辅料自动检测装置、方法及系统制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种多功能辅料检测技术，涉及辅料自动检测装置、方法及系统，辅料自动检测装置，包含显示屏、控制器、光源发射接收装置、样品台、可移动旋转轴和遮光箱体，样品台上放置有待检测的样品，光源发射接收装置位于样品台的上方，光源发射接收装置上方连接有可移动旋转轴，光源发射接收装置包含量子点光源、光电探测器和CCD摄像头。采用量子点光源、光电探测器、CCD摄像头同时进行工业辅料表面的光学扫描和可见光传感，可同时获得工业辅料表面的3D结构，以及在多光谱发射条件下不同波段范围内反射率的分布数据。有效结合光学检测、视频探测、图像处理等手段，对工业辅料结构和材质进行综合有效分析，提高自动化、数字化检测效率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
辅料自动检测装置、方法及系统


[0001]本专利技术涉及一种多功能辅料检测技术，涉及一种辅料自动检测装置、方法及系统。

技术介绍

[0002]随着智能制造业现代化进程的加快，工业辅料的材料、种类、结构以及加工程序变得日渐多样化和复杂化。不同工业辅料的加工工艺水平、良品率不同，而工业辅料的品质是市场流通的保障。尤其是在工业数字化领域，对大产量工业辅料的良品率提供保障是工业辅料得以推广使用的前提和基础。
[0003]目前在电子厂、材料加工厂等领域，保证工业辅料良品率的办法包括人眼观测判断、基于样品重量的自动化分类、摄像分类筛选等。此外，常规无损检测技术包括射线检测、超声检测、磁粉检测、渗透检测、电磁检测等。上述无损检测技术的适用范围具有较强针对性，包括专门用于导电材料、磁性材料等。此外，常规无损检测技术较难实现对微观材料实施三维检测、实时检测。
[0004]上述辅料检测技术可以提高一部分种类的工业辅料良品率，但仅限于一些尺寸较大、独立包装、特征清晰的工业辅料。然而，上述辅料检测技术对工业辅料在微观尺寸上的检测与筛选存在技术瓶颈。尤其本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种辅料自动检测装置，其特征在于，包含显示屏、控制器(510)、光源发射接收装置(100)、样品台(530)、可移动旋转轴(540)和遮光箱体(560)，遮光箱体(560)一侧设有开关门，遮光箱体(560)内设有样品台(530)，样品台(530)上放置有待检测的样品，光源发射接收装置(100)位于样品台(530)的上方，光源发射接收装置(100)的上方连接有可移动旋转轴(540)，其中，光源发射接收装置(100)包含：量子点光源、光电探测器和CCD摄像头。2.如权利要求1所述的辅料自动检测装置，其特征在于，量子点光源是由多量子点光源组成的阵列，量子点光源可发出多个可调制窄波长光束。3.如权利要求1所述的辅料自动检测装置，其特征在于，量子点光源(110)包括：阳极、电子传输层、量子点层，空穴传输层和阴极。4.如权利要求3所述的辅料自动检测装置，其特征在于，电子传输层材料为铯掺杂SnO2，电子传输层材料的制造方法如下：将0.001
‑
0.1M SnCl2·
2H2O和0.01
‑
0.1mMCsCl溶解在无水酒精中，然后将混合液在室温或80℃下搅拌1
‑
5小时，合成过程中保持密封，防止O2和H2O进入溶液；反应完成后降至室温，并持续搅拌2
‑
5小时。5.一种辅料自动检测方法，其特征在于，采用权利要求1
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4中任意一项所述的辅料自动检测装置，检测方法包括以下步骤：步骤一：量子点光源发射光信号；步骤二：使用光电探测器获取扫描范围内各个位置的光信号相位差；步骤三：使用CCD摄像头在疑似瑕疵位置进行扫描，获得局部二维图像信息；步骤...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐可信，叶立平，
申请(专利权)人：深圳市志奋领科技有限公司，
类型：发明
国别省市：