一种多个nandFlash存储芯片同步高温测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置，包括壳体组件；活动设置在所述壳体组件中且贯穿所述壳体组件侧边的升降组件，其带动载具上的多个nand Flash存储芯片在纵向运动与测试控制组件接触电气连接；固定设置在所述壳体组件中且贯穿所述壳体组件正面的温控组件、按键组件和指示灯组件；固定设置在所述壳体组件中的多个风扇组件，其对所述壳体组件中的温度进行调节。本发明专利技术通过升降组件带动多个nand Flash存储芯片与测试控制组件电气连接，实现对多个nand Flash存储芯片高温RDT测试，提升了测试效率，一定程度上降低了人工测试成本，同时具有绿色环保低压高温功能。功能。功能。

【技术实现步骤摘要】
一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置


[0001]本专利技术涉及测试装置
，特别涉及一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置。

技术介绍

[0002]随着科技社会的不断发展，电子数码设备早已成为人们日常生活必不可少的物品，而随着电子设备的不断改进，为满足人们对电子设备的轻量化与便携式需求，人们对闪存的要求也在不断提升。但由于不同制造商生产的闪存质量有所不同，且仅由闪存的外观无法辨别其质量优劣，因此需要对闪存进行测试筛选，但面对市场上种类繁多且数量较多的闪存，传统单路检测的方法效率较低，需要消耗大量的人力物力。因此，如何通过有效措施提高对闪存的测试筛选效率。
[0003]公开号为CN214588041U提供了一种多路闪存测试筛选系统，该系统包括分流模块及若干个多路测试筛选模块，分流模块的输入端与上位机的输出端连接，分流模块的输出端与各多路测试筛选模块的输入端连接，各多路测试筛选模块的输出端均与上位机的输入端连接，分流模块，用于接收上位机发送的控制通讯信号，并将控制通讯信号分流成多路子控制通讯信号，多路测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置，其特征在于，包括壳体组件，其为中空腔体，所述壳体组件的正面设置有开口；活动设置在所述壳体组件中且贯穿所述壳体组件侧边的升降组件，其带动载具上的多个nand Flash存储芯片在纵向运动与测试控制组件接触电气连接；固定设置在所述壳体组件中且贯穿所述壳体组件正面的温控组件、按键组件和指示灯组件；所述温控组件对所述壳体组件中的温度进行实时监测和显示；所述指示灯组件显示多个所述nand Flash存储芯片的测试情况；固定设置在所述壳体组件中的多个风扇组件，其对所述壳体组件中的温度进行调节。2.根据权利要求1所述的一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置，其特征在于，所述升降组件包括支撑机构和升降机构，所述支撑机构固定设置在所述壳体组件中；所述升降机构活动设置在所述支撑机构中且依次贯穿所述支撑机构、所述壳体组件的侧边。3.根据权利要求2所述的一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置，其特征在于，所述升降机构包括多根导杆、两个下滑动座、摇杆、两个传动杆、两个上滑动座和支撑板；多根所述导杆对称设置在所述支撑机构中；两个所述下滑动座分别对称活动设置在相对应的所述导杆上；所述摇杆活动设置在两个所述下滑动座上且依次贯穿所述支撑机构、所述壳体组件的侧边；两个所述传动杆的两端分别连接相对应的所述下滑动座、所述上滑动座；两个所述上滑动座分别对称活动设置在相对应的所述导杆上且设置在相对应的所述下滑动座的上方；所述支撑板分别设置在两个所述上滑动座的上方且与两个所述上滑动座固定连接。4.根据权利要求3所述的一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置，其特征在于，所述升降机构进一步包括两个凸轮和两个限位块；两个所述凸轮对称固定设置在所述摇杆上；两个所...

【专利技术属性】
技术研发人员：李斌，任朝建，胡文婷，李芳，
申请(专利权)人：深圳市迈德迩半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：