【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】具有集成天线的毫米波集成电路的空中测试
本专利技术涉及半导体测试领域，且更具体地，涉及具有集成天线的毫米波集成电路的测试。
技术介绍
例如，随着第5代(5G)无线技术变得更加普及，毫米波(mmW)技术的重要性正在迅速增长。用于测试具有用于传输和/或接收mmW信号的集成天线的集成电路的当前方法可能较慢和/或昂贵，例如部分地因为集成电路可能不支持用于mmW输入和输出的有线连接。本领域需要改进。
技术实现思路
下面给出了用于测试(例如，快速且便宜地)例如集成电路(IC)的装置的系统和方法的各种实施例，所述集成电路具有被配置用于毫米波(mmW)传输和/或接收的集成天线。待测试的装置(例如，被测装置(DUT))可以被安装到测量夹具中的接口，所述接口提供用于输入信号和输出信号、电源、控制和定位的有线连接。可以通过接口测试DUT的电源连接和数据连接。DUT的射频(RF)特性(例如，包括传输、接收和/或波束成形)可使用DUT的天线的辐射菲涅耳(Fresnel)区中的天线阵列或探针阵列在空中进行测试，例如，在测量夹具内。阵列的天线...
【技术保护点】
1.一种内置天线测试系统(BATS)，其包含：/n处理元件；/n测量夹具；/n接口，其中所述接口被配置成将被测装置(DUT)定位在所述测量夹具内，其中所述接口向所述DUT提供电源连接和数据连接；以及/n天线阵列，其中所述天线阵列在所述测量夹具内，其中所述天线阵列被配置成测试所述DUT的射频(RF)特性，其中所述天线阵列的每一相应天线连接到相应二极管检测器，其中每一二极管检测器将场强的测量值转换为相应直流(DC)电压测量值，其中所述BATS被配置成将所述DC电压测量值与场图案特征值进行比较，其中所述比较能够用于所述DUT的生产测试或筛选。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180521 US 62/674,455;20181023 US 16/168,6501.一种内置天线测试系统(BATS)，其包含：
处理元件；
测量夹具；
接口，其中所述接口被配置成将被测装置(DUT)定位在所述测量夹具内，其中所述接口向所述DUT提供电源连接和数据连接；以及
天线阵列，其中所述天线阵列在所述测量夹具内，其中所述天线阵列被配置成测试所述DUT的射频(RF)特性，其中所述天线阵列的每一相应天线连接到相应二极管检测器，其中每一二极管检测器将场强的测量值转换为相应直流(DC)电压测量值，其中所述BATS被配置成将所述DC电压测量值与场图案特征值进行比较，其中所述比较能够用于所述DUT的生产测试或筛选。
2.根据权利要求1所述的BATS，其中所述天线阵列处于固定位置，其中所述固定位置在菲涅耳区域内。
3.根据权利要求1所述的BATS，其中所述天线阵列的所述位置是能够调节的。
4.根据权利要求1所述的BATS，其中所述比较包含计算至少一个相应DC电压测量值与预期电压的差。
5.根据权利要求4所述的BATS，其中所述比较包含确定所述差是否超过阈值。
6.根据权利要求1所述的BATS，其中所述比较包含：
计算多个相应DC电压测量值与多个相应预期电压的相应差；
确定与所述相应预期电压相差大于第一阈值的所述相应DC电压测量值的数目；以及
确定所述数目是否超过第二阈值。
7.根据权利要求1所述的BATS，其中所述BATS被配置成计算远场波束图案，其中所述远场波束图案是基于所述DC电压测量值。
8.根据权利要求1的所述BATS，其中所述天线阵列的至少多个天线包含贴片天线。
9.根据权利要求1所述的BATS，其进一步包含能够操作地连接到所述天线阵列的至少一个天线的向量信号收发器(VST)。
10.根据权利要求1所述的BATS，其中所述BATS被配置成执行以下各项的同时测试：
所述DUT的射频能力；以及
所述DUT的至少一个其它特征。
11.一种用于测试被测装置(DUT)的设备，所述设备包含：
处理元件，其被配置成：
接收来自天线阵列的多个直流...
【专利技术属性】
技术研发人员：M·K·达希尔瓦，章晨，C·G·施罗德，A·阿兹斯，P·S·班威特，
申请(专利权)人：美国国家仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：美国;US
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