显示屏贴合胶层的厚度检测方法及显示屏贴合工艺技术

本发明专利技术涉及一种显示屏贴合胶层的厚度检测方法及显示屏贴合工艺。显示屏贴合胶层的厚度检测方法用于检测镀有保护膜层的显示屏中贴合胶层的厚度。检测方法包括处理显示屏的表面，使显示屏的表面平滑；利用测厚仪向显示屏的表面发射光照；接收被显示屏反射的光束；基于被显示屏反射的光束获取贴合胶层的厚度。解决了引保护膜的表面形成有多个凹坑，导致测厚仪发射的光照无法被反射为可返回至光学测厚仪的集中光束的问题，进而能够基于被显示屏反射的光束准确地获取贴合胶层的厚度，使得检测得到的胶层厚度数值误差较小，操作简便，从而能够大幅提高显示屏贴合的效率的贴合的成品率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
显示屏贴合胶层的厚度检测方法及显示屏贴合工艺


[0001]本专利技术涉及显示屏组装
，特别是涉及一种显示屏贴合胶层的厚度检测方法及显示屏贴合工艺。

技术介绍

[0002]随着显示技术的发展，大尺寸触摸显示屏越来越广泛地应用在各种带有显示功能的设备上。当使用者以手指或者导电物体接近或者触碰触摸显示屏表面时，通过触摸显示屏的内部电路或电容的变化从而感测到触摸位置，并进行响应。常见的触摸显示屏的结构通常是多层，即由多块玻璃面板通过固态胶贴合在一起(例如触摸板和液晶屏相互贴合)，从而形成可以触摸控制的液晶显示屏。
[0003]在显示屏的贴装过程中，为了保证贴装质量，需要使触摸板和液晶屏之间的贴合胶层厚度较为均匀，通常的一种检查方式是操作人员采用目视检查的方法，通过人眼观察并估计贴合胶层的厚度来检查贴合胶层的厚度是否均匀，但这种目视检查的方法得到的贴合胶层的厚度往往误差较大，很难控制贴合胶层厚度的均匀性；或采用千分尺测量的方法，首先利用千分尺测量单块玻璃面板的厚度并记录，在贴合后再测量显示屏的总厚度，将显示屏的总厚度减去单块玻璃面板的厚度得到贴合胶层的厚度，此种测量方法也较为繁琐，测量效率较低，精度也较差。再或者利用非接触式光学测厚仪代替千分尺进行测量，但当玻璃面板表面镀有保护膜时，保护膜的表面具有细小颗粒，因而形成有多个凹坑，在使用非接触式光学测厚仪进行测量时，光学测厚仪发出的光照无法被反射为可返回至光学测厚仪的集中光束，从而导致无法使用光学测厚仪对该种显示屏的贴合胶层的厚度进行测量。

技术实现思路
r/>[0004]基于此，有必要针对在对显示屏的贴合胶层进行厚度测量的过程中遇到的上述问题，提供一种显示屏贴合胶层的厚度检测方法及显示屏贴合工艺，旨在解决上述问题。
[0005]根据本申请的一个方面，提供一种显示屏贴合胶层的厚度检测方法，用于检测镀有保护膜层的显示屏中贴合胶层的厚度，所述检测方法包括：
[0006]处理显示屏的表面，使所述显示屏的表面平滑；
[0007]利用测厚仪向所述显示屏的表面发射光照；
[0008]接收所述光照被所述显示屏反射而成的光束；
[0009]基于被所述显示屏反射的所述光束获取所述贴合胶层的厚度。
[0010]在其中一个实施例中，所述处理显示屏的表面，使所述显示屏的表面平滑的步骤中，包括：
[0011]涂覆填平层至所述保护膜层的表面，以填充所述保护膜层表面的凹坑；
[0012]利用刮板将所述填平层刮平。
[0013]在其中一个实施例中，所述显示屏包括至少两块透光面板，所述至少两块透光面板通过所述贴合胶层相互贴合，所述保护膜层镀于至少一块所述透光面板的外表面，所述
填平层为光学水胶，且所述光学水胶的折射率等于镀有所述保护膜层的所述透光面板的折射率。
[0014]在其中一个实施例中，在步骤：基于被所述显示屏反射的所述光照获取所述贴合胶层的厚度之后，还包括：
[0015]擦除涂覆于所述保护膜层表面的填平层。
[0016]在其中一个实施例中，在步骤：利用测厚仪向所述显示屏的表面发射光照之后，步骤：接收被所述显示屏反射的所述光照之前，还包括步骤：
[0017]调整所述测厚仪与所述显示屏表面之间的距离，以使所述测厚仪发射的所述光照对焦于所述显示屏表面上的一点。
[0018]在其中一个实施例中，在所述接收所述光照被所述显示屏反射而成的光束的步骤中，包括：
[0019]识别所述光照照射至所述贴合胶层上的不同反射面；
[0020]获取所述光照被不同所述反射面返回至所述测厚仪的返回距离值。
[0021]在其中一个实施例中，所述显示屏包括第一透光面板和第二透光面板，所述第一透光面板与所述第二透光面板通过所述贴合胶层相互贴合，所述第二透光面板远离所述贴合胶层的表面镀有所述保护膜层，所述不同的反射面包括第一反射面和第二反射面，所述第一反射面为所述贴合胶层与所述第一透光面板的接触面，所述第二反射面为所述贴合胶层与所述第二透光面板的接触面；
[0022]在所述获取所述光照被不同所述反射面返回至所述测厚仪的返回距离值的步骤中，所述返回距离值包括第一返回距离值和第二返回距离值，所述第一返回距离值为所述光照从所述第一反射面返回至所述测厚仪的距离，所述第二返回距离值为所述光照从所述第二反射面返回至所述测厚仪的距离。
[0023]在其中一个实施例中，在所述基于被所述显示屏反射的所述光照获取贴合胶层的厚度的步骤中，所述贴合胶层的厚度根据公式：(D1
‑
D2)
×
α计算得到；
[0024]其中，D1为所述第一返回距离值，D2为所述第二距离返回值，α为所述贴合胶层的折射率系数。
[0025]根据本申请的另一方面，提供一种显示屏贴合工艺，包括：
[0026]在第一透光面板的表面涂覆所述贴合胶层；
[0027]将第二透光面板盖合于所述贴合胶层上，以使所述第一透光面板和所述第二透光面板相互贴合；
[0028]利用如上所述的检测方法在所述显示屏的不同位置检测所述贴合胶层的厚度。
[0029]在其中一个实施例中，在步骤：在所述显示屏的不同位置检测所述贴合胶层的厚度之后，包括：
[0030]计算多次检测后的平均值；
[0031]基于多次检测后得到的所述平均值判断所述贴合胶层的厚度误差是否在规定范围内，若所述贴合胶层的厚度误差在所述规定范围内，则所述显示屏为合格品。
[0032]上述显示屏贴合胶层的厚度检测方法及包括该检测方法的显示屏贴合工艺，具有以下技术效果：
[0033]通过对显示屏的表面进行处理，将显示屏的表面处理平滑，使得在利用光学测厚
仪向显示屏的表面发射光照时，光照能够被经过处理的平滑表面反射为集中光束返回至测厚仪，从而能够基于被显示屏反射的光束准确地获取贴合胶层的厚度，进而使得检测得到的胶层厚度数值误差较小，操作简便，从而能够大幅提高显示屏贴合的效率的贴合的成品率，并且解决了显示屏表面镀有保护膜层时，因保护膜的表面形成有多个凹坑，导致测厚仪发射的光照无法被反射为可返回至光学测厚仪的集中光束的问题。
附图说明
[0034]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一种实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他实施例的附图。
[0035]图1为本专利技术的实施例中提供的显示屏的结构示意图；
[0036]图2为本专利技术的实施例提供的显示屏贴合工艺的步骤示意图；
[0037]图3为本专利技术的实施例中测厚仪的工作原理示意图；
[0038]图4为本专利技术的实施例中显示屏表面未经处理时光照反射示意图；
[0039]图5为本专利技术的实施例中显示屏表面经过处理时的光照反射示意图；
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示屏贴合胶层的厚度检测方法，其特征在于，用于检测镀有保护膜层的显示屏中贴合胶层的厚度，所述检测方法包括：处理显示屏的表面，使所述显示屏的表面平滑；利用测厚仪向所述显示屏的表面发射光照；接收所述光照被所述显示屏反射而成的光束；基于被所述显示屏反射的所述光束获取所述贴合胶层的厚度。2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述处理显示屏的表面，使所述显示屏的表面平滑的步骤中，包括：涂覆填平层至所述保护膜层的表面，以填充所述保护膜层表面的凹坑；利用刮板将所述填平层刮平。3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述显示屏包括至少两块透光面板，所述至少两块透光面板通过所述贴合胶层相互贴合，所述保护膜层镀于至少一块所述透光面板的外表面，所述填平层为光学水胶，且所述光学水胶的折射率等于镀有所述保护膜层的所述透光面板的折射率。4.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，在步骤：基于被所述显示屏反射的所述光照获取所述贴合胶层的厚度之后，还包括：擦除涂覆于所述保护膜层表面的填平层。5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在步骤：利用测厚仪向所述显示屏的表面发射光照之后，步骤：接收被所述显示屏反射的所述光照之前，还包括步骤：调整所述测厚仪与所述显示屏表面之间的距离，以使所述测厚仪发射的所述光照对焦于所述显示屏表面上的一点。6.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在所述接收所述光照被所述显示屏反射而成的光束的步骤中，包括：识别所述光照照射至所述贴合胶层上的不同反射面；获取所述光照被不同所述反射面返回至所述测厚仪的返回距离值。7.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，所述显示屏包括第一透光面板和第二透...

【专利技术属性】
技术研发人员：王洋洋，
申请(专利权)人：苏州桐力光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：