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一种用于(例如，快速地且便宜地)测试装置(诸如具有被配置用于毫米波发送和/或接收的集成的天线的集成电路(IC))的系统和方法。所述方法可以首先对参考受测试装置(DUT)执行校准操作。校准操作可以确定参考DUT FF基本函数集合，并且还可以产...
该专利属于美国国家仪器有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过美国国家仪器有限公司授权不得商用。

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