多光谱光电自准直仪的光学测角系统技术方案

本申请提供一种多光谱光电自准直仪的光学测角系统，用以解决功耗高的技术问题。其中，包括：用户应用层，被配置为用于应用功能实现；框架层，与所述用户应用层通过图像信号处理端口连接；内核层，与所述框架层通过V4L2驱动框架和多媒体框架连接，被配置为驱动归属于内核层的光学硬件；其中，所述内核层包括互补金属氧化物半导体；所述框架层配置有片上系统。通过配置片上系统，提高了数据处理的准确性。提高了数据处理的准确性。提高了数据处理的准确性。

【技术实现步骤摘要】
多光谱光电自准直仪的光学测角系统


[0001]本申请涉及光学测角领域，尤其涉及一种多光谱光电自准直仪的光学测角系统。

技术介绍

[0002]自准直仪，是一种利用光的自准直原理将角度测量转换为线性测量的一种计量仪器。它广泛用于小角度测量、平板的平面度测量、导轨的平直度与平行度测量等方面。光电自准直仪，光源发出的光束经半反半透镜反射，再经过平行光管上准直透镜后形成平行光射向反射镜，反射镜将入射光束反射回准直透镜，并透过分光棱镜照射在CCD感光器件上，数据处理电路对CCD感光器件的电信号进行处理，生成图像信号在显示设备上显示。
[0003]在实现现有技术中，专利技术人发现：
[0004]在完全满足技术指标要求的前提下，现有技术的数据处理不够精确，导致测量的角度不精确。
[0005]因此，需要提供一种多光谱光电自准直仪的光学测角系统，用以解决数据不精确的技术问题。

技术实现思路

[0006]本申请实施例需要提供一种多光谱光电自准直仪的光学测角系统，用以解决功耗高的技术问题。
[0007]具体的，一种多光谱光电自准直仪的光学测角系统，包括：
[0008]用户应用层，被配置为用于应用功能实现；
[0009]框架层，与所述用户应用层通过图像信号处理端口连接；
[0010]内核层，与所述框架层通过V4L2驱动框架和多媒体框架连接，被配置为驱动归属于内核层的光学硬件；
[0011]其中，所述内核层包括互补金属氧化物半导体；
[0012]所述框架层配置有片上系统。
[0013]进一步的，所述片上系统包括系统级芯片。
[0014]进一步的，所述片上系统具有磁珠，以便对电源进行隔离和滤波。
[0015]进一步的，所述片上系统融合有NEON和FPU。
[0016]进一步的，所述片上系统融合有1400万像素的图像信号处理器。
[0017]进一步的，所述片上系统融合有后处理器。
[0018]进一步的，所述片上系统配置有MIPI CSI端口和DVP端口。
[0019]进一步的，所述片上系统配置有LVDS/SUBLVDS端口和DVP端口。
[0020]进一步的，所述片上系统为带RV1126芯片的主控板。
[0021]进一步的，所述内核层至少包括图像信号处理驱动、传感器驱动和网络处理器驱动。
[0022]本申请实施例提供的技术方案，至少具有如下有益效果：
[0023]通过在片上系统配置有LVDS端口采用极低的电压摆幅高速差动传输数据，从而达到低功耗、低误码率、低串扰、低辐射，保持了信号的完整性。框架层通过V4L2驱动框架和多媒体框架连接，被配置为驱动归属于内核层的光学硬件，简化了结构，从而降低了功耗。
附图说明
[0024]此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
[0025]图1为本申请实施例提供的一种多光谱光电自准直仪的光学测角系统的结构示意图；
[0026]图2为本申请实施例提供的一种系统软件流程框图。
[0027]100
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光学测角系统
[0028]11
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用户应用层
[0029]12
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框架层
[0030]13
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内核层
具体实施方式
[0031]为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请具体实施例及相应的附图对本申请技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0032]请参看图1，本申请提供一种多光谱光电自准直仪的光学测角系统100，包括：
[0033]用户应用层11，被配置为用于应用功能实现。
[0034]所述用户应用层11可以理解为向用户提供应用服务的应用层。所述应用功能可以包括图像数据流设计、数据流分发、目标识别、自检等。
[0035]框架层12，与所述用户应用层11通过图像信号处理端口连接。
[0036]所述图像信号处理端口可以理解为传输图像数据的端口。在具体实施例中，框架层12为RkAiq lib的集成层。其中，所述RKaiq为RV1126芯片SOC(System on Chip，片上系统)的中间件驱动，用户通过它对硬件模块进行管理，数据调用。
[0037]所述框架层12配置有片上系统。
[0038]所述片上系统(SoC，System
‑
on
‑
a
‑
chip)可以理解为在单个芯片上集成一个完整的系统，对所有或部分必要的电子电路进行包分组。由于空前的高效集成性能，相较于集成电路，片上系统更能处理更精确。
[0039]进一步的，在本申请提供的一种优选实施方式中，所述片上系统包括系统级芯片。
[0040]所述系统级芯片可以为RV1126芯片。RV1126芯片有以下一些特性。RV1126芯片的CPU可以为四核ARM Cortex
‑
A7或RISC
‑
V MCU。RV1126芯片的NPU(neural
‑
network processing units，嵌入式神经网络处理器)可以为2.0Tops，support INT8/INT16。RV1126芯片的2D图形加速引擎可以支持旋转，以及x/y镜像。RV1126芯片的外围接口可以为千兆以太网接口，具有TSO(TCP Segmentation Offload)网络加速功能。RV1126芯片的外围接口还可以为USB 2.0OTG and USB 2.0host。
[0041]进一步的，在本申请提供的另一种优选实施方式中，所述片上系统具有磁珠，以便对电源进行隔离和滤波。
[0042]所述磁珠可以理解为一种电子元件，专用于抑制信号线、电源线上的高频噪声和尖峰干扰。可以理解的是，RF(Radio Frequency，射频)电路、PLL(Phase Locked Loop，锁相环反馈电路)、振荡电路、含超高频存储器电路等都需要在电源输入部分加磁珠，用来吸收超高频信号以减小串扰噪声。所述磁珠有很高的电阻率和磁导率，等效于电阻和电感串联，还具有吸收静电脉冲的能力。在本申请具体实施例的应用场景中，CMOS感光器件传输过来的数字信号会存在随机噪声、固定图形噪声等，会干扰对视频图像的正确解析。因此，在进行数据处理电路设计时需要充分考虑接线屏蔽层保护、模拟信号与数字信号的隔离等因素，尽量减少高速信号的回流路径，将各处理器的参考电压进行互连，以保证多路信号有相同的量化基准。可以理解的是，在实本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多光谱光电自准直仪的光学测角系统，其特征在于，包括：用户应用层，被配置为用于应用功能实现；框架层，与所述用户应用层通过图像信号处理端口连接；内核层，与所述框架层通过V4L2驱动框架和多媒体框架连接，被配置为驱动归属于内核层的光学硬件；其中，所述内核层包括互补金属氧化物半导体；所述框架层配置有片上系统。2.如权利要求1所述的光学测角系统，其特征在于，所述片上系统包括系统级芯片。3.如权利要求2所述的光学测角系统，其特征在于，所述片上系统具有磁珠，以便对电源进行隔离和滤波。4.如权利要求2所述的光学测角系统，其特征在于，所述片上系统融合有NEON和FPU。5.如权利要求2...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙琼阁，郝雷，霍小明，
申请(专利权)人：北京全息威睛光学技术有限公司，
类型：发明
国别省市：