后处理器隔热罩支架检具制造技术

技术编号:37413348 阅读:7 留言:0更新日期:2023-04-30 09:38
本实用新型专利技术涉及一种后处理器隔热罩支架检具,其包括用于检测后处理器合件总成Z向面的Z向检尺、用于检测后处理器合件总成X向面的X向检尺、用于检测后处理器合件总成Y向面的Y向检尺以及检测销。本实用新型专利技术后处理器隔热罩支架检具,通过检测零件的相对尺寸,用检测面检测产品A、B、C、D处相匹配,检测面与支架角度一致为合格,反之则NG,能够便捷检测检测隔热罩与支架相对尺寸及合件支架装配孔合格与否,结构简单,操作方便。操作方便。操作方便。

【技术实现步骤摘要】
后处理器隔热罩支架检具


[0001]本技术属于设备工装
,涉及一种后处理器隔热罩支架检具。

技术介绍

[0002]后处理器主要包括进气管、出气管、混合器、载体、载体连接环、合件总成支架、外壳体、线束、传感器座、隔热罩总成、支架等组成。其中的隔热罩支架位置尺寸不合格可能造成客户装配隔热罩时出现孔位错位导致装配困难。然而由于隔热罩支架焊接后相关尺寸难以测量,导致后处理器总成隔热罩支架尺寸检测困难。
[0003]因此,急需能够检测后处理器合件总成尤其是隔热罩与支架相对位置的工具。

技术实现思路

[0004]本技术为了解决上述现有技术中后处理器隔热罩与支架相对位置以及合件支架角度检测困难的问题,而提出一种能够便捷检测隔热罩与支架相对位置合格与否的后处理器隔热罩支架检具。
[0005]本技术是通过以下技术方案实现的:
[0006]上述的后处理器隔热罩支架检具,所述检具包括用于检测后处理器合件总成Z向面的Z向检尺、用于检测后处理器合件总成X向面的X向检尺、用于检测后处理器合件总成Y向面的Y向检尺、检测销;所述Z向检尺包括Z向检测支架、定位面;Z向检测支架具有与X向检测支架连接的固定端和另一自由伸出的自由端,面向后处理器总成的一侧边设有一对检测销支架;所述检测销支架与所述后处理器合件总成的工艺孔相匹配; 所述定位面设置在所述Z向检测支架的靠近自由端,并向着所述后处理器总成的方向凸伸;所述X向检尺固定安装于所述Z向检测支架的固定端,包括X向检测支架、卡位板、X向通止规;所述X向检测支架的一端垂直固定连接于所述Z向检测支架;所述卡位板固定在所述X向检测支架内侧,与所述X向检测支架彼此成垂直状态;所述X向通止规匹配安装在所述卡位板的一端;所述Y向检尺安装在X向检测支架,包括Y向检测支架、Y向检测块;所述Y向检测支架与所述 X向检测支架呈十字交叉,两端分别向外伸出;所述Y向检测块设置在所述Y向检测支架的两端,沿所述Z向检测支架伸出方向伸出; 所述检测销具有一对,自所述Z向检尺的检测销支架顶端沿Y向装设,与所述后处理器合件总成的工艺孔相匹配。
[0007]所述的后处理器隔热罩支架检具,其中:所述定位面由位于同一平面的四块定位面构成,并呈四角分布设置在所述Z向检测支架。
[0008]所述的后处理器隔热罩支架检具,其中:所述Z向检尺包括基准孔定位销;所述基准孔定位销匹配安装在所述Z向检测支架面向所述后处理器合件总成的一面,用于插入所述后处理器合件总成的基准孔内防止检具移动。
[0009]所述的后处理器隔热罩支架检具,其中:所述Z向检测支架背向后处理器总成的一面设有Z向手柄。
[0010]所述的后处理器隔热罩支架检具,其中:所述X向检测支架面向所述后处理器总成
的一面与所述Z向检测支架面向所述后处理器总成的一面之间设有X向加强筋。
[0011]所述的后处理器隔热罩支架检具,其中:所述X向检测支架背向后处理器总成的一面设有Y向手柄。
[0012]所述的后处理器隔热罩支架检具,其中:所述Y向检测支架具有平行设置的一对。
[0013]所述的后处理器隔热罩支架检具,其中:所述Y向检尺设有定位盘;所述定位盘与后处理器总成出气管的管口相平。
[0014]所述的后处理器隔热罩支架检具,其中:所述Y向检测块呈L型,其中较短一边与所述Y向检测支架装配连接,较长的另一边自由伸出。
[0015]有益效果:
[0016]本技术后处理器隔热罩支架检具,通过检测零件的相对尺寸,用检测面检测产品A、B、C、D处相匹配,检测面与支架角度一致为合格,反之则NG。本技术检具能够便捷检测检测隔热罩与支架相对尺寸及合件支架装配孔合格与否,结构简单,操作方便。
附图说明
[0017]图1为本技术后处理器隔热罩支架检具的结构示意图;
[0018]图2为本技术后处理器隔热罩支架检具的另一角度结构示意图;
[0019]图3为本技术后处理器隔热罩支架检具的检测装配图。
具体实施方式
[0020]如图1

图3所示,本技术的后处理器合件支架检具,包括用于检测后处理器合件总成Z向面的Z向检尺1、用于检测后处理器合件总成X向面的X向检尺2、用于检测后处理器合件总成Y向面的Y向检尺3、检测销4;
[0021]Z向检尺1包括Z向检测支架11、定位面12、基准孔定位销13、Z向手柄14;
[0022]Z向检测支架11具有与X向检测支架2连接的固定端和另一自由伸出的自由端,开设有两个检测销孔111,背向后处理器总成6的一侧边匹配设有一对检测销支架112;两个检测销孔111与检测销支架112及后处理器合件总成6的工艺孔相匹配;
[0023]定位面12设置在Z向检测支架11,靠近Z向检测支架11的自由端,并向着后处理器总成6的方向凸伸,且中央设有通孔;在本实施例中采用的位于同一平面的四块定位面构成,并呈四角分布设置在Z向检测支架11,其中两块定位面分别设置在两个检测销孔111面向后处理器合件总成6的一面;
[0024]基准孔定位销13匹配安装在Z向检测支架11面向后处理器合件总成6的一面,本实施例中是安装在另外两块定位面12上,用于插入后处理器合件总成6的基准孔内防止检具移动;
[0025]Z向手柄14设在Z向检测支架11背向后处理器总成6的一面。
[0026]X向检尺2固定安装于Z向检测支架11的固定端,包括X向检测支架21、卡位板22、X向通止规23;
[0027]X向检测支架21的一端垂直固定连接于Z向检测支架11,另一端匹配连接有卡位板22;X向检测支架21面向后处理器总成的一面与Z向检测支架11面向后处理器总成6的一面之间还固定连接有X向加强筋211,X向检测支架21背向后处理器总成6的一面设置有手柄
212;
[0028]卡位板22固定在X向检测支架21内侧,与X向检测支架21彼此成垂直状态;
[0029]X向通止规23匹配安装在卡位板22的另一端。
[0030]Y向检尺3安装在X向检测支架21,包括Y向检测支架31和Y向检测块32;
[0031]Y向检测支架31与 X向检测支架21呈十字交叉,两端分别向外伸出;本实施例中,Y向检测支架31具有平行设置的一对;
[0032]Y向检测块32设置在Y向检测支架31的两端,沿Z向检测支架11伸出方向伸出;本实施例中Y向检测块32呈L型,其中较短一边与Y向检测支架31装配连接,较长的另一边自由伸出。
[0033]检测销4具有一对,自Z向检尺1的检测销支架112顶端沿Y向装设,与后处理器合件总成6的工艺孔相匹配。
[0034]如图3所示,本技术检具的具体检测过程如下:
[0035]步骤1:将基准孔定位销13对准产品基准孔放置B、C基准面上,使产品紧贴四个定位面,检具定位完成;
[0036]步骤2:产品摆放姿势如图2所示,放置本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种后处理器隔热罩支架检具,其特征在于:所述检具包括用于检测后处理器合件总成Z向面的Z向检尺、用于检测后处理器合件总成X向面的X向检尺、用于检测后处理器合件总成Y向面的Y向检尺、检测销;所述Z向检尺包括Z向检测支架、定位面;Z向检测支架具有与X向检测支架连接的固定端和另一自由伸出的自由端,面向后处理器总成的一侧边设有一对检测销支架;所述检测销支架与所述后处理器合件总成的工艺孔相匹配; 所述定位面设置在所述Z向检测支架的靠近自由端,并向着所述后处理器总成的方向凸伸;所述X向检尺固定安装于所述Z向检测支架的固定端,包括X向检测支架、卡位板、X向通止规;所述X向检测支架的一端垂直固定连接于所述Z向检测支架;所述卡位板固定在所述X向检测支架内侧,与所述X向检测支架彼此成垂直状态;所述X向通止规匹配安装在所述卡位板的一端;所述Y向检尺安装在X向检测支架,包括Y向检测支架、Y向检测块;所述Y向检测支架与所述 X向检测支架呈十字交叉,两端分别向外伸出;所述Y向检测块设置在所述Y向检测支架的两端,沿所述Z向检测支架伸出方向伸出;所述检测销具有一对,自所述Z向检尺的检测销支架顶端沿Y向装设,与所述后处理器合件总成的工艺孔相匹配。2.如权利要求1所述的后处理器隔热罩支...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵永杨磊张楚良
申请(专利权)人:湖北迪耐斯通达排放处理系统有限公司
类型:新型
国别省市:

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