显示模组测试设备和测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了显示模组测试设备和测试系统，涉及检测设备技术领域。其中，该显示模组测试设备，包括：外壳；光学探头，与外壳底部固定连接；及中空容置腔，沿第一方向开设于外壳内部；PCB，设置于中空容置腔，其中，PCB上集成设置有光学模块、测试模块和探头模块，探头模块与光学探头电连接，光学模块和测试模块分别与探头模块电连接；通过光学探头采集显示模组的光电信号，并将该信号反馈至PCB上的光学模块和测试模块进行光路测试和电学测试，以输出显示模组的测试数据。本实用新型专利技术，解决测试设备与光学检测设备采用独立组合模式，存在便携性不佳和组装复杂的问题。携性不佳和组装复杂的问题。携性不佳和组装复杂的问题。

【技术实现步骤摘要】
显示模组测试设备和测试系统


[0001]本技术涉及检测设备
，尤其涉及一种显示模组测试设备和测试系统。

技术介绍

[0002]随着显示模组产品应用越来越广，人们对于显示的质量要求也越来越高，目前在TFT LCD和AMOLED领域基本都会用到光学检测和gamma矫正等，通过这些设备能够让显示产品的质量能够有一个质的飞跃。但是，这些设备大多都是独立的组合使用模式，这在便携方面有很大的制约，同时需要链接的通讯端口或供电接口等方面也要单独提供。
[0003]针对相关技术中测试设备与光学检测设备采用独立组合模式，存在便携性不佳和组装复杂的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

技术实现思路

[0004]技术目的：提供一种显示模组测试设备和测试系统，以解决现有技术存在的上述问题。
[0005]技术方案：一种显示模组测试设备，包括：外壳；光学探头，与所述外壳底部固定连接；及中空容置腔，沿第一方向开设于所述外壳内部；PCB，设置于所述中空容置腔，其中，所述PCB上集成设置有光学模块、测试模块和探头模块，所述探头模块与所述光学探头电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.显示模组测试设备，其特征在于，包括：外壳(1)；光学探头(2)，与所述外壳(1)底部固定连接；及中空容置腔(3)，沿第一方向开设于所述外壳(1)内部；PCB(4)，设置于所述中空容置腔(3)，其中，所述PCB(4)上集成设置有光学模块(41)、测试模块(42)和探头模块(43)，所述探头模块(43)与所述光学探头(2)电连接，所述光学模块(41)和所述测试模块(42)分别与所述探头模块(43)电连接；通过所述光学探头(2)采集显示模组(11)的光电信号，并将该信号反馈至所述PCB(4)上的所述光学模块(41)和所述测试模块(42)进行光路测试和电学测试，以输出显示模组(11)的测试数据。2.根据权利要求1所述的显示模组测试设备，其特征在于，所述外壳(1)呈立式长方体形状。3.根据权利要求1所述的显示模组测试设备，其特征在于，所述中空容置腔(3)内沿所述第一方向设置有多个限位槽，用于限位和固定PCB(4)。4.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：张啟保，李胜坤，刘宏俊，吴磊，
申请(专利权)人：苏州清越光电科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：