【技术实现步骤摘要】
一种MEMS器件及其制造方法
[0001]本专利技术涉及半导体
,具体而言涉及一种MEMS器件及其制造方法。
技术介绍
[0002]MEMS(Micro
‑
Electro
‑
Mechanical System,微机电系统)是指一种将机械构件、驱动部件、光学系统、电控系统集成为一个整体的微型系统。MEMS器件具有体积小、功耗低等优势,在智能手机、平板电脑、游戏机、汽车、无人机等多个领域具有广泛的应用场景。常用的MEMS芯片包括加速度计、陀螺仪、压力传感器、麦克风等。类似于集成电路,MEMS器件也在朝着高性能、小型化和低成本并集成化的方向发展。
[0003]为了实现完整的运动检测,通常需要将多个MEMS器件集成到单个集成芯片上。目前业界对于两种器件集成晶圆,在真空度达到需求后,会采用激光封孔工艺,使用专用机台进行逐一封孔,但这种工艺成本高昂、工艺要求高、效率低,且无法应用于较大尺寸的密封工艺。
技术实现思路
[0004]在
技术实现思路
部分中引入了一系列简化形式的概 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种MEMS器件的制造方法,其特征在于,所述方法包括:提供第一衬底和第二衬底,所述第二衬底的第一表面形成有第一MEMS结构和第二MEMS结构,所述第一衬底包括对应于所述第一MEMS结构的第一区域和对应于所述第二MEMS结构的第二区域;在所述第一衬底的第一表面的所述第一区域形成无定型硅结构;在所述第一衬底的第一表面形成覆盖所述无定型硅结构的保护层;图案化所述第一衬底的第二表面,以在所述第一区域形成第一凹槽,并在所述第二区域形成第二凹槽;刻蚀所述第一衬底的第二表面以形成露出所述无定型硅结构的抽气孔;将所述第一衬底的第二表面与所述第二衬底的第一表面键合,以在所述第一区域形成第一空腔,并在所述第二区域形成第二空腔;刻蚀所述保护层以露出所述无定型硅结构;通过所述无定型硅结构和所述抽气孔对所述第一空腔进行抽气;在所述无定型硅结构和所述保护层上方沉积金属层。2.根据权利要求1所述的制造方法,其特征在于,所述第一衬底为P型衬底,所述在所述第一衬底的第一表面的所述第一区域形成无定型硅结构包括:采用多孔硅腐蚀工艺腐蚀所述P型衬底的第一表面,以形成所述无定型硅结构。3.根据权利要求1所述的制造方法,其特征在于,所述第一衬底为N型衬底,所述在所述第一衬底的第一表面的所述第一区域形成无定型硅结构包括:在所述N型衬底的第一表面刻蚀形成深槽;在所述深槽中形成P型半导体材料;采用多孔硅腐蚀工艺腐蚀所述P型半导体材料,以形成所述无...
【专利技术属性】
技术研发人员:张兆林,
申请(专利权)人:绍兴中芯集成电路制造股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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