调试信号输出系统、PCIE设备、电子设备及方法技术方案

本公开涉及PCIE设备调试领域，具体提供一种调试信号输出系统、PCIE设备、电子设备及方法。其中，调试信号输出系统设置在PCIE设备内，调试信号输出系统包括调试能力模块和调试主模块；调试能力模块包括第一寄存器，第一寄存器中的第一预设字段用于表示调试模式的进入和退出；调试主模块包括调试驱动单元、调试监控单元及TLP生成单元；在进入调试模式后，调试驱动单元用于将PCIE主机端发送的激励TLP包中的激励数据输入给PCIE设备的调试点；调试监控单元用于对调试点的输出数据进行采样，并将采样的输出数据传递给TLP生成单元；TLP生成单元用于根据该输出数据生成状态TLP包，并将状态TLP包反馈给PCIE主机端。TLP包反馈给PCIE主机端。TLP包反馈给PCIE主机端。

【技术实现步骤摘要】
调试信号输出系统、PCIE设备、电子设备及方法


[0001]本公开涉及PCIE设备调试领域，尤其涉及一种应用于PCIE设备的调试信号输出系统、PCIE设备、电子设备及方法。

技术介绍

[0002]PCIE设备通常是指支持PCIE协议的设备，或者以PCIE协议为标准的设备，PCIE设备能够通过PCIE接口与主机端进行连接，并与主机端进行数据交互。在针对PCIE设备进行芯片设计期间，通常需要观测PCIE设备芯片内部的调试信号，通过对调试信息进行分析处理，来检验芯片设计的合理性。
[0003]相关技术中，在观测PCIE设备芯片内部的调试信号时，一种观测方式是通过芯片的GPIO引脚采集调试信号，但是这种方式支持的信号频率偏低，通常在200Mhz左右，并且由于引脚数量有限，限制了可观测信号的数量；另一种观测方式是利用芯片内部的寄存器记录调试信息，然后通过软件读取寄存器以获取调试信息，但是这种方式的弊端是软件读取寄存器滞后，无法实时观测，灵活性较差。

技术实现思路

[0004]本公开的目的是提供一种应用于PCIE设备的调试信号输出系统、PCIE设备、电子设备及方法，旨在提升调试信号的观测灵活性，实现调试信号的实时观测。
[0005]根据本公开的一个方面，提供一种应用于PCIE设备的调试信号输出系统，该调试信号输出系统设置在PCIE设备内，该调试信号输出系统包括调试能力模块和调试主模块；调试能力模块包括第一寄存器，第一寄存器中的第一预设字段用于表示调试模式的进入和退出，调试主模块包括调试驱动单元、调试监控单元及TLP生成单元；第一寄存器，用于接收PCIE主机端对第一预设字段的配置；调试驱动单元，用于在进入调试模式后将PCIE主机端发送的激励TLP包中的激励数据输入给PCIE设备的调试点，并置位调试监控单元的触发寄存器；调试监控单元，用于在监控到触发寄存器被置位后，对调试点的输出数据进行采样，并将采样的输出数据传递给TLP生成单元；TLP生成单元，用于根据该输出数据生成状态TLP包，并将状态TLP包反馈给PCIE主机端。
[0006]本公开一种可行的实现方式中，激励TLP包中还包括预设延迟值；调试监控单元，还用于在监控到触发寄存器被置位后，基于采样时钟开始计数；调试监控单元，具体用于判断计数累计值是否达到预设延迟值，在计数累计值达到预设延迟值的情况下，基于采样时钟对调试点的输出数据进行采样。
[0007]本公开一种可行的实现方式中，第一寄存器中的第二预设字段用于表示采样时钟对应的分频系数；第一寄存器，还用于接收PCIE主机端对第二预设字段的配置。
[0008]本公开一种可行的实现方式中，调试能力模块还包括第二寄存器，第二寄存器中的第三预设字段用于表示是否允许进入调试模式；第二寄存器，用于接收PCIE主机端对第三预设字段的配置。
[0009]本公开一种可行的实现方式中，调试能力模块还包括第三寄存器，第三寄存器中的第四预设字段用于表征PCIE设备是否支持调试功能；第三寄存器，用于接收PCIE主机端对第四预设字段的读取。
[0010]本公开一种可行的实现方式中，调试主模块的数量为多个，调试信号输出系统还包括TLP包分配模块；TLP包分配模块，用于接收PCIE主机端发送的激励TLP包，并根据激励TLP包中包括的调试ID，将激励TLP包或激励TLP包中的激励数据分配给调试ID对应的调试主模块。
[0011]本公开一种可行的实现方式中，TLP生成单元，还用于在将状态TLP包反馈给PCIE主机端之前将自身所属的调试主模块对应的调试ID填充至状态TLP包。
[0012]本公开一种可行的实现方式中，激励TLP包和状态TLP包中均包括包类型信息，包类型信息用于表示该包类型信息所属的TLP包是与调试相关的TLP包。
[0013]根据本公开的另一方面，还提供一种PCIE设备，该PCIE设备包括上述任一实施例中所述的调试信号输出系统。在一些使用场景下，该PCIE设备的产品形式体现为支持PCIE协议的GPU、网卡或者存储装置等。
[0014]根据本公开的另一方面，还提供一种电子设备，该电子设备包括上述任一实施例中所述的PCIE设备。在一些使用场景下，该电子设备的产品形式是便携式电子设备，例如智能手机、平板电脑、VR设备等；在一些使用场景下，该电子设备的产品形式是个人电脑、游戏主机等。
[0015]根据本公开的另一方面，还提供一种应用于PCIE设备的调试信号输出方法，PCIE设备包括调试信号输出系统，调试信号输出系统包括调试能力模块和调试主模块；调试能力模块包括第一寄存器，第一寄存器中的第一预设字段用于表示调试模式的进入和退出；调试主模块包括调试驱动单元、调试监控单元及TLP生成单元；方法包括：第一寄存器接收PCIE主机端对第一预设字段的配置，从而进入调试模式；在进入调试模式后，调试驱动单元将PCIE主机端发送的激励TLP包中的激励数据输入给PCIE设备的调试点，并置位调试监控单元的触发寄存器；调试监控单元在监控到触发寄存器被置位后，对调试点的输出数据进行采样，并将采样的输出数据传递给TLP生成单元；TLP生成单元根据输出数据生成状态TLP包，并将状态TLP包反馈给PCIE主机端。
[0016]本公开一种可行的实现方式中，激励TLP包中还包括预设延迟值；调试监控单元在监控到触发寄存器被置位后，对调试点的输出数据进行采样，并将采样的输出数据传递给TLP生成单元，包括：调试监控单元在监控到触发寄存器被置位后，基于采样时钟开始计数；调试监控单元判断计数累计值是否达到预设延迟值，在计数累计值达到预设延迟值的情况下，基于采样时钟对调试点的输出数据进行采样，并将采样的输出数据传递给TLP生成单元。
[0017]本公开一种可行的实现方式中，第一寄存器中的第二预设字段用于表示采样时钟
对应的分频系数；方法还包括：第一寄存器接收PCIE主机端对第二预设字段的配置。
[0018]本公开一种可行的实现方式中，调试主模块的数量为多个，调试信号输出系统还包括TLP包分配模块；方法还包括：TLP包分配模块接收PCIE主机端发送的激励TLP包，并根据激励TLP包中包括的调试ID，将激励TLP包或激励TLP包中的激励数据分配给调试ID对应的调试主模块。
[0019]本公开一种可行的实现方式中，方法还包括：TLP生成单元在将状态TLP包反馈给PCIE主机端之前，将自身所属的调试主模块对应的调试ID填充至状态TLP包。
附图说明
[0020]图1是本公开一实施例提供的PCIE设备调试信号的输出过程示意图；图2是本公开一实施例提供的激励TLP包的包结构示意图；图3是本公开一实施例提供的状态TLP包的包结构示意图；图4是本公开一实施例中的调试能力模块的结构示意图；图5是本公开一实施例提供的应用于PCIE设备的调试信号输出方法的流程示意图。
具体实施方式
[0021]在介绍本公开实施例之前，应当说明的是：本公开部分实施例被描述为处理流程，虽然流程的各个操本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种应用于PCIE设备的调试信号输出系统，所述调试信号输出系统设置在所述PCIE设备内，所述调试信号输出系统包括调试能力模块和调试主模块；所述调试能力模块包括第一寄存器，所述第一寄存器中的第一预设字段用于表示调试模式的进入和退出；所述调试主模块包括调试驱动单元、调试监控单元及TLP生成单元；所述第一寄存器，用于接收PCIE主机端对所述第一预设字段的配置；所述调试驱动单元，用于在进入所述调试模式后，将所述PCIE主机端发送的激励TLP包中的激励数据输入给所述PCIE设备的调试点，并置位所述调试监控单元的触发寄存器；所述调试监控单元，用于在监控到所述触发寄存器被置位后，对所述调试点的输出数据进行采样，并将采样的输出数据传递给所述TLP生成单元；所述TLP生成单元，用于根据所述输出数据生成状态TLP包，并将所述状态TLP包反馈给所述PCIE主机端。2.根据权利要求1所述的调试信号输出系统，所述激励TLP包中还包括预设延迟值；所述调试监控单元，还用于在监控到所述触发寄存器被置位后，基于采样时钟开始计数；所述调试监控单元，具体用于判断计数累计值是否达到所述预设延迟值，在所述计数累计值达到所述预设延迟值的情况下，基于所述采样时钟对所述调试点的输出数据进行采样。3.根据权利要求2所述的调试信号输出系统，所述第一寄存器中的第二预设字段用于表示所述采样时钟对应的分频系数；所述第一寄存器，还用于接收所述PCIE主机端对所述第二预设字段的配置。4.根据权利要求1所述的调试信号输出系统，所述调试能力模块还包括第二寄存器，所述第二寄存器中的第三预设字段用于表示是否允许进入调试模式；所述第二寄存器，用于接收所述PCIE主机端对所述第三预设字段的配置。5.根据权利要求1所述的调试信号输出系统，所述调试能力模块还包括第三寄存器，所述第三寄存器中的第四预设字段用于表征所述PCIE设备是否支持调试功能；所述第三寄存器，用于接收所述PCIE主机端对所述第四预设字段的读取。6.根据权利要求1所述的调试信号输出系统，所述调试主模块的数量为多个，所述调试信号输出系统还包括TLP包分配模块；所述TLP包分配模块，用于接收所述PCIE主机端发送的激励TLP包，并根据所述激励TLP包中包括的调试ID，将所述激励TLP包或所述激励TLP包中的激励数据分配给所述调试ID对应的调试主模块。7.根据权利要求6所述的调试信号输出系统，所述TLP生成单元，还用于在将状态TLP包反馈给所述PCIE主机端之前将自身所属的调试主模块对应的调试ID填充至所述状态TLP包。8.根据权利要求6所述的调试信号输出系统，所述激励T...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔明志，刘龙斌，叶鹏玉，
申请(专利权)人：北京象帝先计算技术有限公司，
类型：发明
国别省市：