一种复合型光纤缺陷检测装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术属光纤检测技术领域，具体涉及一种复合型光纤缺陷检测装置及方法。所述复合型光纤缺陷检测装置包括：光源模块、光纤复绕模块、光纤清洁模块、激光测径模块、缺陷检测模块、漏光检测模块、数据分析模块；该装置及方法集成光纤表面缺陷检测成像、光纤线径一致性检测和光纤漏光缺陷检测三个主要功能，实现光纤涂覆层表面裂纹、损伤及线径异常等缺陷的复合型功能检测与识别。能检测与识别。能检测与识别。

【技术实现步骤摘要】
一种复合型光纤缺陷检测装置及方法


[0001]本专利技术属光纤检测
，具体涉及一种复合型光纤缺陷检测装置及方法。

技术介绍

[0002]目前国内光纤行业领域内，对光纤的检测方法，主要是基于静态抽样检测来开展，如利用光纤筛选机进行检测，无法实现对被测光纤长度上的连续测量。在光纤的表面缺陷检测过程中，不能反映光纤沿长度方向变化的细节，存在忽略缺陷点或异常点的隐患，对于要求较高的光纤产品制备无法进行有效的筛选。另外，目前的光纤缺陷手段在一次检测过程中无法实现线径测量、表面缺陷成像及漏光检测的同时检测，仍存在较大的功能提升潜力。

技术实现思路

[0003](一)要解决的技术问题
[0004]本专利技术要解决的技术问题是：为克服上述缺点，如何突破光纤缺陷检测的技术瓶颈，如何提供一种复合型光纤缺陷检测装置及方法，集成光纤表面缺陷检测成像、光纤线径一致性检测和光纤漏光缺陷检测三个主要功能，实现光纤涂覆层表面裂纹、损伤及线径异常等缺陷的复合型功能检测与识别。
[0005](二)技术方案
[0006]为了解决上述技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种复合型光纤缺陷检测装置，其特征在于，所述复合型光纤缺陷检测装置包括：光源模块、光纤复绕模块、光纤清洁模块、激光测径模块、缺陷检测模块、漏光检测模块、数据分析模块；所述光源模块用于将多模红光注入到被测光纤中；所述光纤复绕模块用于控制被测光纤的行进；所述光纤清洁模块用于实现去除被测光纤表面灰尘及静电的功能，减小光纤表面缺陷成像检测误判；所述激光测径模块用于实现被测光纤双向线径的连续测量功能；所述缺陷检测模块用于进行被测光纤的成像及缺陷记录；所述漏光检测模块采用红光的LD激光器作为光源，用于利用视觉检测技术采集和识别漏光处缺陷；所述数据分析模块用于对光纤表面图像进行分析处理，并进行显示和报警。2.如权利要求1所述的复合型光纤缺陷检测装置，其特征在于，所述复合型光纤缺陷检测装置还包括系统控制模块；所述系统控制模块采用可编程逻辑控制器、人机交互界面和交流伺服控制系统，来实现人机交互功能。3.如权利要求1所述的复合型光纤缺陷检测装置，其特征在于，所述光源模块为红光光源。4.如权利要求1所述的复合型光纤缺陷检测装置，其特征在于，所述光纤复绕模块通过光纤复绕机实现。5.如权利要求1所述的复合型光纤缺陷检测装置，其特征在于，所述光纤清洁模块包括除尘组件和除静电组件。6.如权利要求5所述的复合型光纤缺陷检测装置，其特征在于，所述除静电组件采用离子风棒、离子风枪、离子风机组成。7.如权利要求1所述的复合型光纤缺陷检测装置，其特征在于，所述激光测径模块采用激光测径仪实现。8.如权利要求1所述的复合型光纤缺陷检测装置，其特征在于，所述缺陷检测模块采用可见光照明光源和高速CCD相机实现。9.如权利要求8所述的复合型光纤缺陷检测装置，其特征在于，所述缺陷检测模块采用高速CCD相机实现光纤的光学成像；成像系统采用双组对称结构的双胶合透镜设计，校正光学相差，表面缺陷检测和漏光检测采用相同的光学结构，两套系统物距和像距相同，工作距离相同，便于系统调试；由于需要对待测光纤进行快速连续成像，因此成像光纤区域的照明必须均匀稳定，否则会出现明暗不同的成像结果；针对裸光纤自身透明的特性，采用高功率LED背光照明的方式，为了获得均匀的照明效果，在LED与待测光纤之间插入匀光板；针对加强型光纤自身不透光的特性，采用对称侧向照明方式，两个相同光源对称放置，通过两组光源进行叠加，在成像视场内获得均匀的光照度。1...

【专利技术属性】
技术研发人员：张天瑶，王晓章，薛耀辉，朱启举，张卓，唐峰，牛震，张辉，李毅，潘良，李明航，
申请(专利权)人：西安现代控制技术研究所，
类型：发明
国别省市：