【技术实现步骤摘要】
基于校正后电阻率来反演含盐储层饱和度的方法和系统
[0001]本专利技术属于石油勘探中砂岩储层的测井评价
,涉及一种在砂岩储层中利用常规测井和阵列感应测井联合计算出的氯盐含量来反演含盐储层饱和度的方法和系统。
技术介绍
[0002]非常规含盐储层受上覆巨厚盐层的影响,导致研究区域深层储层主力层系的视电阻率低且含气饱和度计算值偏低,与实际完井试油获得高产油气流不符。结合地质认识,普遍认为含盐储层的上覆巨厚盐层中存在的高压盐水倒灌进下部砂岩储层中,在砂岩内形成高矿化度薄膜水,导致早期进入储层后无法驱替微孔中的高矿化度薄膜水,由于微孔隙中的高矿化度的薄膜水导电能力强,使气层导电能力也变强,造成测井响应视电阻率比较低。目前,库车深层的含盐储层较为常见出现的现象:(1)越靠近上覆巨厚盐层,常规测井识别能力越低;(2)越靠近上覆巨厚盐层,储层孔隙度越大,电阻率越低;(3)同等孔隙度条件下,随着砂岩储层与上覆盐层的距离增大,氯盐含量逐渐降低,电阻率增大。当距离足够远时,测井识别不再受到氯盐含量的影响。然而,因电阻率计算的饱和度在致密砂岩气藏中是十分重要的参数,对指导油气田的勘探开发具有重要意义。为了深入研究含盐储层的导电机理和饱和度高精度模型,来创新了一套基于校正后电阻率来反演含盐储层饱和度的方法,国内外学者未尝试对这套方法进行研究。但事实上,多数砂岩气藏属于“Archie”饱和模型。尽管如此,目前没有另一种衍生的Archie岩石物理模型概念应用于当前非常规含盐砂岩气藏。经典Archie公式模型为:
[0003][0 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于校正后电阻率来反演含盐储层饱和度的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤101,利用阵列感应测井,建立受上覆巨厚盐层影响的含盐储层中氯盐含量与地层电阻率关系式,利用受上覆巨厚盐层影响的含盐储层中氯盐含量与地层电阻率关系式,得到地层视电阻率值;步骤102,引入距盐层底部深度和储层孔隙度,建立含盐储层氯盐含量计算公式,利用建立的含盐储层氯盐含量计算公式,得到含盐储层氯盐含量;步骤103,利用阵列感应、岩性密度、补偿声波和补偿中子测井资料处理得到的氯盐含量,建立地层电阻率变化量公式,利用地层电阻率变化量公式,得到地层电阻率变化量;步骤104,利用阵列感应、岩性密度、补偿声波和补偿中子测井处理得到的目的层段的视电阻率、孔隙度与氯盐含量,建立基于校正后电阻率来反演含盐储层饱和度模型,利用得到的基于校正后电阻率来反演含盐储层饱和度模型,计算得到含盐储层的含气饱和度。2.如权利要求1所述的一种基于校正后电阻率来反演含盐储层饱和度的方法,其特征在于,所述步骤101,利用阵列感应测井,建立受上覆巨厚盐层影响的含盐储层中氯盐含量与地层视电阻率关系式如下:R
t
=f(V
scl
)=a
·
R0·
V
sclb
式中,R
t
为地层视电阻率值,Ω.m;R0为储层段中受氯盐含量影响的基质电阻率值,Ω.m;V
scl
为岩心测试得到的氯盐含量,g/kg;a、b为地区经验系数,无因次。3.如权利要求2所述的一种基于校正后电阻率来反演含盐储层饱和度的方法,其特征在于,步骤S102中,引入距盐层底部深度和储层孔隙度,得到含盐储层氯盐含量计算公式;包括:考虑储层孔隙度建立氯盐含量计算公式:考虑储层埋藏深度和距盐层底部深度建立氯盐含量计算公式:V
cl
'=g
·
ln(dep
‑
dep0)+h+V
cly
根据两种方法耦合综合得到最终的含盐储层氯盐含量计算公式:V
zcl
=f(V
cl
,V
cl
′
)式中:AC为岩石的声波时差测井值,μs/ft;CNL为岩石的补偿中子测井值,pu;DEN为岩石的补偿密度测井值,g/cm3;dep为目的层测井深度值、dep0为上覆巨厚盐层的测井深度值,m;V
cl
是利用孔隙度曲线来确定的氯盐含量,g/kg;V
cl
’
是利用距盐层底部深度来确定的氯盐含量,g/kg;V
zcl
是利用孔隙度曲线和距盐层底部深度来确定的氯盐含量,g/kg;V
clx
是单井储层段中最小孔隙度所含氯盐含量,g/kg;V
cly
是距盐层底部深度超出100米外的平均氯盐含量,g/kg;c、d、e、f、g、h为研究区储层中氯盐含量确定关系系数,其中:当φ≥8%时,g=
‑
7.9,h=42.6;当6%≤φ&l...
【专利技术属性】
技术研发人员:曹军涛,信毅,韩闯,肖承文,祁新忠,袁龙,别康,虞兵,赵新建,李新城,唐保勇,田隆梅,朱雷,
申请(专利权)人:中国石油天然气股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。