【技术实现步骤摘要】
一种星上标定设备的额外衰减补偿方法和装置
[0001]本专利技术涉及遥感传感器
,特别涉及一种星上标定设备的额外衰减补偿方法和装置。
技术介绍
[0002]基于卫星遥感数据的定量反演准确性依赖于高精度辐射标定数据。传感器经历了随卫星发射升空的过程,在真空、失重、光照和温度剧烈变化的环境中运行,其各通道响应会发生很大变化,标定系数相较于发射前会产生一定差异。因此需要开展在轨标定,以获取各通道准确的标定系数。
[0003]漫反射板、监测器作为星上在轨标定设备,其性能会随时间发生衰减,无法保持长期稳定性。虽然在轨标定期间,监测器对漫反射板的衰减进行监测,但随着在轨累积曝光时间的增加,监测器也随之衰减,导致还会存在一定的额外衰减无法补偿,进而影响在轨标定的精度。同时,由于频繁的开展星上标定也会对漫反射板等器件造成影响,而且这期间会终止探测器的探测工作,因此无法实现高频率长时间序列的星上标定工作,这也将导致无法估测标定系统的衰减规律,因而影响在轨标定精度,极大地限制了遥感观测数据的应用。
技术实现思路
[0004]本专利技术提供了一种星上标定设备的额外衰减补偿方法和装置,该方法对额外衰减进行了补偿,提高了在轨标定的精度。
[0005]第一方面,本专利技术实施例提供了一种星上标定设备的额外衰减补偿方法,包括:
[0006]基于辐射传输模型交叉定标法,确定待标定传感器的理论表观反射率和定标系数;
[0007]根据所述定标系数对所述待标定传感器进行标定,获取标定后待定标传感器的第 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种星上标定设备的额外衰减补偿方法,其特征在于,包括:基于辐射传输模型交叉定标法,确定待标定传感器的理论表观反射率和定标系数;根据所述定标系数对所述待标定传感器进行标定,获取标定后待定标传感器的第一表观反射率;根据所述标定后待标定传感器获取的DN值、所述定标系数、所述第一表观反射率和所述理论表观反射率,计算得到交叉辐射标定系数相对误差和星上标定系数相对误差;根据所述交叉辐射标定系数相对误差和所述星上标定系数相对误差,判断所述待标定传感器是否需要进行额外衰减补偿;若是,则根据所述星上标定系数相对误差,确定修正系数。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于辐射传输模型交叉定标法,确定待标定传感器的理论表观反射率和定标系数,包括:基于辐射传输模型交叉定标法,构建交叉辐射传输模型;根据所述交叉辐射传输模型,得到所述理论表观反射率;对所述理论表观反射率和所述待标定传感器获取的DN值进行线性拟合,得到所述标定系数。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述标定后待标定传感器获取的DN值、所述定标系数、所述第一表观反射率和所述理论表观反射率,计算得到交叉辐射标定系数相对误差和星上标定系数相对误差,包括:获取所述标定后待标定传感器的DN值;其中,所述DN值与所述第一表观反射率对应的遥感图像相同;根据所述DN值和所述定标系数,确定第二表观反射率;根据所述第二表观反射率和所述理论表观反射率,计算得到交叉辐射标定系数相对误差;根据所述第一表观反射率和所述理论表观反射率,计算得到星上标定系数相对误差。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述第二表观反射率通过如下公式确定:R
″
cn
=A
n
DN
cn
+B
n
其中,n用于表征第n个通道;对于第n个通道,R
″
cn
用于表征所述第二表观反射率;A
n
和B
n
均用于表征所述定标系数;DN
cn
用于表征所述DN值;所述交叉辐射标定系数相对误差通过如下公式确定:所述星上标定系数相对误差通过如下公式确定:其中,n用于表征第n个通道;对于第n个通道,Dif2用于表征所述交叉辐射标定系数相对误差;R
″
cn
用于表征所述第二表观反射率;Dif1用于表征所述星上标定系数相对误差;R
′
cn
用于表征所述第一表观反射率;用于表征所述理论表观反射率;...
【专利技术属性】
技术研发人员:丁宁,刘栋,马静,朱希娟,李霞,刘兴润,林娟,毛宏霞,朱勇,
申请(专利权)人:北京环境特性研究所,
类型:发明
国别省市:
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