用于热成像的装置、系统和方法制造方法及图纸

在一个实施方案中，本发明专利技术公开了一种用于确定物体中目标物质的浓度的红外(IR)成像系统。该成像系统可以包括光学系统，该光学系统包括光学焦平面阵列(FPA)单元。光学系统可具有限定其至少两个光学通道的部件，所述至少两个光学通道彼此在空间上和光谱上不同。该至少两个光学通道中的每一者可被定位成将入射在光学系统上的IR辐射朝向光学FPA转移。该系统可包括包含处理器的处理单元，该处理单元可被配置为从在光学FPA处接收到的IR辐射采集表示所述目标物质的多光谱光学数据。所述光学系统和所述处理单元可一起包含在数据采集和处理模块中，该数据采集和处理模块被配置为由人佩戴或携带。戴或携带。戴或携带。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于热成像的装置、系统和方法
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求于2021年4月27日提交的名称为“用于热成像的装置、系统和方法(Apparatuses,Systems,And Methods For Thermal Imaging)”的美国专利申请号17/241,478的优先权，该专利申请要求于2020年6月23日提交的名称为“用于热成像的装置、系统和方法(Apparatuses,Systems,And Methods For Thermal Imaging)”的美国专利申请号63/042,809的优先权，2020年5月11日提交的名称为“用于热成像的装置、系统和方法(Apparatuses,Systems,And Methods For Thermal Imaging)”的美国专利申请号63/022,958的优先权，2020年5月4日提交的名称为“用于热成像的装置、系统和方法(Apparatuses,Systems,And Methods For Thermal Imaging)”的美国专利申请号63/019,937的优先权，以及2020年5月4本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种热成像系统，包括：红外(IR)成像器，所述红外成像器被配置为采集所述IR成像器的视场的IR图像数据；和视频分析电路系统，所述视频分析电路系统能够操作地耦合到所述IR成像器，其中所述视频分析电路系统被配置为：接收所述IR成像器的所述视场内的第一场基准的第一温度数据；接收所述IR成像器的所述视场内的第二场基准的第二温度数据；从所述IR成像器接收IR图像数据；以及基于所述第一温度数据、所述第二温度数据和所述IR图像数据校准所述IR成像器。2.根据权利要求1所述的系统，还包括温度控制室，所述温度控制室封闭所述IR成像器并被配置为热隔离所述IR成像器。3.根据权利要求2所述的系统，还包括所述IR成像器的透镜，所述透镜在容纳所述IR成像器的所述温度控制室与外部环境之间形成接口。4.根据权利要求3所述的系统，还包括支撑所述透镜的导热机械垫圈。5.根据权利要求1所述的系统，其中所述视频分析电路系统被进一步配置为：将所述第一温度数据与所述第一场基准的IR图像数据进行比较；将所述第二温度数据与所述第二场基准的IR图像数据进行比较；以及基于所述第一温度数据与所述第一场基准的所述IR图像数据之间的所述比较以及所述第二温度数据与所述第二场基准的所述IR图像数据之间的所述比较中的一者或多者来确定所述IR成像器的不确定性。6.根据权利要求1所述的系统，还包括热耦合到所述IR成像器的一个或多个温度控制元件。7.根据权利要求6所述的系统，其中所述一个或多个温度控制元件被配置为基于由所述视频分析电路系统确定的所述IR成像器的不确定性来修改所述IR成像器的操作温度。8.根据权利要求1所述的系统，其中所述视频分析电路系统被配置为：检测在所述IR成像器的所述视场内不存在所述第一场基准或所述第二场基准；以及生成请求重新定位所述IR成像器的用户通知。9.根据权利要求1所述的系统，还包括热耦合到所述IR成像器的一个或多个温度传感器，其中所述视频分析电路系统被进一步配置为：从所述一个或多个温度传感器接收...

【专利技术属性】
技术研发人员：T，
申请(专利权)人：瑞柏丽恩光子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：