一种变形测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供的一种变形测量装置及检测装置包括多个间隔设置的测量组件，测量组件包括激光测距仪、底座及支架，激光测距仪用于测量激光测距仪至待测水平结构构件底部的距离，激光测距仪设置于底座上，且激光测距仪的轴线与底座垂直，支架用于支撑底座，本申请利用高精度的激光测距仪远距离、非接触测距特点，无需搭设测量表支架及反复攀爬支架读取数据；此外本申请的变形测量装置不会对待测水平结构构件造成损伤，且环境适用性广，可在有风和光线不良的环境下工作，因此本申请能够省时省力、方便快捷的实现水平结构构件施加荷载后的挠度变化。的挠度变化。的挠度变化。

【技术实现步骤摘要】
一种变形测量装置


[0001]本技术涉及工程质量检测
，特别涉及一种变形测量装置。

技术介绍

[0002]目前建筑工程上，在测量水平结构构件施加荷载后的挠度变化时，一般采用以下两种方法测量，方法一是在待测水平结构构件的底部架设多个支架，支架距离待测水平结构构件的底部约20cm左右，然后再在支架顶部布设测量表，且测量表指针垂直顶紧待测水平结构构件的底部，测量表读取读数，然后在待测水平结构构件上逐级施加载荷，测量表逐次读取读数，根据多个测量表的逐次读数的差值判断待测水平结构构件的挠度变形情况；方法二是在待测水平结构构件的底部相应位置钻孔并埋入膨胀螺栓，然后将悬挂圆柱形金属重物的钢丝绳系在膨胀螺栓上且使得圆柱形重物底部距待测水平结构构件下方楼地面的顶部约20cm左右，然后再布置测量表并使得测量表指针垂直顶紧圆柱体重物底部，测量表读取读数，然后在待测水平结构构件上逐级施加载荷，测量表逐次读取读数，根据多个测量表的逐次读数的差值判断待测水平结构构件的挠度变形情况。
[0003]但是，上述方法一，需要架设多个高大的测量表支架，以保证测量表指针能够垂直顶紧待测水平结构构件的底部，并且在测量过程中需要反复攀爬梯子读取测量表读数，费时费力，而且无意碰到测量表支架将导致试验失败；上述方法二，在有风的环境下，构件底部悬挂的圆柱体可能会发生晃动影响测量精度，且在构件底部钻孔埋深膨胀螺栓对其造成损伤且影响美观。此外，上述两种方法在光线不好的环境这不便于读取测量表读数，需要借助辅助光源。

技术实现思路

[0004]基于此，本技术的主要目的是提供一种省时省力、方便快捷，以及在有风或光线条件不好的环境下能够完成准确测量的变形测量装置。
[0005]为实现上述目的，本技术提供一种变形测量装置，包括多个间隔设置的测量组件，所述测量组件包括：
[0006]激光测距仪，用于测量所述激光测距仪至待测水平结构构件底部的距离；
[0007]底座，所述激光测距仪设置于所述底座上，且所述激光测距仪的轴线与所述底座垂直；及
[0008]支架，用于支撑所述底座。
[0009]优选地，测量时第一个所述测量组件的轴线对准待测水平结构构件的中心，其余的所述测量组件相对第一个所述测量组件对称设置。
[0010]优选地，所述测量组件还包括激光笔，所述激光笔与所述激光测距仪连接，所述激光测距仪的轴线与所述激光笔的轴线重合，所述激光测距仪的朝向与所述激光笔的朝向相反。
[0011]优选地，所述测量组件还包括磁铁块，所述激光笔与所述激光测距仪通过磁铁块
连接，所述激光笔及所述激光测距仪连接所述磁铁块的一端均由金属材质制成，所述底座由金属材质制成，所述底座上开设有通孔，所述磁铁块设置于所述通孔内，所述磁铁块与所述通孔相适配。
[0012]优选地，所述测量组件还包括水平仪，所述水平仪设置于所述底座上，所述水平仪用于判断所述底座是否处于水平状态。
[0013]优选地，所述测量组件还包括调节结构，所述底座通过所述调节结构设置于所述支架上，所述调节结构的数量为多个，多个调节结构间隔设置于所述支架上，所述调节结构用于调节所述底座与所述调节结构相连接的区域的高度。
[0014]优选地，所述调节结构包括相螺合的螺钉和螺母，所述螺钉远离所述螺母的一端与所述支架连接，所述螺母远离所述螺钉的一端与所述底座连接，所述螺母能够相对所述底座转动，转动所述螺母，以使所述螺母与所述螺钉的螺合长度变长或变短，从而使得所述螺母带动所述底座与所述调节结构相连接的区域升降。
[0015]优选地，所述支架包括支架座和支脚，多个所述支脚间隔设置于所述支架座上，所述支架座用于支撑所述底座。
[0016]优选地，每个所述支脚均能够相对所述支架座摆动，以实现多个所述支脚的打开或闭合。
[0017]优选地，每个所述支脚均能够沿自身的轴向伸缩。
[0018]本技术技术方案的优点：需要测量水平结构构件施加荷载后的挠度变化时，先将多个测量组件的支架间隔设置于地上，调节支架的位置，以使底座保持水平，从而使得激光测距仪处于竖直状态；随后启动激光测距仪，测量激光测距仪至待测水平结构构件底部的距离，然后在待测水平结构构件上施加载荷，再次启动激光测距仪测量激光测距仪至待测水平结构构件底部的距离，根据多个激光测距仪的两次读数的差值判断待测水平结构构件的挠度变形情况。本申请利用高精度的激光测距仪远距离、非接触测距特点，无需搭设测量表支架及反复攀爬支架读取数据；此外本申请的变形测量装置不会对待测水平结构构件造成损伤，且环境适用性广，可在有风和光线不良的环境下工作，因此本申请能够省时省力、方便快捷的实现水平结构构件施加荷载后的挠度变化的测量。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的装置获得其他的附图。
[0020]图1为一实施例的测量组件的结构示意图；
[0021]图2为一实施例的激光测距仪、激光笔及磁铁块配合的结构示意图；
[0022]图3为一实施例的变形测量装置和楼板配合的结构示意图；
[0023]图4为一实施例的变形测量装置和横梁配合的结构示意图。
[0024]其中，100.测量组件；110.激光测距仪；120.底座；130.支架；131.支架座；132.支脚；1321.第一连杆；1322.第二连杆；1323.锁定件；140.激光笔；150.磁铁块；160.水平仪；170.调节结构；171.螺钉；172.螺母；
[0025]1.待测水平结构构件。
[0026]本技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0027]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0028]需要说明，本技术实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。另外，在本技术中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，全文中的“和/或”包括三个方案，以A和/或B为例，包括A技术方案、B技术方案，以及A和B同时满足的技术方案本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种变形测量装置，其特征在于，包括多个间隔设置的测量组件，所述测量组件包括：激光测距仪，用于测量所述激光测距仪至待测水平结构构件底部的距离；底座，所述激光测距仪设置于所述底座上，且所述激光测距仪的轴线与所述底座垂直；及支架，用于支撑所述底座。2.如权利要求1所述的变形测量装置，其特征在于，测量时第一个所述测量组件的轴线对准待测水平结构构件的中心，其余的所述测量组件相对第一个所述测量组件对称设置。3.如权利要求1所述的变形测量装置，其特征在于，所述测量组件还包括激光笔，所述激光笔与所述激光测距仪连接，所述激光测距仪的轴线与所述激光笔的轴线重合，所述激光测距仪的朝向与所述激光笔的朝向相反。4.如权利要求3所述的变形测量装置，其特征在于，所述测量组件还包括磁铁块，所述激光笔与所述激光测距仪通过磁铁块连接，所述激光笔及所述激光测距仪连接所述磁铁块的一端均由金属材质制成，所述底座由金属材质制成，所述底座上开设有通孔，所述磁铁块设置于所述通孔内，所述磁铁块与所述通孔相适配。5.如权利要求1所述的变形测量装置，其特征在于，所述测量组件还包括水平仪，所述水平仪设置于...

【专利技术属性】
技术研发人员：张飞，邱发强，林晓康，
申请(专利权)人：健研检测集团有限公司，
类型：新型
国别省市：