FF基本函数集合：获得参考DUT的多个天线元件在不同的波束成形器设置的集合下产生的参考DUT FF图案集合，以使得所述参考DUT FF图案集合能够用于使得能够将特定于波束成形器设置的FF图案计算为所述参考DUT FF图案集合的线性组合；其中所述参考DUT FF图案集合是所述参考DUT FF基本函数集合；以及通过以下步骤来产生所述校准系数：获得所述参考DUT在所述不同的波束成形器设置的集合下产生的无线信号的一系列多个基于参考DUT探头的场测量；以及对所述一系列的所述多个基于参考DUT探头的场测量进行处理。5.根据权利要求4所述的方法，其中通过应用奇异值分解法来处理所述一系列的所述基于参考DUT探头的场测量。6.根据权利要求4所述的方法，其中获得所述参考DUT的所述多个天线元件在所述不同的波束成形器设置下产生的参考DUT FF图案集合包括：对于所述参考DUT的每个天线元件n：使用至少一个波束成形器设置来将所述参考DUT配置为主要从所述天线元件n辐射；以及测量所述天线元件n在至少一个频率处生成的远场电磁振幅和相位，其中所述天线元件n使用所述至少一个波束成形器设置生成的所述远场电磁振幅和相位的测量导致用于所述天线元件n的参考DUT基本函数。7.根据权利要求6所述的方法，进一步包括：对于所述参考DUT的每个天线元件n：使所述参考DUT的多个天线元件的辐射最小化；
测量FF电磁振幅和相位以确定FF干扰图案；从所述天线元件n使用所述至少一个波束成形器设置生成的所述远场电磁振幅和相位减去所述FF干扰图案。8.根据权利要求4所述的方法，其中获得所述参考DUT在所述不同的波束成形器设置的集合下产生的无线信号的所述一系列的所述多个基于参考DUT探头的场测量包括：对于所述参考DUT的每个天线元件n：使用所述不同的波束成形器设置的集合将所述参考DUT配置为在至少一个频率处仅从所述天线元件n辐射；以及测量所述天线元件n在至少一个频率处生成的所述多个基于参考DUT探头的场测量。9.根据权利要求8所述的方法，进一步包括：对于所述参考DUT的每个天线元件n：使所述参考DUT的所述多个天线元件的辐射最小化；测量所述多个基于参考DUT探头的场测量以确定基于探头的干扰指示；从所述天线元件n针对所述至少一个波束成形器设置生成的所述多个基于参考DUT探头的场测量减去所述干扰指示。10.根据权利要求4所述的方法，其中所述参考DUT FF图案集合包括相位和振幅信息，其中所述方法进一步包括：获得所述参考DUT的所述多个天线元件在所述不同的波束成形器设置的集合下的多个固定的参考FF测量；利用所述多个固定的参考FF测量的相位信息来获得用于所述参考DUT FF图案集合的相位信息的参考相位。11.根据权利要求4所述的方法，其中所述参考DUT FF图案集合包括相位和振幅信息，其中所述方法进一步包括：从驱动所述DUT产生的无线信号的输入信号提取相位信息；利用所述输入信号的相位信息来获得用于所述参考DUT FF图案集合的相位信息的参考相位。12.根据权利要求1所述的方法，其中在所述DUT的近场(NF)中获得所述基于探头的场测量。13.根据权利要求1所述的方法，其中所述DUT产生的无线信号是根据所述多个DUT天线元件的多个波束成形器设置集合产生的，并且其中所述多个波束成形器设置集合横跨所述波束成形器设置集合的矢量空间。14.根据权利要求13所述的方法，其中所述多个波束成形器设置集合在数量上等于或多于所述多个DUT天线元件。15.根据权利要求1所述的方法，其中所述多个基于探头的场测量包括相位和振幅信息，其中所述方法进一步包括：获得所述DUT产生的无线信号的多个参考探头场测量；利用所述多个参考探头场测量的相位信息来获得用于所述多个基于探头的场测量的相位信息的参考相位。
16.根据权利要求1所述的方法，其中所述多个基于探头的场测量包括相位和振幅信息，其中所述方法进一步包括：从驱动所述DUT产生的无线信号的输入信号提取相位信息；利用所述输入信号的相位信息来获得...

【专利技术属性】
技术研发人员：M，
申请(专利权)人：美国国家仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：