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本发明公开了一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置,包括壳体组件;活动设置在所述壳体组件中且贯穿所述壳体组件侧边的升降组件,其带动载具上的多个nand Flash存储芯片在纵向运动与测试控制组件接触电气连接;固定设置在所述壳体...该专利属于深圳市迈德迩半导体有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市迈德迩半导体有限公司授权不得商用。
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本发明公开了一种多个nand Flash存储芯片同步高温测试装置,包括壳体组件;活动设置在所述壳体组件中且贯穿所述壳体组件侧边的升降组件,其带动载具上的多个nand Flash存储芯片在纵向运动与测试控制组件接触电气连接;固定设置在所述壳体...