数据检测方法、装置、电子设备、存储介质及芯片制造方法及图纸

本申请公开了一种数据检测方法、装置、电子设备、存储介质及芯片，该方法包括：向目标芯片中的第一检测模块发送第一检测信号，对第一关注域进行检测，确定相应的第一检测结果；在确定第一检测结果符合第一检测要求的情况下，将第一关注域的状态调整为禁用状态，且将目标检测数据中的第二关注域的状态调整为检测状态；向第二关注域对应的第二检测模块发送第二检测信号，第二检测信号用于对第二关注域进行检测，确定相应的第二检测结果；基于第一检测结果和第二检测结果，确定目标检测数据是否符合第二检测要求。该方法有效提高检测效率。该方法有效提高检测效率。该方法有效提高检测效率。

【技术实现步骤摘要】
数据检测方法、装置、电子设备、存储介质及芯片


[0001]本申请涉及对芯片中的数据进行测试的领域，特别涉及一种数据检测方法、装置、电子设备、存储介质及芯片。

技术介绍

[0002]芯片在设计、使用过程中需要加载相应的编程数据，如Fuse数据。Fuse数据可以根据用户需求而进行相应的调整，从而使得芯片实现相应的功能。这就需要对编程数据进行检测以确定其是否符合要求，该检测过程十分繁杂。例如，由于Fuse数据需要被芯片（如系统级芯片SOC）中的多个模块所使用，在对Fuse数据进行检测时，可能会出现Fuse数据中与多个对象对应的多个关注域之间发生相互影响，造成检测结果不准确、检测过程费时高的问题。

技术实现思路

[0003]本申请实施例的目的在于提供一种数据检测方法、装置、电子设备、存储介质及芯片，该方法能够有效提高对目标检测数据的检测效率，准确确定检测结果。
[0004]为了实现上述目的，本申请实施例提供了一种数据检测方法，该方法应用于目标芯片中，包括：向所述目标芯片中的第一检测模块发送第一检测信号，所述第一检测信号用于对目标本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种数据检测方法，其特征在于，应用于目标芯片中，所述方法包括：向所述目标芯片中的第一检测模块发送第一检测信号，所述第一检测信号用于对目标检测数据中的第一关注域进行检测，确定相应的第一检测结果，其中，所述第一关注域的状态为检测状态，所述目标检测数据中的其他关注域的状态为禁用状态；在确定所述第一检测结果符合第一检测要求的情况下，将所述第一关注域的状态调整为禁用状态，且将所述目标检测数据中的第二关注域的状态调整为检测状态；向所述第二关注域对应的第二检测模块发送第二检测信号，所述第二检测信号用于对所述第二关注域进行检测，确定相应的第二检测结果；基于所述第一检测结果和所述第二检测结果，确定所述目标检测数据是否符合第二检测要求，以实施针对所述目标检测数据的一个检测操作。2.根据权利要求1所述的数据检测方法，其特征在于，在所述目标检测数据还包括其他关注域的情况下，所述方法还包括：重复所述检测操作，将所述目标检测数据中所有的关注域均进行检测，并确定相应的检测结果；基于所有的检测结果，确定所述目标检测数据是否符合第二检测要求。3.根据权利要求1所述的数据检测方法，其特征在于，在向所述目标芯片中的第一检测模块发送第一检测信号之前，所述方法还包括：基于地址信息，在所述目标芯片中确定所述目标检测数据；通过与所述目标检测数据相关联的数据模型，对所述目标检测数据进行初始化操作。4.根据权利要求1所述的数据检测方法，其特征在于，所述向所述目标芯片中的第一检测模块发送第一检测信号，包括：通过与所述目标检测数据相关联的数据模型，控制与所述第一检测模块相关联的功能模块向所述第一检测模块发送所述第一检测信号，以驱动所述第一检测模块工作；相应的，所述对目标检测数据中的第一关注域进行检测，确定相应的第一检测结果，包括：在所述第一检测模块响应所述第一检测信号的情况下，对邻近所述功能模块和/或所述第一检测模块的核对点进行采样，确定相应的样本集；基于所述样本集，确定所述第一检测结果。5.根据权利要求4所述的数据检测方法，其特征在于，所述基于所述样本集，确定所述第一检测结果，包括：从所述数据模型获取所述第一检测模块的配置信息；将所述样本集与所述配置信息进行对比，基于对...

【专利技术属性】
技术研发人员：何家康，夏云，
申请(专利权)人：南京芯驰半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：